Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Яковлев, Иван Александрович$<.>)

Общее количество найденных документов : 175
Показаны документы с 1 по 20

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Platunov M. S., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Weschke E., Schierle E., Yakovlev I. A.
Заглавие : XMCD study of (Fe/Si)[[]d]N[[/d]] nanostructured films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 183. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Komogortsev S. V., Varnakov S. N., Satsuk S. A., Yakovlev I. A., Tarasov I. A., Bondarenko G. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 310. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178!-896702604
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) .- Введ. с 26.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013

Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Komogortsev S. V., Varnakov S. N., Satsuk S. A., Yakovlev I. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates
Место публикации : J. Magn. Magn. Mater.: Elsevier Science, 2014. - Vol. 351. - P.104-108. - ISSN 0304-8853, DOI 10.1016/j.jmmm.2013.09.058. - ISSN 873-4766
Примечания : Cited References: 40. - The work has been supported by RFBR Grant 11-03-00168-a, 12-02-00943-a, 13-02-01265-a, Interdisciplinary integration of fundamental research of SB RAS (2012-2014) project No. 64. Also the study was supported by The Ministry of Education and Science of Russian Federation, project 14.513.11.0016.
Предметные рубрики: UNIAXIAL ANISOTROPY
SURFACE
SILICON
ROUGHNESS
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): epitaxial growth--iron--magnetic anisotropy--thin film
Аннотация: The magnetic anisotropy of 10 nm iron films deposited in an ultra high vacuum on the Si(001) surface and on the Si(001) over caped by 1.5 nm layer of SiO2 was investigated. There is in-plane uniaxial magnetic anisotropy caused by oblique sputtering in the Fe films on a SiO2 buffer layer. The easy magnetization axis is always normal to the atomic flux direction but the value of the anisotropy field is different depending on the axial angle among sputtering direction and the substrate crystallographic axes. It is argued that the uniaxial magnetic anisotropy results from elongated surface roughness formation during film deposition. Several easy magnetization axes are found in Fe/Si(001) film without the SiO2 buffer layer. The mutual orientation of the main easy axes and Si crystallographic axes indicates that there is epitaxial growth of Fe/Si(001) film with the following orientation relative to the substrate: Fe[100] ?Si[110]. The anisotropy energy of Fe/Si(001) film is estimated by simulation of angle dependence of remnant magnetization m r as the sum of the mr angle plot from uniaxial anisotropy (induced by oblique deposition) and the polar plot from biaxial magnetocrystalline anisotropy. В© 2013 Elsevier B.V.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Komogortsev S. V., Varnakov S. N., Satsuk S. A., Yakovlev I. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magnetic anisotropy of Fe films on Si(001) with and without SiO2 buffer layer
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Asian School-Conf. on Phys. and Technol.of Nanostruct. Mater. - 2013. - P.75-76
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Zabluda V. N., Shvets V. A., Rykhkitsky S. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
Коллективы : International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6; 2013 ; May ; 26-31; Kyoto, Japan)
Место публикации : 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013): Conf. programm and abstr. - 2013. - P.205
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Яковлев, Иван Александрович, Балашев В. В., Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Исследование методом ДОБЭ процессов окисления пленок Fe на Si(100), полученных при различных температурных условиях
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 229-230. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Исследование оптических свойств тонких плёнок силицида железа, выращенных реактивной эпитаксией на поверхностях Si(100) и Si(111)
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 280-281. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Shvets V. A., Rykhlitsky S. V.
Заглавие : In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers
Коллективы : International conference nanomaterials: applications and properties
Место публикации : Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P.03AET11
Материалы конференции
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2011610242!-617098716
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Градиент SE .- Введ. с 11.01.2011
Коллективы : Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2011
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013660341!-258084162
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Мосин Р. В.
Заглавие : Комплекс виртуальных лабораторных работ (КЛР 1.0) .- Введ. с 31.10.2013
Коллективы : Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М.Ф. Решетнева, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013618786!-837386888
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Программный пакет для расчета оптических свойств растущих структур в реальном времени по данным эллипсометрии (ElliD) .- Введ. с 18.09.2013
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Varnakov S. N., Yakovlev I. A., Zharkov S. M., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis
Коллективы : Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications (9 -13 Sept. 2013; San Sebastian, Spain)
Место публикации : Donostia Int. Conf. on Nanoscaled Magnetism and Applications: Abstracts book. - 2013. - Ст.P1-27. - P.260
Материалы конференции
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Швец, Василий Александрович, Михайлов Н. Н., Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - ISSN 0044-4642
Примечания : Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Беляев, Борис Афанасьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Молокеев, Максим Сергеевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)
Место публикации : Письма в Журн. эксперим. и теор. физ.: Наука, 2014. - Т. 99, Вып. 9-10. - С. 610 – 613. - ISSN 0370-274X, DOI 10.7868/S0370274X14090082
Примечания : Библиогр.: 19. - Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант #13-02-01265), гранта поддержки ведущей научной школы (Проект НШ-2886.2014.2) и Министерства образования и науки РФ (гос. контракт #02.G25.31.0043; госзадание СФУ в части проведения НИР на 2014г)
Аннотация: Представлены результаты структурных и магнитных исследований эпитаксиальной структуры, полученной при одновременном напылении из двух источников железа и кремния на атомарно чистую поверхность Si(111)7×7 при температуре подложки 150 °С. Методами рентгеноструктурного анализа, просвечивающей электронной микроскопии и дифракции отраженных быстрых электронов эпитаксиальная структура идентифицирована как монокристаллическая пленка силицида Fe3Si с ориентацией Si[111]Fe3Si[111]. Установлено, что эпитаксиальная пленка Fe3Si при комнатной температуре обладает магнитной одноосной анизотропией (Ha=26 Э) и имеет сравнительно узкую линию однородного ферромагнитного резонанса (Δ H=11.57 Э), измеренную на частоте накачки 2.274 ГГц.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Попов, Захар Иванович, Варнаков, Сергей Николаевич, Молокеев, Максим Сергеевич, Федоров, Александр Семенович, Яковлев, Иван Александрович, Федоров, Дмитрий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)
Место публикации : Письма в Журн. эксперим. и теор. физ. - 2014. - Т. 99, Вып. 10. - С. 651-655. - DOI 10.7868/S0370274X14100026
Примечания : Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (гранты # 13-02-01265, 14-02-31309), гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-2886.2014.2), Министерства образования и науки Российской Федерации (госконтракт # 02.G25.31.0043) и программы президиума РАН # 24.34
Аннотация: Методом спектральной эллипсометрии измерена дисперсия диэлектрической проницаемости \varepsilon эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si толщиной 27 нм в области энергий E=(1.16-4.96) эВ. Результаты сравниваются с дисперсией диэлектрической проницаемости, вычисленной в рамках метода функционала плотности с аппроксимацией GGA-PBE. Рассчитаны электронная структура Fe3Si и плотность электронных состояний (DOS). Анализ частот теоретически рассчитанных оптических переходов между пиками DOS дает качественное согласие с экспериментально измеренными пиками поглощения. Анализ данных одноволновой лазерной эллипсометрии, полученных в процессе синтеза пленки, показывает, что формирование сплошного слоя пленки силицида железа Fe3Si происходит при достижении ее толщиной в 5 нм.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Я 47 рукописный текст
Автор(ы) : Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Получение, структура и магнитные свойства тонкопленочных силицидов железа : дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.07
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :139 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: 152 назв.
ГРНТИ : 29.19.16 + 29.19.37
ББК : В371.26я031 + В373.3я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Yakovlev I. A., Varnakov S. N., Belyaev B. A., Zharkov S. M., Molokeev M. S., Tarasov I. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Study of the structural and magnetic characteristics of epitaxial Fe3Si/Si(111) films
Коллективы : Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265]; Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools [NSh-2886.2014.2]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [02G25.31.0043]
Место публикации : JETP Letters. - 2014. - Vol. 99, Is. 9. - P.527-530. - ISSN 0021-3640, DOI 10.1134/S0021364014090124. - ISSN 1090-6487
Примечания : Cited References: 19. - This work was supported by the Russian Foundation for Basic Research (project no. 13-02-01265), the Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools (project no. NSh-2886.2014.2), and the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state contract no. 02G25.31.0043; state task of the Siberian Federal University for research in 2014).
Предметные рубрики: ULTRAHIGH-VACUUM
SILICON
Аннотация: The results of the structural and magnetic studies of the epitaxial structure prepared during the simultaneous evaporation from two iron and silicon sources on an atomically pure Si(111)7 × 7 surface at a substrate temperature of 150°C have been presented. The epitaxial structure has been identified as a single-crystal Fe3Si silicide film with the orientation Si[111]‖Fe3Si[111] using methods of the X-ray structural analysis, transmission electron microscopy, and reflection high-energy electron diffraction. It has been established that the epitaxial Fe3Si film at room temperature has magnetic uniaxial anisotropy (H a = 26 Oe) and a relatively narrow uniform ferromagnetic resonance line (ΔH = 11.57 Oe) measured at a pump frequency of 2.274 GHz.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Shvets V. A., Mikhailov N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Rykhlitskii S. V., Yakovlev I. A.
Заглавие : Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers
Коллективы : Ministry of Education and Science of the Russian Federation [14.513.11.0016, 14.132.21.1709, 14.V37.21.1276]; Program Supporting Leading Scientific Schools [NSh-1044.2012.2]; Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265]; Physics Division, Russian Academy of Sciences [2.4.1]; Presidium of the Russian Academy of Sciences [23.34]; Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences [85]; Siberian Branch, Russian Academy of Sciences [38]
Место публикации : Tech. Phys.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59, Is. 5. - P.736-739. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784214050144. - ISSN 1090-6525
Примечания : Cited References: 17. - This work was supported financially by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state contract no. 14.513.11.0016, agreement nos. 14.132.21.1709 and 14.V37.21.1276), the Program Supporting Leading Scientific Schools (project no. NSh-1044.2012.2), Russian Foundation for Basic Research (project no. 13-02-01265), Physics Division, Russian Academy of Sciences (program no. 2.4.1), Presidium of the Russian Academy of Sciences (program no. 23.34), Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences (project no. 85), and integration project no. 38 of the Siberian Branch, Russian Academy of Sciences.
Предметные рубрики: LAYERS
Аннотация: An algorithm that makes it possible to solve the inverse problem of ellipsometry aimed at determining the absorption coefficient on the basis of a single-zone ellipsometric experiment during the growth of thin semiconducting films is developed and implemented. The technique is based on analysis of the variation of ellipsometric parameters I and Delta directly during the growth. The algorithm is tested in synthesis of Si/SiO2/Si(100) and Hg1 - x Cd (x) Te structures.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Молокеев, Максим Сергеевич, Александровский, Александр Сергеевич, Крылов, Александр Сергеевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si
Коллективы : "Аморфные и микрокристаллические полупроводники", международная конференция (9; 2014 ; июль; 7-10; Санкт-Петребург)
Место публикации : Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". - СПб., 2014. - С. 351-352
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие