Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Швец, Василий Александрович, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Косырев, Николай Николаевич, Бондаренко, Геннадий Васильевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
Место публикации : Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83, Вып. 10. - С. 139-142
Аннотация: Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Lvaschenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhkitskii S. V., Latyshev A. V., Saranin A. A.
Заглавие : The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 105. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Lyashchenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhlitskii S. V.
Заглавие : In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers
Место публикации : Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P.1529-1532. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784213100162
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.
Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Komogortsev S. V., Varnakov S. N., Satsuk S. A., Yakovlev I. A., Tarasov I. A., Bondarenko G. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 310. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677!-787146821
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие : Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) .- Введ. с 24.09.2012
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178!-896702604
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) .- Введ. с 26.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013

Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович, Бондаренко С. Г., Терещенко О. Е.
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48
Примечания : Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashenko S. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry
Коллективы : Workshop Ellipsometry (7; 2012 ; март ; 5-7; Leipzig, Germany)
Место публикации : 7th Workshop on Ellipsometry: abstract book. - 2012. - P. - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Автоматизация магнитоэллипсометрических in situ измерений на сверхвысоковакуумном комплексе для синтеза и исследования материалов спинтроники
Место публикации : Вестник СибГАУ. - 2012. - № 4. - С. 162-167
Аннотация: Представлены результаты модернизации созданного коллективом авторов магнитоэллипсометрического комплекса. Проведена автоматизация процессов управления аппаратной частью и реализованы алгоритмы обработки сигналов магнитоэллипсометра. Возможности созданной системы были продемонстрированы на примере технологического цикла создания и in situ исследования структурных, оптических и магнитных свойств наноструктуры Fe/SiO 2/Si(100).
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Zabluda V. N., Shvets V. A., Rykhkitsky S. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
Коллективы : International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6; 2013 ; May ; 26-31; Kyoto, Japan)
Место публикации : 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013): Conf. programm and abstr. - 2013. - P.205
Материалы конференции
Найти похожие