Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Тарасов, Иван Анатольевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 139
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100 101-120

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Жарков, Сергей Михайлович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста
Место публикации : Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 4. - С. 220-224. - ISSN 2618-7957, DOI 10.26732/2618-7957-2018-4-220-224
Примечания : Библиогр.: 10. - Работа выполнена при финансовой поддержке программ Президиума РАН № 32, проект 0356-2018-0061, Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской академии наук, проект II.8.70.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эллипсометрия--силициды железа--многослойные fe/si наноструктуры--ellipsometry--iron silicides--multilayer fe/si nanostructures
Аннотация: С использованием метода одноволновой лазерной эллипсометрии in situ проведено исследование процесса формирования многослойной структуры [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100). Были получены сведения об оптических и структурных свойствах данной структуры. Изменение морфологии поверхности растущих слоев и их оптических характеристик оказываются неидентичными для случаев осаждения железа на поверхность слоя кремния и осаждения кремния на поверхность слоя железа. Полученные профили оптических постоянных свидетельствуют об увеличении толщины переходных слоев, содержащих твердые растворы «железо-кремний» и силициды. Характер изменения оптических постоянных усложняется с каждым последующим слоем железа, осаждаемым на поверхность кремния. Поведение профилей n и k, соответствующих формированию кремниевых слоев, имеет более простой характер по сравнению с поведением подобных профилей железа. Эти профили имеют лишь некоторые особенности на начальных этапах роста и соответствуют формированию аморфных слоев кремния. Полученные данные согласуются с данными просвечивающей электронной микроскопии.Using in situ single-wave laser ellipsometry method, the formation of the [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100) multilayer structure was studied. Information about the optical and structural properties of this structure was obtained. The change in the morphology of the surface of the growing layers and their optical characteristics are not identical for the cases of iron deposition on the surface of the silicon layer and deposition of silicon on the surface of the iron layer. The refractive index and coefficient of absorption indicate an increase of the thickness of transition layers containing iron-silicon solid solutions and silicides. The nature of the change in the optical constants become more complicated with each subsequent iron layer deposited on the silicon surface. The behavior of n and k profiles corresponding to the formation of silicon layers is simpler than the behavior of similar iron profiles. These profiles have only some features at the initial stages of growth and correspond to the formation of amorphous silicon layers. The obtained data are consistent with the data of transmission electron microscopy.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович, Бондаренко С. Г., Терещенко О. Е.
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48
Примечания : Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста
Коллективы : "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа
Место публикации : 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии": 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60
Материалы школы
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна, Лященко, Сергей Александрович, Высотин, Максим Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Федоров, Александр Семенович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Экспериментальное и теоретическое исследование слоистых ферромагнитных структур методом спектральной in situ магнитоэллипсометрии
Место публикации : Письма в ЖЭТФ. - 2019. - Т. 110, № 3-4. - С. 155-162. - ISSN 0370-274X, DOI 10.1134/S0370274X19150037
Примечания : Библиогр.: 28. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской Академии Наук (проект 0356-2018-0061, проект II.8.70).
Аннотация: Данная статья посвящена развитию методики обработки данных спектральной in situ магнитоэллипсометрии для анализа ферромагнитных планарных наноструктур. В рамках нового подхода к интерпретации модулированных магнитным полем спектральных эллипсометрических измерений, проводимых с использованием магнитооптического эффекта Керра в экваториальной конфигурации, апробируется многослойная модель, содержащая ферромагнитный слой с двумя пограничными интерфейсами, неферромагнитный буферный слой и неферромагнитную подложку. В частности, исследуется влияние толщины ферромагнитного слоя на результаты магнитоэллипсометрических измерений. Для измерений были выбраны поликристаллические пленки Fe различной толщины на неферромагнитной поверхности SiO2/Si(100). В результате обработки данных спектральных магнитоэллипсометрических измерений определены комплексные диагональные и недиагональные компоненты тензора диэлектрической проницаемости в спектральном диапазоне 1.38-3.45 эВ. Приведено сопоставление полученных результатов с литературными данными других авторов и расчетом тензора диэлектрической проницаемости Fe в рамках теории функционала плотности.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2713598!-049252649
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Яковлев, Иван Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Способ получения суперпарамагнитных наночастиц на основе силицида железа Fe3Si с модифицированной поверхностью .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2020. - № 4
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2681635!-411558231
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Высотин, Максим Александрович, Смолярова, Татьяна Евгеньевна, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Способ получения нанокристаллов силицида железа α-FeSi 2 с изменяемой преимущественной ориентацией .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2019. - № 8
Аннотация: Изобретение относится к технологии получения материалов нанометрового размера, состоящих из нанокристаллов силицида железа α-FeSi2 с контролируемо изменяемой преимущественной кристаллографической ориентацией, формой и габитусом, и может применяться для разработки новых функциональных элементов в спинтронике и нанотехнологии. Способ получения нанокристаллов силицида железа α-FeSi2 с изменяемой преимущественной ориентацией включает предварительную химическую подготовку поверхности подложки кремния в водном растворе плавиковой кислоты и ее очистку путем отжига при 840-900°С, осаждение слоя золота на подложку кремния ориентацией Si(001) при комнатной температуре методом термического испарения в сверхвысоком вакууме, повышение температуры подложки до 840°С и соосаждение железа и кремния при атомном соотношении от 1:2 до 3:1. Техническим результатом изобретения является контролируемое получение нанокристаллов α-FeSi2 на поверхности кремния с различными преимущественными кристаллографическими ориентационными соотношениями, изменяемой огранкой и формой нанокристалла α-FeSi2 для одного и того же ориентационного соотношения. 3 ил., 1 табл., 4 пр.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2560148!-469310745
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Способ измерения магнитооптических эффектов in situ .-
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 23
Аннотация: Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2660765!-934235450
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Заблуда, Владимир Николаевич
Заглавие : Способ бесконтактного измерения температуры in situ .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2018. - № 19
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др. Заявлен способ бесконтактного измерения температуры in situ, заключающийся в том, что образец освещают поляризованным светом и измеряют изменение интенсивности при отражении. В процессе измерения регистрируют отраженное от поверхности образца электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне 300-900 нм. Анализируют изменение интенсивности после отражения и находят температуру, решая следующее уравнение: M(T)=F(T), где М(Т) - среднее арифметическое данных об интенсивности со всех четырех фотоприемников эллипсометра, зависящее от температуры, F(T) - функция, вид которой зависит от исследуемого материала. Новым является то, что для зондирующего пучка задают состояние линейной поляризации с поворотом 0° и накапливают массив данных для дальнейшего усреднения, а также то, что предложенный способ позволяет измерять температуру образца от температуры 4 K до его термического разрушения. Технический результат - повышение точности измерения температуры in situ независимо от структуры отражающей поверхности и при температурах до 4 K. 2 ил.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677!-787146821
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие : Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) .- Введ. с 24.09.2012
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178!-896702604
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) .- Введ. с 26.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013

Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2015616615!-287456437
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW) .-
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 7
Аннотация: Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.
Смотреть свид-во
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Антон Сергеевич, Рауцкий, Михаил Владимирович, Лукьяненко, Анна Витальевна, Смоляков, Дмитрий Александрович, Бондарев, Илья Александрович, Яковлев, Иван Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Волков, Никита Валентинович
Заглавие : Синтез и спин-зависимый транспорт в гибридных структурах на основе силицида железа
Коллективы : "Радиационная физика металлов и сплавов", международный Уральский семинар, Институт физики металлов им. М. Н. Михеева Уральского отделения РАН, Российский федеральный ядерный центр - ВНИИТФ им. Е.И. Забабахина
Место публикации : XIII Междунар. Урал. сем. "Радиационная физ. мет. и сплавов": тезисы докладов. - 2019. - С. 68. - ISBN 978-5-9500855-6-7
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Варнаков, Сергей Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Швец, Василий Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 128. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Г 62 рукописный текст
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :137 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.31.26
ББК : В374я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37 рукописный текст
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : автореф. дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :19 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.37
Смотреть автореферат
Найти похожие

16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013618786!-837386888
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Программный пакет для расчета оптических свойств растущих структур в реальном времени по данным эллипсометрии (ElliD) .- Введ. с 18.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Попов, Захар Иванович, Варнаков, Сергей Николаевич, Молокеев, Максим Сергеевич, Федоров, Александр Семенович, Яковлев, Иван Александрович, Федоров, Дмитрий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)
Место публикации : Письма в Журн. эксперим. и теор. физ. - 2014. - Т. 99, Вып. 10. - С. 651-655. - DOI 10.7868/S0370274X14100026
Примечания : Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (гранты # 13-02-01265, 14-02-31309), гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-2886.2014.2), Министерства образования и науки Российской Федерации (госконтракт # 02.G25.31.0043) и программы президиума РАН # 24.34
Аннотация: Методом спектральной эллипсометрии измерена дисперсия диэлектрической проницаемости \varepsilon эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si толщиной 27 нм в области энергий E=(1.16-4.96) эВ. Результаты сравниваются с дисперсией диэлектрической проницаемости, вычисленной в рамках метода функционала плотности с аппроксимацией GGA-PBE. Рассчитаны электронная структура Fe3Si и плотность электронных состояний (DOS). Анализ частот теоретически рассчитанных оптических переходов между пиками DOS дает качественное согласие с экспериментально измеренными пиками поглощения. Анализ данных одноволновой лазерной эллипсометрии, полученных в процессе синтеза пленки, показывает, что формирование сплошного слоя пленки силицида железа Fe3Si происходит при достижении ее толщиной в 5 нм.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Молокеев, Максим Сергеевич, Александровский, Александр Сергеевич, Крылов, Александр Сергеевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si
Коллективы : "Аморфные и микрокристаллические полупроводники", международная конференция (9; 2014 ; июль; 7-10; Санкт-Петребург)
Место публикации : Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". - СПб., 2014. - С. 351-352
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Яковчук, Виктор Юрьевич, Патрин, Геннадий Семёнович, Комаров, Василий Андреевич, Волченко Е. Н., Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py
Место публикации : Письма в Журн. техн. физ. - 2021. - Т. 47, Вып. 3. - С. 7-10. - ISSN 0320-0116, DOI 10.21883/PJTF.2021.03.50566.18429
Примечания : Библиогр.: 14. - Исследования проведены при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 18-02-00161-а)
Аннотация: Представлены результаты исследования оптических и магнитооптических свойств трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py (Py - пермаллой). Для изучения температурной зависимости намагниченности использовался магнитооптический эффект Керра, а для измерения оптических показателей преломления и поглощения - метод спектральной эллипсометрии. Показано, что толщина прослойки висмута влияет на обменное взаимодействие между слоями пермаллоя и DyCo, что проявляется в изменении температуры компенсации намагниченности, а также в изменении характера обменного взаимодействия.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Шевцов, Дмитрий Валентинович, Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии
Место публикации : Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. - Красноярск, 2009. - С. 187-188. - ISBN 978-5-7638-1568-9
ГРНТИ : 29.19.22
Аннотация: Рассматривается обратная задача эллипсометрии в рамках однослойной системы "подложка-пленка", в частности ставятся задачи определения оптич. постоянных монокристаллич. кремния итерационным методом и оптич. постоянных нанослоев железа графоаналитич. методом. Модель, принятая в этих вычислениях, состоит из плоскости полубесконечной подложки, покрытой тонкой пленкой и окруженная диэлектрич. средой. Использование комбинации итерационного и графоаналитического методов решения обратной задачи эллипсометрии позволило определять оптические параметры и толщины отдельных слоев в наноструктурах Fe/Si
Найти похожие