Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)
Общее количество найденных документов : 126
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур/Н. Н. Косырев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.334
2.

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
3.

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
4.

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
5.

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Косырев Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.] // Журнал структурной химии, 2010. т.Т. 51,N № 1.-С.104-108
6.

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009. -Новосибирск, 2009.-С.45
7.

Физика низкоразмерных систем и поверхностей/Рос. акад. наук, Ин-т радиотехники и электроники , Юж. фед. ун-т, Кабардино-Балк. гос. ун-т. Международный междисциплинарный симпозиум "Физика низкоразмерных систем и поверхностей" (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону). - 2010
8.

Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения/Науч.-технич. конф. с междунар. участием, Сиб. федер. ун-т, Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Краснояр. науч. центр, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Ин-т химии и хим. технологии, Ин-т вычислит. моделирования, Ин-т биофизики. - 2009
9.

Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co/А. В. Кобяков [и др.] // Журнал технической физики, 2019. т.Т. 89,N Вып. 2.-С.268-273
10.

Способ определения матрицы мюллера/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда // Изобретения. Полезные модели, 2016. т.№ 13
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)