Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 126
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур / Н. Н. Косырев [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Швец, Василий Александрович; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. - 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48. - Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth [Текст] / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57 Is. 9.- P.1225-1229

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; Бондаренко, С. Г.; Bondarenko, S.G.; Терещенко, О. Е.
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста [Текст] / И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии" : 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60

Материалы школы
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа(6 ; 2013 ; июнь ; Екатеринбург)
}
Найти похожие

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н. Н. Косырев [и др.] // Журн. техн. физ. - 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers [Текст] / N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59 Is. 5.- P.736-739

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.
}
Найти похожие

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии / Косырев Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.] // Журнал структурной химии. - 2010. - Т. 51, № 1. - С. 104-108

Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Швец, В.А.; Рыхлицкий, С.В.; Спесивцев, Е.В.; Прокофьев, .Ю.
}
Найти похожие

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии / Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009 : Новосибирск, 11-16 окт. 2009 г. : тезисы докл. - Новосибирск, 2009. - С. 45

Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Швец, В. А.; Рыхлицкий, С. В.; Спесивцев, Е. В.; Прокопьев, В. Ю.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2009 ; ; Новосибирск)
}
Найти похожие

    Физика низкоразмерных систем и поверхностей : труды / Рос. акад. наук, Ин-т радиотехники и электроники , Юж. фед. ун-т, Кабардино-Балк. гос. ун-т. Международный междисциплинарный симпозиум "Физика низкоразмерных систем и поверхностей" (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону) ; сопред. орг. ком., предс. межд. прогр. ком. Ю. М. Гуфан. - Ростов н/Д : Изд-во СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ. - 500 экз. - ISBN 978-5-87872-560-6 : Б. ц.
Перевод заглавия: Low dimensional systems (LDS-2)
    Содержание:
Заблуда, Владимир Николаевич. In situ спектральный магнитоэллипсометр / В. Н. Заблуда, Н. Н. Косырев. - С .92
Паршин, Александр Михайлович. Ориентационные изменения структуры нематического жидкого кристалла на поверхности полимера при фазовом разделении в магнитном поле / А. М. Паршин [и др.]. - С .71
Другие авторы: Гуняков В. А., Зырянов В. Я., Шабанов, Василий Филиппович
Наумкин, Н. С. Исследование границ раздела молекулярных блоков эпоксидного полимера / Н. С. Наумкин [и др.]. - С .298
Другие авторы: Шестаков Н.П., Иваненко А. А., Бурова О. В., Шестаков А. Б.
Столяр, Сергей Викторович. Способы выделения и магнитные свойства наночастиц ферригидрита биогенного происхождения / С. В. Столяр [и др.]. - С .130
Другие авторы: Баюков О. А., Исхаков Р. С., Ищенко Л. А., Ладыгина В.П., Кондратьева А. А.
Вальков, Валерий Владимирович. Влияние триплетных состояний на спектр коллективных спин-поляронных возбуждений в 2D решетке Кондо / В. В. Вальков, А. А. Шкляев, М. М. Коровушкин. - С .44
Гребенькова, Юлия Эрнестовна. Наноструктуры Ni-Ge: морфология и магнитные свойства / Ю. Э. Гребенькова [и др.]. - С .66
Другие авторы: Черниченко А. В., Марущенко Д. А., Великанов, Дмитрий Анатольевич, Турпанов, Игорь Александрович, Заблуда, Владимир Николаевич, Патрин, Геннадий Семёнович
Чжан, Анатолий Владимирович. Особенности магнитооптических эффектов в пленках Co-P, полученных химическим осаждением / А. В. Чжан [и др.]. - С .290
Другие авторы: Патрин Г. С., Середкин В. А., Кипарисов Сергей Яковлевич, Буркова, Людмила Викторовна, Задворный А. Г.
Вальков, Валерий Владимирович. Квантовые флуктуации в двухмерном антиферромагнетике с четырехспиновым взаимодействием кубической симметрии / В. В. Вальков, Т. А. Валькова, А. А. Шкляев. - С .47
   Перевод заглавия: Low dimensional systems (LDS-2)

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Гуфан, Юрий Михайлович \сопред. орг. ком.\; Великанов, Дмитрий Анатольевич; Турпанов, Игорь Александрович; Заблуда, Владимир Николаевич; Патрин, Геннадий Семёнович; Шабанов, Василий Филиппович; Ищенко, Л. А.; Ладыгина, Валентина Петровна; Кондратьева, А. А.; Кипарисов, Семен Яковлевич; Буркова, Людмила Викторовна; Задворный, А. Г.; Бурова, О. В.; Шестаков, А. Б.; Российская академия наук; Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН; Южный федеральный университет; Кабардино-Балкарский государственный университет; "Физика низкоразмерных систем и поверхностей", Международный междисциплинарный симпозиум (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону)
Свободных экз. нет}
Найти похожие

Косырев, Николай Николаевич.
Ферромагнетизм при комнатной температуре в двухслойной структуре Dy[1-x]Ni[x]/Ni: магнитооптические измерения in situ / Н. Н. Косырев, С. Г. Овчинников // Письма в "Журн. эксперим. и теор. физ.". - 2008. - Т. 88, Вып. 1-2. - С. 152-154 . - ISSN 0370-274X

ГРНТИ

29.19.39

Аннотация: Исследованы in situ двухслойные структуры Dy[1-x]Ni[z]/Ni непосредственно в сверхвысоковакуумной камере в процессе напыления с помощью поверхностного меридионального эффекта Керра по оригинальной методике. Показано ферромагн. упорядочение в слое сплава Dy[1-x]Ni[x] при комнатной температуре

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Kosyrev, N. N.
}
Найти похожие

Косырев, Николай Николаевич.
Установка для магнитооптических эллипсометрических исследований in situ магнитных наноструктур / Н. Н. Косырев ; науч. рук. С. Г. Овчинников // Конференция молодых ученых : сб. трудов / Рос. акад. наук [и др.]. - Красноярск, 2008. - С. 48-51

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Овчинников, Сергей Геннадьевич \науч. рук.\; Ovchinnikov, S. G.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАНКрасноярский научный центр Сибирского отделения РАН; Конференция молодых ученых КНЦ СО РАН(11 ; 2008 ; апр. ; 16 ; Красноярск)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие

10.

Косырев, Николай Николаевич.
Установка для магнитооптических эллипсометрических исследований in situ магнитных наноструктур / Н. Н. Косырев // Конференция молодых ученых / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Краснояр. науч. центр. Конференция молодых ученых КНЦ СО РАН (11 ; 2008 ; апр. ; 16 ; Красноярск). - Красноярск, 2008. - С. 48

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шабанов, Василий Филиппович \предс. орг. ком.\; Shabanov, V. F.; Москвичев, Владимир Викторович \зам. предс. орг. ком.\; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие