|
|
1.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов, И. А. Тарасов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск:СФУ, 2009.-С.187
|
2.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск, 2009.-С.187-188
|
3.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)/И. А. Тарасов [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. т.Т. 82,N Вып. 9.-С.44-48
|
4.
| Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
|
5.
| Автоматизация магнитоэллипсометрических in situ измерений на сверхвысоковакуумном комплексе для синтеза и исследования материалов спинтроники/С. А. Лященко [и др.] // Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева, 2012. т.№ 4.-С.162-167
|
6.
| Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
|
7.
| Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2012
|
8.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
9.
| Исследование оптических свойств тонких плёнок силицида железа, выращенных реактивной эпитаксией на поверхностях Si(100) и Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.280-281
|
10.
| Автоматизированный комплекс для управления технологическими процессами получения тонких структур металла на полупроводнике, используя измерение и анализ магнитоэллипсометрических данных (Valnadin Auto)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
11.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
12.
| Программный пакет для расчета оптических свойств растущих структур в реальном времени по данным эллипсометрии (ElliD)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
13.
| Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами/С. А. Лященко [и др.] // Журнал технической физики, 2013. т.Т. 83,N Вып. 10.-С.139-142
|
14.
| Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
|
15.
| The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films/S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.105
|
16.
| In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers/S. A. Lyashchenko [et al.] // Technical Physics, 2013. т.Vol. 58,N Is. 10.-С.1529-1532
|
17.
| Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста/И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", 2013.-С.60
|
18.
| Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур/С. Н. Варнаков [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.128
|
19.
| Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW)/И. А. Тарасов [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
20.
| Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
|
|
|
|
|
 Стандартный Расширенный Профессиональный Распределенный По словарю ГРНТИ-навигатор УДК-навигатор Тематический навигатор
Другие библиотеки
 Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
|
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН