Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Kosyrev, N. N.$<.>)

Общее количество найденных документов : 111
Показаны документы с 1 по 20

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н. Н. Косырев [и др.] // Журн. техн. физ. - 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers [Текст] / N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59 Is. 5.- P.736-739

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.
}
Найти похожие

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии / Косырев Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.] // Журнал структурной химии. - 2010. - Т. 51, № 1. - С. 104-108

Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Швец, В.А.; Рыхлицкий, С.В.; Спесивцев, Е.В.; Прокофьев, .Ю.
}
Найти похожие

Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии / Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009 : Новосибирск, 11-16 окт. 2009 г. : тезисы докл. - Новосибирск, 2009. - С. 45

Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Швец, В. А.; Рыхлицкий, С. В.; Спесивцев, Е. В.; Прокопьев, В. Ю.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2009 ; ; Новосибирск)
}
Найти похожие

Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co / А. В. Кобяков [и др.] // Журн. техн. физ. - 2019. - Т. 89, Вып. 2. - С. 268-273, DOI 10.21883/JTF.2019.02.47082.198-18. - Библиогр.: 18. - Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 18-02-00161-а). . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Представлены экспериментальные результаты для системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co с буферным слоем из Al2O3, полученные методом ионно-плазменного распыления. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления ионно-плазменным методом распыления и скорости напыления ему предшествующих слоев. Показано, что метод получения буферных слоев позволяет значительно снизить шероховатость поверхности последующих слоев. Полученные буферные слои могут быть использованы в качестве искусственных подложек для выращивания гетероструктур с туннельными переходами.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Structural and Magnetic Properties of the Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co System [Текст] / A. V. Kobyakov [et al.] // Tech. Phys. - 2019. - Vol. 64 Is. 2.- P.236-241

Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Ачинский филиал Красноярского государственного аграрного университета, 662150 Ачинск, Красноярский край, Россия

Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2583959 Российская Федерация

Способ определения матрицы мюллера / Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда ; патентообладатель Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - № 2015110507/28 ; Заявл. 24.03.2015 ; Опубл. 10.05.2016 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2016. - № 13
Аннотация: Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0WΨ0WΔ45; D: P-45D0SR0WΨ45WΔ45, а компоненты матрицы Мюллера Sij определяют, решая систему линейных уравнений. Изобретение обеспечивает возможность полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца, для нахождения всех компонент матрицы Мюллера.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2560148 Российская Федерация

Способ измерения магнитооптических эффектов in situ / Н. Н. Косырев [и др.]. ; патентообладатель Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - № 2014118809/28 ; Заявл. 08.05.2014 ; Опубл. 20.08.2015 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 23
Аннотация: Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2660765 Российская Федерация

Способ бесконтактного измерения температуры in situ / Н. Н. Косырев [и др.]. - № 2017104846 ; Заявл. 14.02.2017 ; Опубл. 09.07.2018 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2018. - № 19
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др. Заявлен способ бесконтактного измерения температуры in situ, заключающийся в том, что образец освещают поляризованным светом и измеряют изменение интенсивности при отражении. В процессе измерения регистрируют отраженное от поверхности образца электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне 300-900 нм. Анализируют изменение интенсивности после отражения и находят температуру, решая следующее уравнение: M(T)=F(T), где М(Т) - среднее арифметическое данных об интенсивности со всех четырех фотоприемников эллипсометра, зависящее от температуры, F(T) - функция, вид которой зависит от исследуемого материала. Новым является то, что для зондирующего пучка задают состояние линейной поляризации с поворотом 0° и накапливают массив данных для дальнейшего усреднения, а также то, что предложенный способ позволяет измерять температуру образца от температуры 4 K до его термического разрушения. Технический результат - повышение точности измерения температуры in situ независимо от структуры отражающей поверхности и при температурах до 4 K. 2 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2015616615 Российская Федерация

Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW) / авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н. Косырев ; правообладатель: ФГБУН Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН. - № 2015613270 ; Заявл. 22.04.2015 ; Опубл. 20.07.2015 // Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 7
Аннотация: Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.

Смотреть свид-во
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co / А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники : сб. тез. докл. V Всерос. науч. молодежной конф. с междунар. участием. - Уфа, 2018. - С. 185-185 . - ISBN 978-5-7477-4646-6

РИНЦ,
РИНЦ
Держатели документа:
Институт физики им.Л.В. Киренского СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием(5 ; 2018 ; 28- 31 мая ; Уфа); Башкирский государственный университет
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие

10.

Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO / А. В. Кобяков [и др.] // Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники : сборник тез. докл. V Всерос. науч. молод. конф. с междунар. участием. - 2018. - С. 185 . - ISBN 978-5-7477-4646-6

РИНЦ,
Материалы конференции
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; "Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники", Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием(5 ; 2018 ; май ; 28-31 ; Уфа); Башкирский государственный университет
}
Найти похожие

11.

Синтез и магнитные свойства трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi / Г. С. Патрин [и др.] // Нанофизика и наноэлектроника : Труды XX междунар. симп. - 2016. - Т. 1. - С. 238-239. - Библиогр.: 5. - Работа выполняется при финансовой поддержке РФФИ (грант № 14-02-00238-а) . - ISBN 978-5-91326-378-0
Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований впервые полученных пленок в системе «магнитожесткий ферромагнетик (CoNi)-магнитомягкий ферромагнетик (FeNi)», взаимодействующих через немагнитную полупроводниковую прослойку кремния (Si). Проведены температурные и полевые исследования структур в зависимости от толщины кремния. Показано, что многослойная структура обладает свойствами, присущими магнитным пружинам. При низких температурах наблюдается эффект обменного смещения.

Материалы симпозиума
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Патрин, Константин Геннадьевич; Patrin, K. G.; Юркин, Глеб Юрьевич; Yurkin, G. Yu.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Кисленко, С. А.; "Нанофизика и наноэлектроника", международный симпозиум(20 ; 2016 ; март. ; 14-18 ; Нижний Новгород)
}
Найти похожие

12.

Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсо метрическими методами in situ / Д. В. Шевцов, Н. Н. Косырев [и др.] // Магнитные материалы. Новые технологии: BICMM 2010 = Magnetic materials. New technologies : тез. докл. IV Байкал. междунар. конф. - Иркутск, 2010. - С. 163-164

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Худяков, Алексей Евгеньевич; Ефремов, А. В.; Байкальская Международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии"(4 ; 2010 ; 21-25 сент. ; п. Листвянка, Иркутская обл.); "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция(4 ; 2010 ; сент. ; 21-25 ; п. Листвянка, Иркутская обл.); "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference(5 ; 2010 ; Sept. 21-25 ; Listvyanka, Irkutsk); Иркутский государственный университет; Восточно-сибирская государственная академия образования
}
Найти похожие

13.

Реализация серверного программного обеспечения для получения кремниевых пленок / А. В. Шайдуров [и др.] // Кремний-2006 : тезисы докладов. - Красноярск : ИФ СО РАН, 2006. - С. 119

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Шайдуров, А. В.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства(3 ; 4-6 июля 2006 г. ; Красноярск)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие

14.

Получение, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы AL2O3/GE-P/AL2O3/CO / А. В. Кобяков [и др.] // Изв. РАН. Сер. физич. - 2019. - Т. 83, № 7. - С. 947-949, DOI 10.1134/S0367676519070226. - Библиогр.: 5 . - ISSN 0367-6765
Аннотация: В работе представлены экспериментальные результаты структурных и магнитных измерений для пленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co. Структура получена методом ионно-плазменного распыления и перспективна в качестве туннельной гетероструктуры. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления и скорости напыления предшествующих слоев.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Synthesis, Structure, and Magnetic Properties of an Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co Thin-Film System [Текст] / A. V. Kobyakov [et al.] // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. - 2019. - Vol. 83 Is. 7.- P.864-865

Держатели документа:
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования “Сибирский федеральный университет”, Красноярск, Россия
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики имени Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I. A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.
}
Найти похожие

15.

Получение, структура и магнитные свойства системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co / В. А. Орлов, Г. С. Патрин // Новое в магнетизме и магнитных материалах : сборник трудов XXIII международной конференции / прогр. ком.: Р. С. Исхаков, С. Г. Овчинников [и др.]. - 2018. - С. 580-581. - Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 18-02-00161-а)

Материалы конференции
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Исхаков, Рауф Садыкович \прогр. ком.\; Iskhakov, R. S.; Овчинников, Сергей Геннадьевич \прогр. ком.\; Ovchinnikov, S. G.; Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; "Новое в магнетизме и магнитных материалах", международная конференция(23 ; 2018 ; 30 июня - 5 июля ; Москва); Научный совет по физике конденсированных сред РАН; МИРЭА - Российский технологический университет; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова; Магнитное общество России; Образовательная компания "Альбион"
}
Найти похожие

16.

