|
|
1.
| The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films/S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.105
|
2.
| In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers/S. A. Lyashchenko [et al.] // Technical Physics, 2013. т.Vol. 58,N Is. 10.-С.1529-1532
|
3.
| In-situ and in-time spectral magneto-ellipsometer/V. N. Zabluda [et al.] // Functional materials. -Simferopol, 2013.- Ст.EP2-12P/3.-С.480
|
4.
| Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
|
5.
| Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
|
6.
| Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур/О. А. Максимова [и др.] // 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (МИССФМ-2013). -Новосибирск, 2013.-С.221-222
|
7.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
8.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
9.
| Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
|
10.
| Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
|
11.
| Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers/N. N. Kosyrev [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. т.Vol. 59,N Is. 5.-С.736-739
|
12.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry, 2014.-С.81
|
13.
| Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур/О. А. Максимова [и др.] // Журнал структурной химии. -Новосибирск:Изд-во СО РАН, 2014. т.Т. 55,N № 6.-С.1190-1197
|
14.
| Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures/O. A. Maksimova [et al.] // Journal of Structural Chemistry:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. т.Vol. 55,N Is. 6.-С.1134-1141
|
15.
| Автоматизированная система управления испарителями в установке молекулярно-лучевой эпитаксии/Н. Н. Косырев [и др.] // Кремний-2006. -Красноярск:ИФ СО РАН, 2006.-С.112
|
16.
| Реализация серверного программного обеспечения для получения кремниевых пленок/А. В. Шайдуров [и др.] // Кремний-2006. -Красноярск:ИФ СО РАН, 2006.-С.119
|
17.
| Kosyrev N. N. In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry/N. N. Kosyrev, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015). -Vladivostok:Dalnauka, 2015.- Ст.VII.25.01o
|
18.
| Maksimova O. A. Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures/O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov // Проспект Свободный, 2015
|
19.
| Способ измерения магнитооптических эффектов in situ/Н. Н. Косырев [и др.]. // Изобретения. Полезные модели, 2015. т.№ 23
|
20.
| Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW)/авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем, 2015. т.№ 7
|
|
|
|
|
 Стандартный Расширенный Профессиональный Распределенный По словарю ГРНТИ-навигатор УДК-навигатор Тематический навигатор
Другие библиотеки
 Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
|
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН