Поисковый запрос: (<.>A=Kosyrev, N. N.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 111
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
|
2.
| Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Косырев Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.] // Журнал структурной химии, 2010. т.Т. 51,N № 1.-С.104-108
|
3.
| Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009. -Новосибирск, 2009.-С.45
|
4.
| Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co/А. В. Кобяков [и др.] // Журнал технической физики, 2019. т.Т. 89,N Вып. 2.-С.268-273
|
5.
| Способ определения матрицы мюллера/Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда // Изобретения. Полезные модели, 2016. т.№ 13
|
6.
| Способ измерения магнитооптических эффектов in situ/Н. Н. Косырев [и др.]. // Изобретения. Полезные модели, 2015. т.№ 23
|
7.
| Способ бесконтактного измерения температуры in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Изобретения. Полезные модели, 2018. т.№ 19
|
8.
| Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW)/авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2015. т.№ 7
|
9.
| Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co/А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники. -Уфа, 2018.-С.185-185
|
10.
| Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO/А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, 2018.-С.185
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН