Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Kosyrev, N. N.$<.>)
Общее количество найденных документов : 111
Показаны документы с 1 по 20
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Швец, Василий Александрович, Михайлов Н. Н., Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - ISSN 0044-4642
Примечания : Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Швец В.А., Рыхлицкий С.В., Спесивцев Е.В., Прокофьев .Ю.
Заглавие : Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии
Место публикации : Журнал структурной химии. - 2010. - Т. 51, № 1. - С. 104-108
Читать в сети ИФ
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Швец В. А., Рыхлицкий С. В., Спесивцев Е. В., Прокопьев В. Ю.
Заглавие : Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция
Место публикации : 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009: Новосибирск, 11-16 окт. 2009 г. : тезисы докл. - Новосибирск, 2009. - С. 45
Читать в сети ИФ
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Ферромагнетизм при комнатной температуре в двухслойной структуре Dy[1-x]Ni[x]/Ni: магнитооптические измерения in situ
Место публикации : Письма в "Журн. эксперим. и теор. физ.". - 2008. - Т. 88, Вып. 1-2. - С. 152-154. - ISSN 0370-274X
ГРНТИ : 29.19.39
Аннотация: Исследованы in situ двухслойные структуры Dy[1-x]Ni[z]/Ni непосредственно в сверхвысоковакуумной камере в процессе напыления с помощью поверхностного меридионального эффекта Керра по оригинальной методике. Показано ферромагн. упорядочение в слое сплава Dy[1-x]Ni[x] при комнатной температуре
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co
Место публикации : Журн. техн. физ. - 2019. - Т. 89, Вып. 2. - С. 268-273. - ISSN 0044-4642, DOI 10.21883/JTF.2019.02.47082.198-18
Примечания : Библиогр.: 18. - Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 18-02-00161-а).
Аннотация: Представлены экспериментальные результаты для системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co с буферным слоем из Al2O3, полученные методом ионно-плазменного распыления. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления ионно-плазменным методом распыления и скорости напыления ему предшествующих слоев. Показано, что метод получения буферных слоев позволяет значительно снизить шероховатость поверхности последующих слоев. Полученные буферные слои могут быть использованы в качестве искусственных подложек для выращивания гетероструктур с туннельными переходами.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2583959!-988666158
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич
Заглавие : Способ определения матрицы мюллера .-
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2016. - № 13
Аннотация: Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0WΨ0WΔ45; D: P-45D0SR0WΨ45WΔ45, а компоненты матрицы Мюллера Sij определяют, решая систему линейных уравнений. Изобретение обеспечивает возможность полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца, для нахождения всех компонент матрицы Мюллера.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2560148!-469310745
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Способ измерения магнитооптических эффектов in situ .-
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 23
Аннотация: Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2660765!-934235450
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей Николаевич, Яковлев, Иван Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Заблуда, Владимир Николаевич
Заглавие : Способ бесконтактного измерения температуры in situ .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2018. - № 19
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др. Заявлен способ бесконтактного измерения температуры in situ, заключающийся в том, что образец освещают поляризованным светом и измеряют изменение интенсивности при отражении. В процессе измерения регистрируют отраженное от поверхности образца электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне 300-900 нм. Анализируют изменение интенсивности после отражения и находят температуру, решая следующее уравнение: M(T)=F(T), где М(Т) - среднее арифметическое данных об интенсивности со всех четырех фотоприемников эллипсометра, зависящее от температуры, F(T) - функция, вид которой зависит от исследуемого материала. Новым является то, что для зондирующего пучка задают состояние линейной поляризации с поворотом 0° и накапливают массив данных для дальнейшего усреднения, а также то, что предложенный способ позволяет измерять температуру образца от температуры 4 K до его термического разрушения. Технический результат - повышение точности измерения температуры in situ независимо от структуры отражающей поверхности и при температурах до 4 K. 2 ил.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич
Заглавие : Система управления испарителями в установке молекулярно-лучевой эпитаксии «Ангара»
Коллективы : Всероссийская научная конференция студентов-физиков и молодых учёных, Ассоциация студентов-физиков и молодых учёных России, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Российское физическое общество, Институт электрофизики УрО РАН
Место публикации : Десятая Всероссийская научная конференция студентов-физиков и молодых ученых (ВНКСФ-10): информ. бюллетень : сборник тезисов : в 2-х ч./ предс. науч. ком. М. В. Садовский. - Екатеринбург, 2004. - Ч. 2. - С. 1036-1037
Материалы конференции
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2015616615!-287456437
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW) .-
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 7
Аннотация: Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.
Смотреть свид-во
Найти похожие
11.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO
Коллективы : "Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники", Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием, Башкирский государственный университет
Место публикации : Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники: сборник тез. докл. V Всерос. науч. молод. конф. с междунар. участием. - 2018. - С. 185. - ISBN 978-5-7477-4646-6
РИНЦ,
Материалы конференции
Найти похожие
12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co
Коллективы : Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием, Башкирский государственный университет
Место публикации : Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники: сб. тез. докл. V Всерос. науч. молодежной конф. с междунар. участием. - Уфа, 2018. - С. 185-185. - ISBN 978-5-7477-4646-6 (Шифр 35377001)
РИНЦ,
РИНЦ
Найти похожие
13.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Патрин, Геннадий Семёнович, Турпанов, Игорь Александрович, Юшков, Василий Иванович, Кобяков, Александр Васильевич, Патрин, Константин Геннадьевич, Юркин, Глеб Юрьевич, Косырев, Николай Николаевич, Кисленко С. А.
