Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (7)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Жарков, Сергей Михайлович$<.>)

Общее количество найденных документов : 232
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

    Юшкова, О. В.
    Разрушение и трансформация кристаллической решетки глинозема при механоактивации / О. В. Юшкова, В. И. Аникина, С. М. Жарков // Журн. СФУ. Сер. "Техника и технологии". - 2015. - Т. 8, Вып. 7. - С. 851-860 ; J. Sib. Fed. Univ. Eng. Technol.DOI 10.17516/1999-494X-2015-8-7-851-860
   Перевод заглавия: The destruction and transformation of the crystal lattice of alumina by mechanical activation
Кл.слова (ненормированные):
глинозем -- механоактивация -- alumina -- mechanical activation
Аннотация: Изучено влияние механоактивации (МА) глинозема на изменение параметров его кристаллической решетки и на скорость растворения в расплаве фторидов при электролизе Установлено изменение фазового состава – образование рентгеноаморфного глинозема после МА в планетарной и вибрационной мельницах. Изучены структурные изменения в механоактивированных оксидных фазах типа корунда на примере α-Al2O3. Снимками подтверждено, что преобладающей плоскостью скольжения в структуре корунда является базисная плоскость {111}
We studied the influence of mechanical activation (MA) of alumina to modify its crystal lattice and on the dissolution rate in molten fluorides during electrolysis. The changes in phase composition– education x-ray amorphous alumina after MA mills: planetary and vibratory. Studied structural changes in mechanically activated oxide phases such as alumina example, α-Al2O3. The images confirmed that the dominant slip plane in the structure of corundum is the basal plane {111}.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Siberian Federal University, 79 Svobodny, Krasnoyarsk, 660041, Russia
L.V. Kirensky Institute of Physics SB RAS, 50/38 Akademgorodok, Krasnoyarsk, 660036, Russia

Доп.точки доступа:
Аникина, В. И.; Aniquina V. I.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Yushkova O. V.

}
Найти похожие

    Эффекты обменного смещения и магнитной близости в трехслойных пленках FeNi/V2O3/FeNi / Г. С. Патрин, А. В. Кобяков, В. И. Юшков [и др.] // Магнитные материалы. Новые технологии : тез. докл. IX Байкал. междунар. конф. BICMM-2023 / чл. прогр. ком.: S. S. Aplesnin [et al.] ; чл. орг. ком. R. S. Iskhakov [et al.]. - Иркутск, 2023. - С. 71-72, DOI 10.26516/978-5-9624-2178-0.2023.1-207 . - ISBN 978-5-962402178-0
   Перевод заглавия: Effects of exchange bias and magnetic proximity in trilayer FeNi/V2O3/FeNi films

Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Аплеснин, Сергей Степанович \чл. прогр. ком.\; Aplesnin, S. S.; Балаев, Дмитрий Александрович \чл. прогр. ком.\; Balaev, D. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич \чл. прогр. ком.\; Ovchinnikov, S. G.; Исхаков, Рауф Садыкович \чл. орг. ком.\; Iskhakov, R. S.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Анисимов, И. О.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Семенов, Сергей Васильевич; Semenov, S. V.; Моисеенко, Евгений Тимофеевич; Байкальская международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии"(9 ; 2023 ; сент. ; 11-14 ; Байкальск); "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция(9 ; 2023 ; сент. ; 11-14 ; Байкальск); "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference(9 ; 2023 ; Sept. ; 11-14 ; Baikalsk); Иркутский государственный университет
}
Найти похожие

    Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста / И. А. Тарасов [и др.] // Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 4. - С. 220-224, DOI 10.26732/2618-7957-2018-4-220-224. - Библиогр.: 10. - Работа выполнена при финансовой поддержке программ Президиума РАН № 32, проект 0356-2018-0061, Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской академии наук, проект II.8.70. . - ISSN 2618-7957
   Перевод заглавия: Ellipsometric control of parameters of multilayer Fe/Si nanostructures during growth
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- силициды железа -- многослойные Fe/Si наноструктуры -- ellipsometry -- iron silicides -- multilayer Fe/Si nanostructures
Аннотация: С использованием метода одноволновой лазерной эллипсометрии in situ проведено исследование процесса формирования многослойной структуры [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100). Были получены сведения об оптических и структурных свойствах данной структуры. Изменение морфологии поверхности растущих слоев и их оптических характеристик оказываются неидентичными для случаев осаждения железа на поверхность слоя кремния и осаждения кремния на поверхность слоя железа. Полученные профили оптических постоянных свидетельствуют об увеличении толщины переходных слоев, содержащих твердые растворы «железо-кремний» и силициды. Характер изменения оптических постоянных усложняется с каждым последующим слоем железа, осаждаемым на поверхность кремния. Поведение профилей n и k, соответствующих формированию кремниевых слоев, имеет более простой характер по сравнению с поведением подобных профилей железа. Эти профили имеют лишь некоторые особенности на начальных этапах роста и соответствуют формированию аморфных слоев кремния. Полученные данные согласуются с данными просвечивающей электронной микроскопии.
Using in situ single-wave laser ellipsometry method, the formation of the [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100) multilayer structure was studied. Information about the optical and structural properties of this structure was obtained. The change in the morphology of the surface of the growing layers and their optical characteristics are not identical for the cases of iron deposition on the surface of the silicon layer and deposition of silicon on the surface of the iron layer. The refractive index and coefficient of absorption indicate an increase of the thickness of transition layers containing iron-silicon solid solutions and silicides. The nature of the change in the optical constants become more complicated with each subsequent iron layer deposited on the silicon surface. The behavior of n and k profiles corresponding to the formation of silicon layers is simpler than the behavior of similar iron profiles. These profiles have only some features at the initial stages of growth and correspond to the formation of amorphous silicon layers. The obtained data are consistent with the data of transmission electron microscopy.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. - 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48. - Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth [Текст] / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57 Is. 9.- P.1225-1229

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; Бондаренко, С. Г.; Bondarenko, S.G.; Терещенко, О. Е.
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста [Текст] / И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии" : 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60

Материалы школы
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа(6 ; 2013 ; июнь ; Екатеринбург)
}
Найти похожие

Электрохимические исследования высокодисперсных порошков на основе палладия [Текст] / О. В. Белоусов, Р. В. Борисов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения : труды Всерос. науч.-технич. конф. с междунар. участием, 15-16 октября 2009 г., Красноярск. - Красноярск : СФУ, 2009. - С. 141-143

Материалы конференции,
Обложка
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Белоусов, О. В. ; Борисов, Р. В. ; Жарков, Сергей Михайлович; Парфенов, В. А. ; Жижаев, А. М. ; "Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы", Всероссийская научно-техническая конференция(5 ; 2009 ; сент. ; Красноярск); Ставеровские чтения(5 ; 2009 ; сент. ; Красноярск)
}
Найти похожие

Экспериментальное исследование магнитного кругового дихроизма наночастиц Ni в SiO[[d]]2[[/d]], полученных методом ионной имплантации / Д. А. Петров [и др.] // Новое в магнетизме и магнитных материалах : сборник трудов XXII международной конференции. - Астрахань, 2012. - С. 408-409

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Петров, Дмитрий Анатольевич; Petrov, D.A.; Иванцов, Руслан Дмитриевич; Ivantsov, R.D.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Гумаров, Г. Г.; Нуждин, В. И.; Валеев, В. Ф.; Степанов, Андрей Львович; Эдельман, Ирина Самсоновна; Edelman, I. S.; Российская академия наук; Научный совет по физике конденсированных сред РАН; Институт физики твердого тела РАН; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова; Астраханский государственный университет ; "Новое в магнетизме и магнитных материалах", международная конференция (22 ; 2012 ; сент. ; 17-23 ; Астрахань)
}
Найти похожие

Экспериментальное исследование коэффициентов переноса водных суспензий наноалмазов / М. И. Пряжников, А. В. Минаков, А. И. Лямкин [и др.] // Коллоид. журн. - 2020. - Т. 82, № 6. - С. 725-732, DOI 10.31857/S0023291220060105. - Библиогр.: 31. - Работа выполнена в рамках государственного задания Министерства науки и высшего образования РФ (проект № FSRZ-2020-0012) . - ISSN 0023-2912
Аннотация: В работе представлены результаты экспериментальных исследований коэффициентов вязкости, теплопроводности, электропроводности и спектров поглощения суспензий ультрадисперсных алмазов. В экспериментах использовали суспензии частиц детонационных наноалмазов УДА-С и УДП-А, а также алмазографитового порошка УДП-АГ. Концентрацию наноалмазов в дистиллированной воде варьировали от 0.5 до 5 мас. %. Показано, что технология очистки порошков алмаза от побочных продуктов синтеза существенно сказывается на физико-химических свойствах водных суспензий этих порошков.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Experimental Study of Transport Coefficients of Aqueous Suspensions of Nanodiamonds [Текст] / M. I. Pryazhnikov, A. V. Minakov, A. I. Lyamkin [et al.] // Colloid J. - 2020. - Vol. 82 Is. 6.- P.705-712

Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, 660041 Красноярск, Свободный просп., 79, Россия
Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе СО РАН, 630090 Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 1, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского, ФИЦ КНЦ СО РАН, 660036 Красноярск, Академгородок, 50/38, Россия

Доп.точки доступа:
Пряжников, М. И.; Минаков, А. В.; Лямкин, А. И.; Редькин, В. Е.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Зеер, Г. М.
}
Найти похожие

Формирование фаз и микроструктуры керамики на основе ZnO и TiO2 / Г. М. Зеер [и др.] // Стекло и керамика. - 2015. - № 7. - С. 16-19. - Библиогр.: 15 . - ISSN 0131-9582
Аннотация: С использованием нанопорошков оксидов цинка и титана получены образцы керамики Zn 2TiO 4-ZnO. Методами электронной микроскопии изучено фазообразование, а также микроструктура и элементный состав формирующихся фаз. Рассчитаны плотность и пористость, оценены размеры зерен и пор керамики. Определена температура, при которой формируется титанат цинка. Показано, что она соответствует температуре спекания электроконтактных материалов данного состава. Титанат и оксид цинка предполагается использовать как дугогасящую и дисперсноупрочняющую добавку в электроконтактных материалах на основе меди.

РИНЦ

Переводная версия Formation of phases and microstructure of ZnO and TiO2 based ceramic [Текст] / G. M. Zeer [et al.] // Glass Ceram. : Springer, 2015. - Vol. 72 Is. 7-8.- P.242-245

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Зеер, Г. М.; Зеленкова, Е. Г.; Николаева, Н. С.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Почекутов, С. И.; Ледяева, О. Н.; Сартпаева, А. Б.; Михеев, А. А.
}
Найти похожие

10.

Формирование интерметаллида Cu6Sn5 в тонких пленках Cu/Sn / Л. Е. Быкова, С. М. Жарков, В. Г. Мягков [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2021. - Т. 63, Вып. 12. - С. 2205-2209, DOI 10.21883/FTT.2021.12.51685.139. - Библиогр.: 16. - Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 19-43-240003). Электронно-микроскопические исследования проведены в Красноярском региональном центре коллективного пользования ФИЦ КНЦ СО РАН и лаборатории электронной микроскопии ЦКП СФУ, поддержанной в рамках государственного задания Министерства науки и высшего образования Российской Федерации (код научной темы FSRZ-2020-0011) . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- интерметаллид Cu6Sn5 -- просвечивающая электронная микроскопия -- дифракция электронов
Аннотация: Исследовано формирование интерметаллида Cu6Sn5 в двухслойных тонких пленках Sn(55 nm)/Cu(30 nm) при нагреве непосредственно в колонне просвечивающего электронного микроскопа (режим дифракции электронов) от комнатной температуры до 300°C с фиксацией электронограмм. Полученные в результате твердофазной реакции пленки были монофазными и состояли из гексагональной η-Cu6Sn5 фазы. Установлен температурный интервал образования η-Cu6Sn5 фазы (95-260°C). На основании проведенной оценки эффективного коэффициента взаимной диффузии при реакции (5·10-16 m2/s) предположено, что основным механизмом образования тонких пленок Cu6Sn5 является диффузия по границам зерен и дислокациям. Ключевые слова: тонкие пленки, интерметаллид Cu6Sn5, просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Formation of the Cu6Sn5 intermetallics in Cu/Sn thin films [Текст] / L. E. Bykova, S. M. Zharkov, V. G. Myagkov [et al.] // Phys. Solid State. - 2022. - Vol. 64 Is. 2.- P.33-37

Переводная версия Formation of Cu6Sn5 intermetallic in Cu/Sn thin films [Текст] / L. E. Bykova, S. M. Zharkov, V. G. Myagkov [et al.] // Phys. Solid State. - 2022. - Vol. 64 Is. 14.- P.2414-2418

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Быкова, Людмила Евгеньевна; Bykova, L. E.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Мягков, Виктор Григорьевич; Myagkov, V. G.; Балашов, Юрий Юрьевич; Balashov, Yu. Yu.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.
}
Найти похожие