Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>) |
Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов [и др.] // Космические аппараты и технологии, 2018. т.Т. 2,N № 4.-С.220-224
|
2.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
3.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
|
4.
| Экспериментальное и теоретическое исследование слоистых ферромагнитных структур методом спектральной in situ магнитоэллипсометрии/О. А. Максимова [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2019. т.Т. 110,N № 3-4.-С.155-162
|
5.
| Способ получения суперпарамагнитных наночастиц на основе силицида железа Fe3Si с модифицированной поверхностью/С. А. Лященко, И. А. Яковлев, И. А. Тарасов // Изобретения. Полезные модели, 2020. т.№ 4
|
6.
| Способ получения нанокристаллов силицида железа α-FeSi 2 с изменяемой преимущественной ориентацией/И. А. Тарасов [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2019. т.№ 8
|
7.
| Способ измерения магнитооптических эффектов in situ/Н. Н. Косырев [и др.]. // Изобретения. Полезные модели, 2015. т.№ 23
|
8.
| Способ бесконтактного измерения температуры in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2018. т.№ 19
|
9.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
10.
| Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW)/И. А. Тарасов [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
|
|