|
1.
| Косырев Н. Н. Магнитооптический эллипсометрический комплекс для получения и исследования наноструктур в установке молекулярно-лучевой эпитаксии/Н. Н. Косырев ; науч. рук. С. Г. Овчинников. - 2008
|
2.
| Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами/С. А. Лященко [и др.] // Журнал технической физики, 2013. т.Т. 83,N Вып. 10.-С.139-142
|
3.
| The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films/S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.105
|
4.
| In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers/S. A. Lyashchenko [et al.] // Technical Physics, 2013. т.Vol. 58,N Is. 10.-С.1529-1532
|
5.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
6.
| Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW)/И. А. Тарасов [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
7.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
8.
| Измерительно-ростовой комплекс для синтеза и исследования in situ материалов спинтроники/С. В. Рыхлицкий [и др.] // Приборы и техника эксперимента. -М.:Наука, 2012. т.№ 2.-С.165-166
|
9.
| In-situ and in-time spectral magneto-ellipsometer/V. N. Zabluda [et al.] // Functional materials. -Simferopol, 2013.- Ст.EP2-12P/3.-С.480
|
10.
| Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
|
11.
| Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
|
12.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
|
13.
| Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур/Н. Н. Косырев [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.334
|
14.
| Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур/С. Н. Варнаков [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.128
|
15.
| Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур/О. А. Максимова [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.221-222
|
16.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
17.
| Градиент SE/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2011
|
18.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
19.
| Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
|
20.
| Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
|
|
|
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) Стандартный ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) Расширенный ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) Профессиональный ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) Распределенный ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) По словарю ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) ГРНТИ-навигатор ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) УДК-навигатор ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/search_navy.gif) Тематический навигатор
Другие библиотеки
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Библиотека института биофизики
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Библиотека института химии и химический технологии
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Библиотека института вычислительного моделирования
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Библиотека института леса
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Библиотека СФУ
![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/db_orange.gif) Краевая научная библиотека
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий (Ассоциация ЭБНИТ)
|
|