Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 126
Показаны документы с 1 по 20

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/К 72 рукописный текст
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Магнитооптический эллипсометрический комплекс для получения и исследования наноструктур в установке молекулярно-лучевой эпитаксии : дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 : защищена 12.12.2008
Выходные данные : Красноярск, 2008
Колич.характеристики :102 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: 94 назв.
ГРНТИ : 29.19.16 + 29.03.31 + 29.03.39 + 29.03.35 + 29.19.22
ББК : В371.26с5я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Швец, Василий Александрович, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Косырев, Николай Николаевич, Бондаренко, Геннадий Васильевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
Место публикации : Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83, Вып. 10. - С. 139-142
Аннотация: Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Lvaschenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhkitskii S. V., Latyshev A. V., Saranin A. A.
Заглавие : The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 105. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Lyashchenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhlitskii S. V.
Заглавие : In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers
Место публикации : Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P.1529-1532. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784213100162
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.
Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677!-787146821
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие : Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) .- Введ. с 24.09.2012
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178!-896702604
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) .- Введ. с 26.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013

Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович, Бондаренко С. Г., Терещенко О. Е.
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48
Примечания : Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Рыхлицкий С. В., Швец, Василий Александрович, Спесивцев Е. В., ПРокопьев В. Ю., Овчинников, Сергей Геннадьевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие : Измерительно-ростовой комплекс для синтеза и исследования in situ материалов спинтроники
Место публикации : Приборы и техника эксперимента. - М.: Наука, 2012. - № 2. - С. 165-166. - ISSN 0032-8162
Аннотация: Описан комплекс, предназначенный для многоцелевой характеризации моно- и многослойных структур полупроводниковой спинтроники, содержащих слои ферромагнитных материалов.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Rishlicky S. V., Shvets V. A.
Заглавие : In-situ and in-time spectral magneto-ellipsometer : Abstract
Коллективы : "Functional Materials", International Conference , Taurida National V. I. Vernadsky University
Место публикации : Functional materials: Abstracts/ ed. V. N. Berzhansky. - Simferopol, 2013. - Ст.EP2-12P/3. - P.480. - ISBN 978-966-491-465-6
Материалы конференции
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashenko S. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry
Коллективы : Workshop Ellipsometry (7; 2012 ; март ; 5-7; Leipzig, Germany)
Место публикации : 7th Workshop on Ellipsometry: abstract book. - 2012. - P. - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .
Материалы конференции
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Zabluda V. N., Shvets V. A., Rykhkitsky S. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
Коллективы : International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6; 2013 ; May ; 26-31; Kyoto, Japan)
Место публикации : 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013): Conf. programm and abstr. - 2013. - P.205
Материалы конференции
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста
Коллективы : "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа
Место публикации : 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии": 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60
Материалы школы
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Швец, Василий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Варнаков, Сергей Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Швец, Василий Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 128. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 221-222. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Shvets V. A., Rykhlitsky S. V.
Заглавие : In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers
Коллективы : International conference nanomaterials: applications and properties
Место публикации : Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P.03AET11
Материалы конференции
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2011610242!-617098716
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Градиент SE .- Введ. с 11.01.2011
Коллективы : Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2011
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Varnakov S. N., Yakovlev I. A., Zharkov S. M., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis
Коллективы : Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications (9 -13 Sept. 2013; San Sebastian, Spain)
Место публикации : Donostia Int. Conf. on Nanoscaled Magnetism and Applications: Abstracts book. - 2013. - Ст.P1-27. - P.260
Материалы конференции
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Швец, Василий Александрович, Михайлов Н. Н., Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - ISSN 0044-4642
Примечания : Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Zharkov S. M., Shvets V. A., Bondarenko S. G., Tereshchenko O. E.
Заглавие : Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth
Место публикации : Tech. Phys.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57, Is. 9. - P.1225-1229. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784212090241
Примечания : Cited References: 18. - This work was supported by Integration Project no. 22 of the Siberian and Far East Branches, Russian Academy of Sciences; a program of the Presidium of the Russian Academy of Sciences (project no. 27), the Federal Target Program "Human Capital for Science and Education in Innovative Russia" for 2009-2013, and the program "Spintronics" (project no. 4) of the Department of Physical Sciences, Russian Academy of Sciences.
Аннотация: An algorithm is developed to perform rapid control of the thickness and optical constants of a film structure during growth. This algorithm is tested on Fe/SiO2/Si(100) structures grown in an Angara molecular-beam epitaxy setup. The film thicknesses determined during their growth are compared with X-ray spectral fluorescence analysis and transmission electron microscopy data.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие