Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии / Д. В. Шевцов, И. А. Тарасов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения : труды Всерос. науч.-технич. конф. с междунар. участием, 15-16 октября 2009 г., Красноярск. - Красноярск : СФУ, 2009. - С. 187

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; "Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы", Всероссийская научно-техническая конференция(5 ; 2009 ; сент. ; Красноярск); Ставеровские чтения(5 ; 2009 ; сент. ; Красноярск)
}
Найти похожие

Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии / Д. В. Шевцов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. - Красноярск, 2009. - С. 187-188 . - ISBN 978-5-7638-1568-9

ГРНТИ

29.19.22

Аннотация: Рассматривается обратная задача эллипсометрии в рамках однослойной системы "подложка-пленка", в частности ставятся задачи определения оптич. постоянных монокристаллич. кремния итерационным методом и оптич. постоянных нанослоев железа графоаналитич. методом. Модель, принятая в этих вычислениях, состоит из плоскости полубесконечной подложки, покрытой тонкой пленкой и окруженная диэлектрич. средой. Использование комбинации итерационного и графоаналитического методов решения обратной задачи эллипсометрии позволило определять оптические параметры и толщины отдельных слоев в наноструктурах Fe/Si

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. - 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48. - Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth [Текст] / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57 Is. 9.- P.1225-1229

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; Бондаренко, С. Г.; Bondarenko, S.G.; Терещенко, О. Е.
}
Найти похожие

Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry : abstract book. - 2012. - P. . - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashenko, S. A.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Workshop Ellipsometry (7 ; 2012 ; март ; 5-7 ; Leipzig, Germany)
}
Найти похожие

Автоматизация магнитоэллипсометрических in situ измерений на сверхвысоковакуумном комплексе для синтеза и исследования материалов спинтроники / С. А. Лященко [и др.] // Вестник СибГАУ. - 2012. - № 4. - С. 162-167
Аннотация: Представлены результаты модернизации созданного коллективом авторов магнитоэллипсометрического комплекса. Проведена автоматизация процессов управления аппаратной частью и реализованы алгоритмы обработки сигналов магнитоэллипсометра. Возможности созданной системы были продемонстрированы на примере технологического цикла создания и in situ исследования структурных, оптических и магнитных свойств наноструктуры Fe/SiO 2/Si(100).

РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. - 2012. - Vol. 57, Is. 9. - P. 1225-1229, DOI 10.1134/S1063784212090241. - Cited References: 18. - This work was supported by Integration Project no. 22 of the Siberian and Far East Branches, Russian Academy of Sciences; a program of the Presidium of the Russian Academy of Sciences (project no. 27), the Federal Target Program "Human Capital for Science and Education in Innovative Russia" for 2009-2013, and the program "Spintronics" (project no. 4) of the Department of Physical Sciences, Russian Academy of Sciences. . - ISSN 1063-7842

РУБ Physics, Applied

Аннотация: An algorithm is developed to perform rapid control of the thickness and optical constants of a film structure during growth. This algorithm is tested on Fe/SiO2/Si(100) structures grown in an Angara molecular-beam epitaxy setup. The film thicknesses determined during their growth are compared with X-ray spectral fluorescence analysis and transmission electron microscopy data.

Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) [Текст] / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. : Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82 Вып. 9. - С. 44-48

Держатели документа:
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.
Ovchinnikov, S. G.
Zharkov, S. M.
Bondarenko, G.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Kirenskii Inst Phys, Krasnoyarsk 660036, Russia
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.] Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
[Shvets, V. A.
Tereshchenko, O. E.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
[Zharkov, S. M.] Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia
[Shvets, V. A.] Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Shvets, V. A.; Bondarenko, S. G.; Tereshchenko, O. E.
}
Найти похожие

Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677 Российская Федерация

Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) / С. А. Лященко [и др.]. - № 2012616431 ; Заявл. 27.07.2012. - Введ. с 24.09.2012 // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012

Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers / V. N. Zabluda [et al.] // Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P. 03AET11

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhlitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; International conference nanomaterials: applications and properties(2013 ; Sept. 16-21 ; Crimea, Ukraine)
}
Найти похожие

Исследование оптических свойств тонких плёнок силицида железа, выращенных реактивной эпитаксией на поверхностях Si(100) и Si(111) / И. А. Тарасов [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 280-281 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I.A.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

10.

Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013617818 Российская Федерация

Автоматизированный комплекс для управления технологическими процессами получения тонких структур металла на полупроводнике, используя измерение и анализ магнитоэллипсометрических данных (Valnadin Auto) / С. А. Лященко [и др.]. - № 2013615672 ; Заявл. 08.07.2013. - Введ. с 23.08.2013 // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие