Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Тамбасов, Игорь Анатольевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 99
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37 рукописный текст
Автор(ы) : Тамбасов, Игорь Анатольевич
Заглавие : Тонкие In2O3,Fe-In2O3 и Fe3O4-ZnO пленки, полученные твердофазными реакциями: структурные, оптические, электрические и магнитные свойства : автореф. дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :22 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Институт химии и химической технологии Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.16
Смотреть автореферат
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Г 62 рукописный текст
Автор(ы) : Тамбасов, Игорь Анатольевич
Заглавие : Тонкие In2O3,Fe-In2O3 и Fe3O4-ZnO пленки, полученные твердофазными реакциями: структурные, оптические, электрические и магнитные свойства : дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :116 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.16
ББК : В371.26я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

Вид документа :
Шифр издания :
Заглавие : Красноярские физики получили стипендии Президента РФ для молодых ученых и аспирантов [Электронный ресурс]
Место публикации : Официальный сайт ФИЦ КНЦ СО РАН. - 2019. - Новости, 5 июля
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
Примечания : Загл. с домашней страницы Интернета
Смотреть статью
Найти похожие

Вид документа : Статья из газеты
Шифр издания :
Заглавие : Создана первая российская установка для синтеза тонких оксидных пленок [Электронный ресурс]
Коллективы : Группа научных коммуникаций ФИЦ КНЦ СО РАН
Место публикации : Наука в Сибири: газета Сибирского отделения Российской Академии Наук. - 2019. - 4 дек.
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
Примечания : Загл. с домашней страницы Интернета
Аннотация: Красноярские ученые создали установку для формирования прозрачных оксидных пленок с регулируемой толщиной. Благодаря особенностям конструкции, на ней можно быстрее и эффективнее, чем на большинстве зарубежных аналогов устройства, проводить синтез химических покрытий на неорганической основе. Установка разработана в рамках реализации гранта Российского научного фонда по исследованию термоэлектрических свойств оксидных наноструктурированных материалов.
Смотреть статью,
Смотреть статью
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tambasov I. A., Volochaev M. N., Voronin A. S., Evsevskaya N. P., Masyugin A. N., Aleksandrovskii A. S., Smolyarova T. E., Nemtsev I. V., Lyashchenko S. A., Bondarenko G. N., Tambasova E. V.
Заглавие : Structural, Optical, and Thermoelectric Properties of the ZnO:Al Films Synthesized by Atomic Layer Deposition
Место публикации : Phys. Solid State. - 2019. - Vol. 61, Is. 10. - P.1904-1909. - ISSN 10637834 (ISSN), DOI 10.1134/S1063783419100354
Примечания : Cited References: 33. - This study was supported by the Russian Science Foundation, project no. 17-72-10079.
Аннотация: Aluminum-doped zinc oxide thin films have been grown by atomic layer deposition at a temperature of 200°C. Using X-ray diffraction, it has been established that the ZnO:Al thin films exhibits the reflections from the (100), (002), (110), and (201) ZnO hexagonal phase planes. The (101) and (102) planes have also been detected by electron diffraction. The ZnO:Al thin films grow smooth with a root-mean-square roughness of Rq = 0.33 nm and characteristic nanocrystallite sizes of ~70 and ~15 nm without additional aluminum or aluminum oxide phases. The transmission at a wavelength of 550 nm with regard to the substrate has been found to be 96%. The refractive indices and absorption coefficients of the ZnO:Al thin films in the wavelength range of 250–900 nm have been determined. The maximum refractive indices and absorption coefficients have been found to be 2.09 at a wavelength of 335 nm and 0.39 at a wavelength of 295 nm, respectively. The optical band gap is 3.56 eV. The resistivity, Seebeck coefficient, and power factor of the ZnO:Al thin films are ∼1.02 × 10–3 Ω cm, –60 μV/K, and 340 μW m–1 K–2 at room temperature, respectively. The maximum power factor attains 620 μW m–1 K–2 at a temperature of 200°C.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тамбасов, Игорь Анатольевич, Волочаев, Михаил Николаевич, Воронин А. С., Евсевская Н. П., Масюгин, Альберт Николаевич, Александровский, Александр Сергеевич, Смолярова T. E., Немцев, Иван Васильевич, Лященко, Сергей Александрович, Бондаренко Г. Н., Тамбасова Е. В.
Заглавие : Структурные, оптические и термоэлектрические свойства тонких ZnO:Al пленок, полученных атомно-слоевым осаждением
Место публикации : Физ. тверд. тела. - 2019. - Т. 61, Вып. 10. - С. 1941-1947. - ISSN 0367-3294, DOI 10.21883/FTT.2019.10.48274.455
Примечания : Библиогр.: 33. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда (проект No 17-72-10079).
Аннотация: Тонкие пленки оксида цинка легированного алюминием были выращены с помощью атомно-слоевого осаждения при температуре 200°С. С помощью рентгеновской дифракции было обнаружено, что тонкие ZnO:Al пленки имеют пики от плоскостей (100), (002), (110) и (201) гексагональной фазы ZnO. Плоскости (101) и (102) были обнаружены также с помощью электронной дифракции. Тонкие ZnO:Al пленки растут гладкими со среднеквадратичной шероховатостью Rq равной 0.33 nm и характерными размерами нанокристаллита ~70 и ~15 nm без дополнительных фаз связанных с алюминием или оксидами алюминия. Пропускание на длине волны 550 nm с учетом подложки составляло ~96%. Были найдены коэффициенты преломления и поглощения тонких ZnO:Al пленок в диапазоне длин волн 250-900 nm. Максимальные значения для коэффициентов преломления и поглощения были 2.09 на длине волны 335 nm и 0.39 на длине волны 295 nm соответственно. Оптическая ширина запрещeнной зоны составляла 3.56 eV. Удельное сопротивление, коэффициент Зеебека и фактор мощности тонких ZnO:Al пленок составляли ~1.02·10-3 Ohm·cm, ~-60μV/K и 340 μW·m-1·K-2 при комнатной температуре соответственно. Максимальный фактор мощности достигал 620 μW·m-1·K-2 при температуре 200°C.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2681587!-351056503
Автор(ы) : Тамбасова, Екатерина Витальевна, Тамбасов, Игорь Анатольевич, Мягков, Виктор Григорьевич, Жигалов, Виктор Степанович, Мацынин, Алексей Александрович
Заглавие : Способ нанесения нанопленочного покрытия на подложку .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2019. - № 8
Аннотация: Изобретение относится к способу нанесения нанопленочного покрытия на подложку и может быть использовано для получения нанопокрытий на поверхностях различных подложек при невысокой температуре. Осуществляют импульсно-плазменное напыление с лазерным поджигом. Используют импульсный режим работы эксимерного ультрафиолетового лазера и собственные ионы материала мишени для создания рабочей плазмы. Используют ультрафиолетовое излучение с прецизионно низкой мощностью для начального поджига при создании рабочей плазмы и используют импульсный режим работы источника питания магнетрона с временем работы меньше, чем частота следования лазерных импульсов. Техническим результатом изобретения является улучшение оптических и структурных свойств напыляемых покрытий за счет использования плазмы из собственных ионов распылительной мишени и использования прецизионно низкой мощности лазерного излучения. 1 ил.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Немцев, Иван Васильевич, Тамбасов, Игорь Анатольевич, Иваненко, Александр Анатольевич, Шабанова О. В., Зырянов, Виктор Яковлевич
Заглавие : Методы определения параметров кристаллической решетки опалоподобных структур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН, Новосибирский государственный университет, Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН, Новосибирский институт органической химии им. Н. Н. Ворожцова СО РАН, Институт неорганической химии им. А.В. Николаева Сибирского отделения РАН
Место публикации : 3-я Всероссийская научная конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов» (МИССФМ-2020): 1-4 сент. 2020, Новосибирск : сб. тез. докл. - Новосибирск, 2020. - Ст.УД-IV-3. - С. 113-114. - ISBN 978-5-906376-29-9
Примечания : Библиогр.: 4
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Немцев, Иван Васильевич, Шабанова О. В., Тамбасов, Игорь Анатольевич, Иваненко, Александр Анатольевич, Зырянов, Виктор Яковлевич
Заглавие : Опалоподобные структуры на основе субмикросфер полиметилметакрилата [Электронный ресурс]
Коллективы : Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Российский фонд фундаментальных исследований, Волны-2020, Всероссийская школа-семинар "Волновые явления в неоднородных средах" имени А. П. Сухорукова, "Волновые явления в неоднородных средах", Всероссийская школа-семинар имени А. П. Сухорукова
Место публикации : Сборник трудов XVIII Всероссийской школы-семинара «Физика и применение микроволн» имени профессора А.П. Сухорукова (Волны-2020). - 2020. - Секция 1: Метаматериалы и фотонные кристаллы. - С. 35-38
Примечания : Библиогр.: 7. - Мы благодарны Красноярскому региональному центру коллективного пользования ФИЦ КНЦ СО РАН за предоставленное оборудование: РЭМ высокого разрешения FE-SEM Hitachi S-5500 и ИК-Фурье спектрометр Bruker VERTEX 80V.
