Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>) |
Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов, И. А. Тарасов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск:СФУ, 2009.-С.187
|
2.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск, 2009.-С.187-188
|
3.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
4.
| Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
|
5.
| Автоматизация магнитоэллипсометрических in situ измерений на сверхвысоковакуумном комплексе для синтеза и исследования материалов спинтроники/С. А. Лященко [и др.] // Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева, 2012. т.№ 4.-С.162-167
|
6.
| Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
|
7.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
8.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
9.
| Исследование оптических свойств тонких плёнок силицида железа, выращенных реактивной эпитаксией на поверхностях Si(100) и Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.280-281
|
10.
| Автоматизированный комплекс для управления технологическими процессами получения тонких структур металла на полупроводнике, используя измерение и анализ магнитоэллипсометрических данных (Valnadin Auto)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН