Поисковый запрос: (<.>A=Яковлев, Иван Александрович$<.>) |
Общее количество найденных документов : 176
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Исследование начальных стадий эпитаксии на Si (100) методом дифракции отраженных быстрых электронов/И. А. Яковлев, С. Н. Варнаков // Решетневские чтения. -Красноярск, 2008.-С.245
|
2.
| Яковлев И. А. Особенности образования силицидов железа при реактивной и твердофазной эпитаксии/И. А. Яковлев, С. Н. Варнаков // Решетневские чтения. -Красноярск, 2010. т.Ч. 2.-С.598-599
|
3.
| Градиент SE/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2011
|
4.
| Комплекс виртуальных лабораторных работ (КЛР 1.0)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
5.
| Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
|
6.
| Программный пакет для расчета оптических свойств растущих структур в реальном времени по данным эллипсометрии (ElliD)/С. А. Лященко [и др.] // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2013
|
7.
| XMCD study of (Fe/Si)[[]d]N[[/d]] nanostructured films/M. S. Platunov [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.183
|
8.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
9.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
10.
| Magnetic anisotropy of Fe films on Si(001) with and without SiO2 buffer layer/S. V. Komogortsev, S. N. Varnakov, S. A. Satsuk // Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, 2013.-С.75-76
|
|
|