Перспективы магнитной спектроэллипсометрии in situ / Н. Н. Косырев, В. Н. Заблуда [и др.] // XII Межрегиональная конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов (ПДММ-2009) : Владивосток, 17-20 июня 2009 г. : сб. тр. - Владивосток, 2009. - С. 168-171 . - ISBN 978-5-7442-1475-3

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Рыхлицкий, С.В.; Спесивцев, Е.В.; Прокопьев, В.Ю.; Межрегиональная конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов(2009 ; Владивосток)
}
Найти похожие

17.

Перспективы магнитной спектроэллипсометрии in situ / Н. Н. Косырев [и др.] ; ДВО РАН, ДВО РАН // 12-я Конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов (ПДММ - 2009), Владивосток, 17-20 июня, 2009. - Владивосток : ИАПУ ДВО РАН, 2009. - С. 168-171 . - ISBN 978-5-7442-1475-3

ГРНТИ

29.19.22

Аннотация: Показаны перспективы нового метода магн. эллипсометрии для исследования структурных, оптических и магн. свойств наноматериалов. На примере тонких пленок железа демонстрируется возможность одновременного измерения как оптических, так и магн. характеристик непосредственно в процессе роста. Развитый подход позволяет in situ исследовать сложные многослойные наноструктуры

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Спесивцев, Е. В.; ПРокопьев, В. Ю.; Дальневосточное отделение РАН
}
Найти похожие

18.

Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур / О. А. Максимова [и др.] // Журн. структ. химии. - 2014. - Т. 55, № 6. - С. 1190-1197. - Библиогр.: 8. - Работа выполнена при финансовой поддержке Программы Президента России по поддержке ведущих научных школ НШ 2886.2014.2, Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265, № 14-02-01211), Министерства образования и науки Российской Федерации (Соглашение 14.604.21.0002, Государственный контракт № 02.G25.31.0043), а также Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (программа "У.М.Н.И.К.", договор № 0003831). . - ISSN 0136-7463
Кл.слова (ненормированные):
магнитоэллипсометрия -- эллипсометрические измерения -- магнитооптический эффект Керра -- тонкие пленки -- модель полубесконечной среды -- коэффициент преломления -- коэффициент поглощения -- магнитооптический параметр
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures [Текст] / O. A. Maksimova [et al.] // J. Struct. Chem. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 55 Is. 6.- P.1134-1141

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

19.

Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур / О. А. Максимова [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 221-222 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S.N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

20.

Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py / Н. Н. Косырев, В. Ю. Яковчук, Г. С. Патрин [и др.] // Письма в Журн. техн. физ. - 2021. - Т. 47, Вып. 3. - С. 7-10, DOI 10.21883/PJTF.2021.03.50566.18429. - Библиогр.: 14. - Исследования проведены при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 18-02-00161-а) . - ISSN 0320-0116
Кл.слова (ненормированные):
обменное взаимодействие -- магнитные пружины -- эллипсометрия -- магнитооптический эффект Керра
Аннотация: Представлены результаты исследования оптических и магнитооптических свойств трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py (Py - пермаллой). Для изучения температурной зависимости намагниченности использовался магнитооптический эффект Керра, а для измерения оптических показателей преломления и поглощения - метод спектральной эллипсометрии. Показано, что толщина прослойки висмута влияет на обменное взаимодействие между слоями пермаллоя и DyCo, что проявляется в изменении температуры компенсации намагниченности, а также в изменении характера обменного взаимодействия.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Optical and magnetic properties of the DyxCo1-x/Bi/Py trilayers [Текст] / N. N. Kosyrev, V. Y. Yakovchuk, G. S. Patrin [et al.] // Tech. Phys. Lett. - 2021. - Vol. 47 Is. 2.- P.107-110

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Ачинский филиал Красноярского государственного аграрного университета, Ачинск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Яковчук, Виктор Юрьевич; Yakovchuk, V. Yu.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Комаров, Василий Андреевич; Komarov V. A.; Волченко, Е. Н.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.
}
Найти похожие