Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>) |
Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов [и др.] // Космические аппараты и технологии, 2018. т.Т. 2,N № 4.-С.220-224
|
2.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
3.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
|
4.
| Экспериментальное и теоретическое исследование слоистых ферромагнитных структур методом спектральной in situ магнитоэллипсометрии/О. А. Максимова [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2019. т.Т. 110,N № 3-4.-С.155-162
|
5.
| Способ получения суперпарамагнитных наночастиц на основе силицида железа Fe3Si с модифицированной поверхностью/С. А. Лященко, И. А. Яковлев, И. А. Тарасов // Изобретения. Полезные модели, 2020. т.№ 4
|
6.
| Способ получения нанокристаллов силицида железа α-FeSi 2 с изменяемой преимущественной ориентацией/И. А. Тарасов [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2019. т.№ 8
|
7.
| Способ измерения магнитооптических эффектов in situ/Н. Н. Косырев [и др.]. // Изобретения. Полезные модели, 2015. т.№ 23
|
8.
| Способ бесконтактного измерения температуры in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2018. т.№ 19
|
9.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
10.
| Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW)/И. А. Тарасов [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
11.
| Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW)/авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2015. т.№ 7
|
12.
| Синтез и спин-зависимый транспорт в гибридных структурах на основе силицида железа/А. С. Тарасов [и др.] // XIII Международный Уральский семинар "Радиационная физика металлов и сплавов", 2019.-С.68
|
13.
| Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур/С. Н. Варнаков [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.128
|
14.
| Тарасов И. А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов ; науч. рук. С. Н. Варнаков. - 2014
|
15.
| Тарасов И. А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов ; науч. рук. С. Н. Варнаков ; офиц. опп.: Е. М. Артемьев, В. В. Коробцов. - 2014
|
16.
| Программный пакет для расчета оптических свойств растущих структур в реальном времени по данным эллипсометрии (ElliD)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
17.
| Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014. т.Т. 99,N Вып. 10.-С.651-655
|
18.
| Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si/И. А. Тарасов [и др.] // Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". -СПб., 2014.-С.351-352
|
19.
| Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py/Н. Н. Косырев, В. Ю. Яковчук, Г. С. Патрин [и др.] // Письма в Журнал технической физики, 2021. т.Т. 47,N Вып. 3.-С.7-10
|
20.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск, 2009.-С.187-188
|
|
|