Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Тамбасов, Игорь Анатольевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 99
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Описание изобретения к патенту 2681587 Российская Федерация

Способ нанесения нанопленочного покрытия на подложку / Е. В. Тамбасова [и др.]. - № 2018102453 ; Заявл. 22.01.2018 ; Опубл. 11.03.2019 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2019. - № 8
Аннотация: Изобретение относится к способу нанесения нанопленочного покрытия на подложку и может быть использовано для получения нанопокрытий на поверхностях различных подложек при невысокой температуре. Осуществляют импульсно-плазменное напыление с лазерным поджигом. Используют импульсный режим работы эксимерного ультрафиолетового лазера и собственные ионы материала мишени для создания рабочей плазмы. Используют ультрафиолетовое излучение с прецизионно низкой мощностью для начального поджига при создании рабочей плазмы и используют импульсный режим работы источника питания магнетрона с временем работы меньше, чем частота следования лазерных импульсов. Техническим результатом изобретения является улучшение оптических и структурных свойств напыляемых покрытий за счет использования плазмы из собственных ионов распылительной мишени и использования прецизионно низкой мощности лазерного излучения. 1 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тамбасова, Екатерина Витальевна; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Мягков, Виктор Григорьевич; Myagkov, V. G.; Жигалов, Виктор Степанович; Zhigalov, V. S.; Мацынин, Алексей Александрович; Matsynin, A. A.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Создана первая российская установка для синтеза тонких оксидных пленок. - Электрон. текстовые дан. // Наука в Сибири : газета Сибирского отделения Российской Академии Наук. - 2019. - 4 дек.
Аннотация: Красноярские ученые создали установку для формирования прозрачных оксидных пленок с регулируемой толщиной. Благодаря особенностям конструкции, на ней можно быстрее и эффективнее, чем на большинстве зарубежных аналогов устройства, проводить синтез химических покрытий на неорганической основе. Установка разработана в рамках реализации гранта Российского научного фонда по исследованию термоэлектрических свойств оксидных наноструктурированных материалов.

Смотреть статью,
Смотреть статью
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тамбасов, Игорь Анатольевич \о нем\; Группа научных коммуникаций ФИЦ КНЦ СО РАНИнститут физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие

Красноярские физики получили стипендии Президента РФ для молодых ученых и аспирантов. - Электрон. текстовые дан. // Официальный сайт ФИЦ КНЦ СО РАН. - 2019. - Новости, 5 июля

Смотреть статью
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович \о нем\; Яковлев, Иван Александрович \о нем\; Тамбасов, Игорь Анатольевич \о нем\; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие

Thermoelectric properties of low-cost transparent single wall carbon nanotube thin films obtained by vacuum filtration / I. A. Tambasov [et al.] // Physica E. - 2019. - Vol. 114. - Ст. 113619, DOI 10.1016/j.physe.2019.113619. - Cited References: 53. - The study was carried out by a grant of Russian Science Foundation (project No. 17-72-10079). The electron microscopy examination was carried out at the Center for Collective Use of the Krasnoyarsk Scientific Center of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (Krasnoyarsk, Russia). V.A.E. and E.D.O. thank RFFI-18-32-00998_mol_a and RFFI-19-02-00859_a projects for support of development of two aqueous phase technique for nanotube separation. . - ISSN 1386-9477
Кл.слова (ненормированные):
Single-wall carbon nanotubes -- Aqueous two-phase extraction -- Semiconducting and metallic SWNTs -- Thin SWNT films -- Thermoelectric properties -- Thermoelectric figure of merit
Аннотация: The dispersions of semiconducting (sc-) and metallic (m-) SWCNTs with purity more than 98 and 86%, correspondingly, were obtained by using the aqueous two-phase extraction method. The unseparated (un-) SWCNTs contained ~3/4 of semiconducting and ~1/4 of metallic nanotubes. Thin films based on unseparated, semiconducting and metallic SWCNTs were prepared by vacuum filtration method. An Atomic Force Microscopy (AFM) and a Transmission Electronic Microscopy (TEM) were used to investigate the thin film microstructure. The thin SWCNT film transmittance was measured in the wavelength range of 300–1500 nm. Thermoelectric properties were carried out in the temperature range up to 200 °C. The largest Seebeck coefficient was observed for thin films based on semiconducting SWCNTs. The maximum value was 98 μV/K under the temperature of 170 °C. The lowest resistivity was 7.5·10−4·Ohm·cm at room temperature for thin un-SWCNT films. The power factor for m-SWCNT and un-SWCNT films was 47 and 213 μW m−1 K−2, correspondingly, at room temperature and 74 and 54 μW m−1 K−2 at 200 °C, respectively. For a thin sc-SWCNT film the maximum power factor was 2.8 μW m−1 K−2 at 160 °C. The un-SWCNT film thermal conductivity coefficient was 5.63 and 3.64 W m−1 K−1 and a thermoelectric figure of merit was 0.011 and 0.016 at temperatures of 23 and 50 °C, respectively.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Akademgorodok 50, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Krasnoyarsk Scientific Center, Federal Research Center KSC Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Akademgorodok 50, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Institute of Chemistry and Chemical Technology, Federal Research Center KSC Siberian Branch of Russian Academy of Sciences, Akademgorodok 50, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Reshetnev Siberian State University of Sciences and Technologies, Krasnoyarsky Rabochy Avenue 31, Krasnoyarsk, 660037, Russian Federation
Siberian Federal University, Svobodny Avenue 79, Krasnoyarsk, 660041, Russian Federation
Prokhorov General Physics Institute of RAS, Vavilov Street 38, Moscow, 119991, Russian Federation
Moscow Institute of Physics and Technology, Institutskiy per.9, Dolgoprudny, Moscow Region, 141701, Russian Federation
Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod, Gagarin Avenue 23/3, Nizhny Novgorod, 603950, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Tambasov, I. A.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Voronin, A. S.; Evsevskaya, N. P.; Volochaev, M. N.; Волочаев, Михаил Николаевич; Fadeev, Y. V.; Simunin, M. M.; Aleksandrovsky, A. S.; Александровский, Александр Сергеевич; Smolyarova, T. Е.; Abelian, S. R.; Абелян, Сергей Рубенович; Tambasova, E. V.; Gornakov, M. O.; Горнаков, М. О.; Eremina, V. A.; Kuznetsov, Y. M.; Dorokhin, M. V.; Obraztsova, E. D.
}
Найти похожие

Structural, Optical, and Thermoelectric Properties of the ZnO:Al Films Synthesized by Atomic Layer Deposition / I. A. Tambasov [et al.] // Phys. Solid State. - 2019. - Vol. 61, Is. 10. - P. 1904-1909, DOI 10.1134/S1063783419100354. - Cited References: 33. - This study was supported by the Russian Science Foundation, project no. 17-72-10079. . - ISSN 1063-7834
Кл.слова (ненормированные):
atomic layer deposition -- thin films -- aluminum-doped zinc oxide -- structural and optical properties -- thermoelectric properties
Аннотация: Aluminum-doped zinc oxide thin films have been grown by atomic layer deposition at a temperature of 200°C. Using X-ray diffraction, it has been established that the ZnO:Al thin films exhibits the reflections from the (100), (002), (110), and (201) ZnO hexagonal phase planes. The (101) and (102) planes have also been detected by electron diffraction. The ZnO:Al thin films grow smooth with a root-mean-square roughness of Rq = 0.33 nm and characteristic nanocrystallite sizes of ~70 and ~15 nm without additional aluminum or aluminum oxide phases. The transmission at a wavelength of 550 nm with regard to the substrate has been found to be 96%. The refractive indices and absorption coefficients of the ZnO:Al thin films in the wavelength range of 250–900 nm have been determined. The maximum refractive indices and absorption coefficients have been found to be 2.09 at a wavelength of 335 nm and 0.39 at a wavelength of 295 nm, respectively. The optical band gap is 3.56 eV. The resistivity, Seebeck coefficient, and power factor of the ZnO:Al thin films are ∼1.02 × 10–3 Ω cm, –60 μV/K, and 340 μW m–1 K–2 at room temperature, respectively. The maximum power factor attains 620 μW m–1 K–2 at a temperature of 200°C.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке

Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Krasnoyarsk Scientific Center, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Krasnoyarsk Scientific Center, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Institute of Chemistry and Chemical Technology, Krasnoyarsk Scientific Center, Siberian Branch,Russian Academy of Sciences, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Siberian State University of Science and Technology, Krasnoyarsk, 660014, Russian Federation
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, 660041, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Tambasov, I. A.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Volochaev, M. N.; Волочаев, Михаил Николаевич; Voronin, A. S.; Evsevskaya, N. P.; Евсевская, Н. П.; Masyugin, A. N.; Масюгин, Альберт Николаевич; Aleksandrovskii, A. S.; Александровский, Александр Сергеевич; Smolyarova, T. E.; Nemtsev, I. V.; Немцев, Иван Васильевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Bondarenko, G. N.; Tambasova, E. V.
}
Найти похожие

Структурные, оптические и термоэлектрические свойства тонких ZnO:Al пленок, полученных атомно-слоевым осаждением / И. А. Тамбасов [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2019. - Т. 61, Вып. 10. - С. 1941-1947, DOI 10.21883/FTT.2019.10.48274.455. - Библиогр.: 33. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда (проект No 17-72-10079). . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
атомно-слоевое осаждение -- тонкие пленки -- легированный алюминием оксид цинка -- структурные и оптические свойства -- термоэлектрические свойства
Аннотация: Тонкие пленки оксида цинка легированного алюминием были выращены с помощью атомно-слоевого осаждения при температуре 200°С. С помощью рентгеновской дифракции было обнаружено, что тонкие ZnO:Al пленки имеют пики от плоскостей (100), (002), (110) и (201) гексагональной фазы ZnO. Плоскости (101) и (102) были обнаружены также с помощью электронной дифракции. Тонкие ZnO:Al пленки растут гладкими со среднеквадратичной шероховатостью Rq равной 0.33 nm и характерными размерами нанокристаллита ~70 и ~15 nm без дополнительных фаз связанных с алюминием или оксидами алюминия. Пропускание на длине волны 550 nm с учетом подложки составляло ~96%. Были найдены коэффициенты преломления и поглощения тонких ZnO:Al пленок в диапазоне длин волн 250-900 nm. Максимальные значения для коэффициентов преломления и поглощения были 2.09 на длине волны 335 nm и 0.39 на длине волны 295 nm соответственно. Оптическая ширина запрещeнной зоны составляла 3.56 eV. Удельное сопротивление, коэффициент Зеебека и фактор мощности тонких ZnO:Al пленок составляли ~1.02·10-3 Ohm·cm, ~-60μV/K и 340 μW·m-1·K-2 при комнатной температуре соответственно. Максимальный фактор мощности достигал 620 μW·m-1·K-2 при температуре 200°C.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Красноярский научный центр, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Воронин, А. С.; Евсевская, Н. П.; Evsevskaya N. P.; Масюгин, Альберт Николаевич; Александровский, Александр Сергеевич; Aleksandrovskii, A. S.; Смолярова, T. E.; Немцев, Иван Васильевич; Nemtsev, I. V.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Бондаренко, Г. Н.; Тамбасова, Е. В.
}
Найти похожие

Методы определения параметров кристаллической решетки опалоподобных структур / Немцев И.В., Тамбасов И.А., Иваненко А.А., Шабанова О.В., Зырянов В.Я. // 3-я Всероссийская научная конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов» (МИССФМ-2020) : 1-4 сент. 2020, Новосибирск : сб. тез. докл. - Новосибирск, 2020. - Ст. УД-IV-3. - С. 113-114. - Библиогр.: 4 . - ISBN 978-5-906376-29-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Немцев, Иван Васильевич; Nemtsev, I. V.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Иваненко, Александр Анатольевич; Ivanenko, A. A.; Шабанова, О. В.; Зырянов, Виктор Яковлевич; Zyryanov, V. Ya.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; Новосибирский государственный университет; Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН; Новосибирский институт органической химии им. Н. Н. Ворожцова СО РАН; Институт неорганической химии им. А.В. Николаева Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(3 ; 2020 ; сент. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

Опалоподобные структуры на основе субмикросфер полиметилметакрилата / И.В. Немцев, О.В. Шабанова, И.А. Тамбасов, А.А. Иваненко, В.Я. Зырянов // Сборник трудов XVIII Всероссийской школы-семинара «Физика и применение микроволн» имени профессора А.П. Сухорукова (Волны-2020). - 2020. - Секция 1: Метаматериалы и фотонные кристаллы. - С. 35-38. - Библиогр.: 7. - Мы благодарны Красноярскому региональному центру коллективного пользования ФИЦ КНЦ СО РАН за предоставленное оборудование: РЭМ высокого разрешения FE-SEM Hitachi S-5500 и ИК-Фурье спектрометр Bruker VERTEX 80V.

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Немцев, Иван Васильевич; Nemtsev, I. V.; Шабанова, О. В.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Иваненко, Александр Анатольевич; Ivanenko, A. A.; Зырянов, Виктор Яковлевич; Zyryanov, V. Ya.; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова; Российский фонд фундаментальных исследований; Волны-2020, Всероссийская школа-семинар "Волновые явления в неоднородных средах" имени А. П. Сухорукова(18 ; 2020 ; 23-28 авг. ; Можайск, Московская обл.); "Волновые явления в неоднородных средах", Всероссийская школа-семинар имени А. П. Сухорукова(18 ; 2020 ; 23-28 авг. ; Можайск, Моск. обл.)
}
Найти похожие

    Опалоподобные структуры на основе субмикросфер полиметилметакрилата / И. В. Немцев, О. В. Шабанова, И. А. Тамбасов [и др.] // Ученые зап. физ. фак-та МГУ. - 2020. - № 5. - Ст. 2050101. - Библиогр.: 18 . - ISSN 2307-9665
   Перевод заглавия: Opal-like structures based on polymethylmethacrylate submicrospheres
Кл.слова (ненормированные):
самосборка -- метаматериал -- фотонный кристалл -- опал -- фотонная запрещенная зона -- электронная микроскопия -- инфракрасная спектроскопия -- self-assembly -- metamaterial -- photonic crystal -- opal -- photonic band gap -- electron microscopy -- infrared spectroscopy
Аннотация: В данной работе методом самосборки из частиц полиметилметакрилата субмикронного размера с полидисперсностью менее 5% изготовлены двумерные и трехмерные метаматериалы - коллоидные кристаллы. Морфологические особенности полученных образцов исследованы на сканирующем электронном микроскопе сверхвысокого разрешения FE-SEM Hitachi S-5500. Три различные области поверхности трехмерного опала исследованы с помощью спектроскопии отраженного света с угловым разрешением. Измерения спектров проводились в диапазоне 400-1250 нм. Вышеуказанными методами обнаружена высокоупорядоченная структура. Выявлено узкое гранулометрическое распределение частиц. Определены средний диаметр частиц, плотность упаковки, добротность и отражательная способность образцов. На основе экспериментальных спектров отражения выполнена аппроксимация зависимости максимальной длины волны отражательной способности от угла, используя модифицированный закон Брэгга-Снеллиуса. На основании данной зависимости определены длина волны максимума отражения при нормальном падении, диаметр частиц и плотность упаковки. Рассчитана длина волны центра фотонной запрещенной зоны для высокоупорядоченной поверхности при нормальном падении. Экспериментально измеренная полная ширина пика на полувысоте для наилучшего образца составила 70 нм, а добротность - 12.4. Рассчитанный коэффициент заполнения для высокоупорядоченного опала составил 87 %. Средний диаметр частиц, полученный при помощи аппроксимации спектров отражения, отлично согласуется со значениями, полученными с помощью электронной микроскопии. Наиболее интересный результат заключается в том, что отражающая способность поверхности при нормальном падении света может достигать 98 %, и эта величина зависит от коэффициента заполнения - плотности упаковки.
In this paper, 2D and 3D metamaterials based on colloidal crystals are made from submicron-sized polymethylmethacrylate particles with a polydispersity of less than 5%. Morphological features of the obtained samples were studied using an ultra-highresolution FE-SEM Hitachi S-5500 scanning electron microscope. Three different surface areas of a three-dimensional opal was investigated using spectroscopy of the reflected light with the angular resolution. The spectra were measured in the range of 400- 1250 nm. The above methods revealed a highly ordered structure. A narrow particle size distribution was revealed. The average particle diameter, packing density, q-factor, and reflectivity of the samples were determined. Based on the experimental reflection spectra, the dependence of the maximum reflectivity wavelength on the angle is approximated using the modified Bragg-Snell law. Based on this dependence, the wavelength of the maximum reflection at normal incidence, the particle diameter, and the packing density are determined. The wavelength of the center of the photonic band gap is calculated for a highly ordered surface at normal incidence. The experimentally measured full width of the peak at half-height for the best sample was 70 nm, and the q factor was 12.4. The calculated filling factor for the highly ordered opal was 87%. The average particle diameter obtained by approximating the reflection spectra is in perfect agreement with the values obtained by electron microscopy. The most interesting result is that the reflectivity of the surface at normal light incidence can reach 98%, and this value depends on the filling factor the density of the package.

Смотреть статью,
РИНЦ
Держатели документа:
Федеральный исследовательский центр «Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук»
Специальное конструкторско-технологическое бюро «Наука» Федеральный исследовательский центр «Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук»
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН

Доп.точки доступа:
Немцев, И. В.; Шабанова, О. В.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Иваненко, Александр Анатольевич; Ivanenko, A. A.; Зырянов, Виктор Яковлевич; Zyryanov, V. Ya.
}
Найти похожие

10.

Experimental study of the thermal conductivity of single-walled carbon nanotube-based thin films / I. A. Tambasov, A. S. Voronin, N. P. Evsevskaya [et al.] // Phys. Solid State. - 2020. - Vol. 62, Is. 6. - P. 1090-1094, DOI 10.1134/S1063783420060311. - Cited References: 21. - This study was supported by the Russian Foundation for Basic Research, the Government of the Krasnoyarsk Territory, and the Krasnoyarsk Territorial Foundation for Support of Scientific and R&D Activity, project Study of the Thermal Conductivity and Structural Features in Nanostructured Oxide Thin Films Promising for Thermoelectric Applications no. 18-42-243010 and the Scholarships of the President of the Russian Federation (SP-2235.2019.1). . - ISSN 1063-7834. - ISSN 1090-6460

РУБ Physics, Condensed Matter
Рубрики:
THERMOELECTRIC PROPERTIES
TRANSPORT-PROPERTIES
Кл.слова (ненормированные):
single-walled carbon nanotubes -- vacuum filtration -- thin films -- thermal conductivity
Аннотация: The single-walled carbon nanotube-based thin films with a thickness from 11 ± 3 to 157 ± 18 nm have been formed using vacuum filtration. The thermal conductivity of the thin films as a function of thickness and temperature up to 450 K has been studied by the 3ω technique. It has been found that, in the region of 49 nm, the supplied heat from a gold strip started propagating with the high efficiency to the thin film plane. The thermal conductivity of the thin films with a thickness of 49 ± 8 nm was measured using the 3ω technique for bulk samples. It has been found that the thermal conductivity of the single-walled carbon nanotube-based thin films strongly depends on their thickness and temperature. The thermal conductivity sharply (by a factor of ~60) increases with an increase in thickness from 11 ± 3 to 65 ± 4 nm. In addition, it has been observed that the thermal conductivity of the thin film with a thickness of 157 ± 18 nm rapidly decreases from 211 ± 11 to 27.5 ± 1.4 W m–1 K–1 at 300 and 450 K, respectively.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Экспериментальное исследование коэффициента теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок [Текст] / И. А. Тамбасов, А. С. Воронин, Н. П. Евсевская [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2020. - Т. 62 Вып. 6. - С. 960-964

Держатели документа:
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Krasnoyarsk Sci Ctr, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Russian Acad Sci, Krasnoyarsk Sci Ctr, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Russian Acad Sci, Inst Chem & Chem Technol, Krasnoyarsk Sci Ctr, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Nizhnii Novgorod State Univ, Res Inst Phys & Technol, Nizhnii Novgorod 603950, Russia.
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Siberian State Univ Sci & Technol, Krasnoyarsk 660014, Russia.

Доп.точки доступа:
Tambasov, I. A.; Тамбасов, Игорь Анатольевич; Voronin, A. S.; Evsevskaya, N. P.; Kuznetsov, Yu M.; Luk'yanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Tambasova, E. V.; Gornakov, M. O.; Горнаков, М. О.; Dorokhin, M., V; Loginov, Yu Yu; Russian Foundation for Basic ResearchRussian Foundation for Basic Research (RFBR); Government of the Krasnoyarsk Territory; Krasnoyarsk Territorial Foundation for Support of Scientific and RD Activity [18-42-243010]; Russian FederationRussian Federation [SP-2235.2019.1]
}
Найти похожие