Заглавие : Синтез и магнитные свойства трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi
Коллективы : "Нанофизика и наноэлектроника", международный симпозиум
Место публикации : Нанофизика и наноэлектроника: Труды XX междунар. симп. - 2016. - Т. 1. - С. 238-239. - ISBN 978-5-91326-378-0
Примечания : Библиогр.: 5. - Работа выполняется при финансовой поддержке РФФИ (грант № 14-02-00238-а)
Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований впервые полученных пленок в системе «магнитожесткий ферромагнетик (CoNi)-магнитомягкий ферромагнетик (FeNi)», взаимодействующих через немагнитную полупроводниковую прослойку кремния (Si). Проведены температурные и полевые исследования структур в зависимости от толщины кремния. Показано, что многослойная структура обладает свойствами, присущими магнитным пружинам. При низких температурах наблюдается эффект обменного смещения.
Материалы симпозиума
Найти похожие
14.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Шевцов, Дмитрий Валентинович, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Худяков, Алексей Евгеньевич, Ефремов А. В.
Заглавие : Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсо метрическими методами in situ
Коллективы : Байкальская Международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет, Восточно-сибирская государственная академия образования
Место публикации : Магнитные материалы. Новые технологии: BICMM 2010: тез. докл. IV Байкал. междунар. конф. - Иркутск, 2010. - С. 163-164
Найти похожие
15.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Шайдуров А. В., Овчинников, Сергей Геннадьевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич
Заглавие : Реализация серверного программного обеспечения для получения кремниевых пленок
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 119 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Получение, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы AL2O3/GE-P/AL2O3/CO
Место публикации : Изв. РАН. Сер. физич. - 2019. - Т. 83, № 7. - С. 947-949. - ISSN 0367-6765, DOI 10.1134/S0367676519070226
Примечания : Библиогр.: 5
Аннотация: В работе представлены экспериментальные результаты структурных и магнитных измерений для пленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co. Структура получена методом ионно-плазменного распыления и перспективна в качестве туннельной гетероструктуры. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления и скорости напыления предшествующих слоев.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
17.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович, Косырев, Николай Николаевич
Заглавие : Получение, структура и магнитные свойства системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co
Коллективы : "Новое в магнетизме и магнитных материалах", международная конференция, Научный совет по физике конденсированных сред РАН, МИРЭА - Российский технологический университет, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Магнитное общество России, Образовательная компания "Альбион"
Место публикации : Новое в магнетизме и магнитных материалах: сборник трудов XXIII международной конференции/ прогр. ком.: Р. С. Исхаков, С. Г. Овчинников [и др.]. - 2018. - С. 580-581
Примечания : Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 18-02-00161-а)
Материалы конференции
Найти похожие
18.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С.В., Спесивцев Е.В., Прокопьев В.Ю.
Заглавие : Перспективы магнитной спектроэллипсометрии in situ
Коллективы : Межрегиональная конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов
Место публикации : XII Межрегиональная конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов (ПДММ-2009): Владивосток, 17-20 июня 2009 г. : сб. тр. - Владивосток, 2009. - С. 168-171. - ISBN 978-5-7442-1475-3
Найти похожие
19.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Спесивцев Е. В., ПРокопьев В. Ю.
Заглавие : Перспективы магнитной спектроэллипсометрии in situ
Коллективы : Дальневосточное отделение РАН
Место публикации : 12-я Конференция молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических и магнитных материалов (ПДММ - 2009), Владивосток, 17-20 июня, 2009. - Владивосток: ИАПУ ДВО РАН, 2009. - С. 168-171. - ISBN 978-5-7442-1475-3
ГРНТИ : 29.19.22
Аннотация: Показаны перспективы нового метода магн. эллипсометрии для исследования структурных, оптических и магн. свойств наноматериалов. На примере тонких пленок железа демонстрируется возможность одновременного измерения как оптических, так и магн. характеристик непосредственно в процессе роста. Развитый подход позволяет in situ исследовать сложные многослойные наноструктуры
Найти похожие
20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция
Место публикации : Журн. структ. химии. - Новосибирск: Изд-во СО РАН, 2014. - Т. 55, № 6. - С. 1190-1197. - ISSN 0136-7463
Примечания : Библиогр.: 8. - Работа выполнена при финансовой поддержке Программы Президента России по поддержке ведущих научных школ НШ 2886.2014.2, Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265, № 14-02-01211), Министерства образования и науки Российской Федерации (Соглашение 14.604.21.0002, Государственный контракт № 02.G25.31.0043), а также Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (программа "У.М.Н.И.К.", договор № 0003831).
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): магнитоэллипсометрия--эллипсометрические измерения--магнитооптический эффект керра--тонкие пленки--модель полубесконечной среды--коэффициент преломления--коэффициент поглощения--магнитооптический параметр
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)