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Немцев И. В., Шабанова О. В., Тамбасов, Игорь Анатольевич, Иваненко, Александр Анатольевич, Зырянов, Виктор Яковлевич
Заглавие : Опалоподобные структуры на основе субмикросфер полиметилметакрилата
Место публикации : Ученые зап. физ. фак-та МГУ. - 2020. - № 5. - Ст.2050101. - ISSN 2307-9665 (eISSN)
Примечания : Библиогр.: 18
Аннотация: В данной работе методом самосборки из частиц полиметилметакрилата субмикронного размера с полидисперсностью менее 5% изготовлены двумерные и трехмерные метаматериалы - коллоидные кристаллы. Морфологические особенности полученных образцов исследованы на сканирующем электронном микроскопе сверхвысокого разрешения FE-SEM Hitachi S-5500. Три различные области поверхности трехмерного опала исследованы с помощью спектроскопии отраженного света с угловым разрешением. Измерения спектров проводились в диапазоне 400-1250 нм. Вышеуказанными методами обнаружена высокоупорядоченная структура. Выявлено узкое гранулометрическое распределение частиц. Определены средний диаметр частиц, плотность упаковки, добротность и отражательная способность образцов. На основе экспериментальных спектров отражения выполнена аппроксимация зависимости максимальной длины волны отражательной способности от угла, используя модифицированный закон Брэгга-Снеллиуса. На основании данной зависимости определены длина волны максимума отражения при нормальном падении, диаметр частиц и плотность упаковки. Рассчитана длина волны центра фотонной запрещенной зоны для высокоупорядоченной поверхности при нормальном падении. Экспериментально измеренная полная ширина пика на полувысоте для наилучшего образца составила 70 нм, а добротность - 12.4. Рассчитанный коэффициент заполнения для высокоупорядоченного опала составил 87 %. Средний диаметр частиц, полученный при помощи аппроксимации спектров отражения, отлично согласуется со значениями, полученными с помощью электронной микроскопии. Наиболее интересный результат заключается в том, что отражающая способность поверхности при нормальном падении света может достигать 98 %, и эта величина зависит от коэффициента заполнения - плотности упаковки.In this paper, 2D and 3D metamaterials based on colloidal crystals are made from submicron-sized polymethylmethacrylate particles with a polydispersity of less than 5%. Morphological features of the obtained samples were studied using an ultra-highresolution FE-SEM Hitachi S-5500 scanning electron microscope. Three different surface areas of a three-dimensional opal was investigated using spectroscopy of the reflected light with the angular resolution. The spectra were measured in the range of 400- 1250 nm. The above methods revealed a highly ordered structure. A narrow particle size distribution was revealed. The average particle diameter, packing density, q-factor, and reflectivity of the samples were determined. Based on the experimental reflection spectra, the dependence of the maximum reflectivity wavelength on the angle is approximated using the modified Bragg-Snell law. Based on this dependence, the wavelength of the maximum reflection at normal incidence, the particle diameter, and the packing density are determined. The wavelength of the center of the photonic band gap is calculated for a highly ordered surface at normal incidence. The experimentally measured full width of the peak at half-height for the best sample was 70 nm, and the q factor was 12.4. The calculated filling factor for the highly ordered opal was 87%. The average particle diameter obtained by approximating the reflection spectra is in perfect agreement with the values obtained by electron microscopy. The most interesting result is that the reflectivity of the surface at normal light incidence can reach 98%, and this value depends on the filling factor the density of the package.
Смотреть статью,
РИНЦ
Найти похожие