|
|
1.
| Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур/Н. Н. Косырев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.334
|
2.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
3.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
|
4.
| Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
|
5.
| Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Косырев Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.] // Журнал структурной химии, 2010. т.Т. 51,N № 1.-С.104-108
|
6.
| Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009. -Новосибирск, 2009.-С.45
|
7.
| Физика низкоразмерных систем и поверхностей/Рос. акад. наук, Ин-т радиотехники и электроники , Юж. фед. ун-т, Кабардино-Балк. гос. ун-т. Международный междисциплинарный симпозиум "Физика низкоразмерных систем и поверхностей" (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону). - 2010
|
8.
| Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения/Науч.-технич. конф. с междунар. участием, Сиб. федер. ун-т, Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Краснояр. науч. центр, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Ин-т химии и хим. технологии, Ин-т вычислит. моделирования, Ин-т биофизики. - 2009
|
9.
| Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co/А. В. Кобяков [и др.] // Журнал технической физики, 2019. т.Т. 89,N Вып. 2.-С.268-273
|
10.
| Способ определения матрицы мюллера/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда // Изобретения. Полезные модели, 2016. т.№ 13
|
11.
| Способ измерения магнитооптических эффектов in situ/Н. Н. Косырев [и др.]. // Изобретения. Полезные модели, 2015. т.№ 23
|
12.
| Способ бесконтактного измерения температуры in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2018. т.№ 19
|
13.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
14.
| Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW)/И. А. Тарасов [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
15.
| Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW)/авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2015. т.№ 7
|
16.
| Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co/А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники. -Уфа, 2018.-С.185-185
|
17.
| Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO/А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, 2018.-С.185
|
18.
| Синтез и магнитные свойства трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi/Г. С. Патрин [и др.] // Нанофизика и наноэлектроника, 2016. т.Т. 1.-С.238-239
|
19.
| Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсометрическими методами in situ/Н. Н. Косырев, Д. А. Шевцов [и др.] // Решетневские чтения. -Красноярск, 2010. т.Ч. 2.-С.582-583
|
20.
| Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсо метрическими методами in situ/Д. В. Шевцов, Н. Н. Косырев [и др.] // Магнитные материалы. Новые технологии: BICMM 2010. -Иркутск, 2010.-С.163-164
|
|
|
|
|
 Стандартный Расширенный Профессиональный Распределенный По словарю ГРНТИ-навигатор УДК-навигатор Тематический навигатор
Другие библиотеки
 Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
|
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН