Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (17)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Паршин, Анатолий Сергеевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 26
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-26

Спектроскопия характеристических потерь энергии отраженных электронов в тонких пленках системы Fe[x]Si[1-x] / А. С. Паршин [и др.] // Письма в журн. техн. физ. - 2008. - Т. 34, Вып. 9. - С. 41-48. - Библиогр.: 14 назв. - Работа выполнена в рамках комплексного интеграционного проекта СО РАН 3.5, программы ОФН РАН „Спинтроника“, при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 07-03-00320), ФЦП по лоту 2007-3-1.3-24-01-286 . - ISSN 0320-0116

ГРНТИ

29.19.21

Аннотация: Из экспериментальных спектров характеристич. потерь энергии отраженных электронов в тонких пленках системы Fe[x]Si[1-x] (0'

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Reflection electron-energy-loss spectroscopy of FexSi1-x thin films [Текст] / A. S. Parshin [et al.] // Tech. Phys. Lett. : MAIK NAUKA/INTERPERIODICA/SPRINGER, 2008. - Vol. 34 Is. 5.- P381-383

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Александрова, Галина Алексеевна; Aleksandrova, G. A.; Долбак, А.Е.; Пчеляков, О. П.; Pchelyakov O. P.; Ольшанецкий, Б.З.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Кущенков, С. А.; Kuschenkov S. A.
}
Найти похожие

Структурные и магнитные характеристики однослойных и многослойных пленок Fe/Si, полученных термическим испарением в сверхвысоком вакууме / С. Н. Варнаков [и др.] // Письма в журн. техн. физ. - 2005. - Т. 31, Вып. 22. - С. 1-8 . - ISSN 0320-0116
Аннотация: Представлены результаты исследований структурных и магн. характеристик однослойных и многослойных пленок Fe/Si с нанометровыми слоями, полученных термич. испарением в сверхвывоком вакууме. Исследования проведены методами малоуглового рентгеновского рассеяния, электронной спектроскопии и магнитометрии. Анализ эксперим. результатов указывает на то, что механизмы формирования интерфейсов на границах раздела Fe/Si и Si/Fe различны

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Rafaja, D.; Kalvoda, L.; Балаев, Александр Дмитриевич; Balaev, A. D.; Комогорцев, Сергей Викторович; Komogortsev, S. V.
}
Найти похожие

Исследование магнитных слоистых наноструктур Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов / А. С. Паршин [и др.] // Поверхность. - 2007. - № 8. - С. 33-36 . - ISSN 0207-3528

ГРНТИ

29.19.39

Аннотация: Представлены результаты исследования слоистых структур Fe/Si и Si/Fe с разной толщиной верхнего слоя методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Предложен новый способ оценки объемных долей компонентов бинарной системы в рамках модели диэлектрической эффективной среды

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Александрова, Галина Алексеевна; Aleksandrova, G. A.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Кущенков, С. А.; Kuschenkov S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Магнитооптические эффекты и оже-спектроскопия двухслойных пленок NiFe-Dy, Fe-Dy с неоднородными слоями / И. С. Эдельман [и др.] // Физ. мет. и металловед. - 2001. - Т. 91, Вып. 3. - С. 60-68 . - ISSN 0015-3230

ГРНТИ

29.19.39

Аннотация: Исследованы магнитооптич. эффекты (магнитный круговой дихроизм и меридиональный эффект Керра) и распределение элементов по толщине слоев в двуслойных пленках NiFe-Dy и Fe-Dy, полученных термич. распылением компонент в сверхвысоком вакууме. Показано, что в интервале температур 80-300 К Dy в двуслойной пленке дает постоянные вклады в оба исследованных эффекта, приблизительно равные величины эффектов, наблюдаемых в изолированной пленке Dy только при температурах, меньших температуры T[c]-перехода Dy в ферромагн. состояние (для исследованных пленок T[c]'ЭКВИВ'100 К). Предполагается, что такое поведение магнитооптич. эффектов обусловлено влиянием спиновой системы слоя NiFe на магн. состояние слоя Dy, усиленным проникновением ионов Ni и Fe в слой Dy на большую глубину, как это следует из данных, полученных с помощью оже-электронной спектроскопии

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Эдельман, Ирина Самсоновна; Edelman, I. S.; Марков, Владимир Витальевич; Markov, V. V.; Кеслер, В. Г.; Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Худяков, А. Е.; Иванцов, Руслан Дмитриевич; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Ронжин, И. П.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Размерные эффекты и намагниченность многослойных пленочных наноструктур (Fe/Si)[n] / С. Н. Варнаков [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2007. - Т. 49, Вып. 8. - С. 1401-1405. - Библиогр.: 26 назв. . - ISSN 0367-3294

ГРНТИ

29.19.39

Аннотация: Приводятся результаты исследований температурной зависимости намагниченности многослойных пленок (Fe/Si)[n] со слоями нанометровых толщин. Пленки получены методом термич. испарения в сверхвысоком вакууме на подложках монокристаллич. кремния Si(100) и Si(111). Обнаружена зависимость величины намагниченности и ее температурного хода в пленках (Fe/Si)[n] от толщины индивидуального слоя Fe. Показано, что эта зависимость является следствием образования химич. интерфейса на границах раздела Fe-Si. Оценены характеристики интерфейса в пленках (Fe/Si)[n]

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Size effects and magnetization of (Fe/Si)(n) multilayer film nanostructures [Текст] / S. N. Varnakov [et al.] // Phys. Solid State : MAIK NAUKA/INTERPERIODICA/SPRINGER, 2007. - Vol. 49 Is. 8.- P1470-1475

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Bartolome, J.; Sese, J.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Комогорцев, Сергей Викторович; Komogortsev, S. V.; Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A. S.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Bondarenko, G. V.
}
Найти похожие

Паршин, Анатолий Сергеевич.
Моделирование сечения неупругого рассеяния отраженных электронов в системе пленка-подложка из диэлектрической теории / А. С. Паршин, С. А. Кущенков, Г. А. Александрова // Новое в магнетизме и магнитных материалах : сб. трудов XXI междунар. конф., 28 июня - 4 июля 2009 г., Москва / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. - Москва, 2009. - С. 83-85 . - ISBN 5-8279-0020-6

Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Трухин, Владимир Ильич \сопредс. орг. ком.\; Прозорова, Людмила Андреевна \сопредс. орг. ком.\; Хохлов, Дмитрий Романович \сопредс. орг. ком.\; Лисовский, Федор Викторович \предс. прогр. ком.\; Звездин, Анатолий Константинович \зам. предс. прогр. ком.\; Шалыгина, Елена Евгеньевна \зам. предс. прогр. ком.\; Акципетров, Олег Андреевич \чл. прогр. ком.\; Исхаков, Рауф Садыкович \чл. прогр. ком.\; Iskhakov, R. S.; Овчинников, Сергей Геннадьевич \чл. прогр. ком.\; Ovchinnikov, S. G.; Эдельман, Ирина Самсоновна \чл. прогр. ком.\; Edelman, I. S.; Кущенков, С. А.; Kuschenkov S. A.; Александрова, Галина Алексеевна; Aleksandrova, G. A.; "Новое в магнетизме и магнитных материалах", международная конференция(21 ; 2009 ; июнь-июль ; Москва); Российская академия наук; Научный совет по физике конденсированных сред РАН; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие

    Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов и сечение неупругого рассеяния в анализе слоистых структур системы Fe-Si [Текст] / А. С. Паршин [и др.] // Журнал структурной химии. - 2009. - Т. 50, № 3. - С. 451-455 . - ISSN 0136-7463
   Перевод заглавия: Analysis of Fe?Si layered structures by reflected electron energy loss spectroscopy and inelastic scattering cross-section

ГРНТИ	29.19
УДК	538.971	543.428

Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия потерь энергии отраженных электронов -- сечение неупругого рассеяния -- средняя длина неупругого свободного пробега электрона -- reflected electron energy loss spectroscopy -- inelastic scattering cross-section -- mean length of the inelastic free path of an electron
Аннотация: В работе представлено исследование формирования интерфейса слоистых структур системы Fe-Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Количественный элементный анализ осуществлен с использованием произведения средней длины неупругого свободного пробега на сечение неупругого рассеяния электронов. Показано, что интерфейс Fe-Si достаточно однороден.
This paper reports on our study of the formation of an interface of layered structures in the Fe-Si system by reflected electron energy loss spectroscopy (REELS). Quantitative element analysis was performed using the product of the mean length of the inelastic free path by the inelastic scattering cross-section of electrons. It is shown that the Fe-Si interface is quite uniform.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева

Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Александрова, Галина Алексеевна; Варнаков, Сергей Николаевич; Овчинников, Сергей Геннадьевич
}
Найти похожие

Reflection electron energy loss spectroscopy of structures based on silicon and transition metals / A. S. Parshin [et al.] // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. - 2017. - Vol. 255, Is. 1. - Ст. 012019, DOI 10.1088/1757-899X/255/1/012019. - Cited References: 24
Кл.слова (ненормированные):
Dissociation -- Electron emission -- Electron energy levels -- Electron scattering -- Electrons -- Energy dissipation -- Iron -- Iron compounds -- Silicides -- Silicon compounds -- Transition metals
Аннотация: The investigation of iron silicides FeSi2, FeSi and Fe5Si3 with the methods of reflection electron energy loss spectroscopy and inelastic electron scattering cross-section spectroscopy was carried out. It is shown that the shape and peak energy position of electron energy loss spectra are almost identical to silicides with different composition, while the amplitude of inelastic electron scattering cross-section spectra decreases with increasing of iron content. The decomposition of inelastic electron scattering cross-section spectra of FeSi2, FeSi and Fe5Si3 to Tougaard peaks is used for unresolved energy loss peaks analysis, determination its energies and identification bulk and surface peaks. The amplitude of fitting peak describing bulk plasmon excitation can be used for identification of the iron silicides with different composition.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Parshin, A. S.; Паршин, Анатолий Сергеевич; Igumenov, A. Y.; Mikhlin, Y. L.; Михлин, Юрий Леонидович; Pchelyakov, O. P.; Zhigalov, V. S.; Жигалов, Виктор Степанович; International Scientific Conference Reshetnev Readings(20 ; 2016 ; Nov. 9-12 ; Krasnoyarsk)
}
Найти похожие

Новые возможности количественного анализа в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов структур Fe/Si / А. С. Паршин [и др.] // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, Вып. 5. - С. 69-74. - Библиогр.: 15 назв. - Работа выполнена в рамках проекта АВЦП РНП ВШ 2.1.1.3656, Интеграционного проекта СО РАН — ДВО РАН № 22, Программы ОФН „Спинтроника“, ФЦП „Научные и научно-педагогические кадры инновационной России“ на 2009–2013 гг. . - ISSN 0044-4642

ГРНТИ

29.19.19

Аннотация: На примере слоистых структур Fe/(100)Si показана возможность определения элементного состава, химич. состояния и распределения элементов по толщине приповерхн. области из результатов компьютерного моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в рамках диэлектрич. теории и эксперим. определения произведения средней длины неупругого пробега на сечение неупругого рассеяния электронов по потерям энергии из спектров потерь энергии отраженных электронов

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия New Opportunities for Quantitative Analysis as Applied to Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy of Fe/Si Structures [Текст] / A. S. Parshin [et al.] // Tech. Phys. - 2011. - Vol. 56 Is. 5.- P.656-661

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Кущенков, С. А.; Kuschenkov S. A.; Александрова, Галина Алексеевна; Aleksandrova, G. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

10.

Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов моносилицида железа / А. С. Паршин [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2016. - Т. 59, № 10. - С. 82-86. - Библиогр.: 15 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
силициды железа -- моносилицид железа -- спектроскопия сечения неупругого рассеяния электронов -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронов -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Исследованы рентгеновские фотоэлектронные спектры, спектры характеристических потерь и сечения неупругого рассеяния электронов моносилицида железа FeSi. Показано, что спектры сечения неупругого рассеяния электронов имеют преимущества в изучении процессов потерь энергии электронов по сравнению со спектрами потерь энергии отраженных электронов. Анализ тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов позволил выявить неразрешенные пики, определить их энергии, интенсивность и природу. Различия между энергиями подгоночных пиков потерь в спектрах сечения неупругого рассеяния электронов для FeSi и чистого Fe существеннее, чем химические сдвиги в рентгеновских фотоэлектронных спектрах, что отражает возможность применения тонкой структуры спектров сечения неупругого рассеяния электронов для элементного анализа.

РИНЦ

Переводная версия Reflection electron energy loss spectroscopy of iron monosilicide [Текст] / A. S. Parshin [et al.] // Russ. Phys. J. : Springer, 2017. - Vol. 59 Is. 10.- P.1610-1615

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
Институт химии и химической технологии СО РАН
Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М.Ф. Решетнева

Доп.точки доступа:
Паршин, Анатолий Сергеевич; Игуменов, Александр Юрьевич; Михлин, Юрий Леонидович; Пчеляков, Олег Петрович; Жигалов, Виктор Степанович; Zhigalov, V. S.
}
Найти похожие