Поисковый запрос: (<.>A=Moiseenko, E. T.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Моисеенко Е. Т. Структурные фазовые превращения и атомное упорядочение при твердофазных реакциях в тонкопленочных системах Cu/Au и Pd/Fe/Е. Т. Моисеенко ; науч. рук. С. М. Жарков. - 2014
|
2.
| Моисеенко Е. Т. Структурные фазовые превращения и атомное упорядочение при твердофазных реакциях в тонкопленочных системах Cu/Au и Pd/Fe/Е. Т. Моисеенко ; науч. рук. С. М. Жарков ; офиц. опп.: Ю. Л. Михлин, Э. В. Козлов. - 2014
|
3.
| Peculiarities of Intermetallic Phase Formation in the Process of a Solid State Reaction in (Al/Cu)n Multilayer Thin Films/E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov, R. R. Altunin [et al.] // JOM, 2021. т.Vol. 73,N Is. 2.-С.580-588
|
4.
| Correction to: Peculiarities of intermetallic phase formation in the process of a solid state reaction in (Al/Cu)n multilayer thin films (vol 73, pg 580, 2021)/E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov, R. R. Altunin [et al.] // JOM, 2021. т.Vol. 73,N Is. 6.-С.1988
|
5.
| Kinetic study of a solid-state reaction in Ag/Al multilayer thin films by in situ electron diffraction and simultaneous thermal analysis/S. M. Zharkov, R. R. Altunin, V. V. Yumashev [et al.] // Journal of Alloys and Compounds, 2021. т.Vol. 871.- Ст.159474
|
6.
| Жарков С. М. Твердофазная реакция в тонкопленочной системе Al/Ag/С. М. Жарков, Р. Р. Алтунин, Е. Т. Моисеенко // XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2020), 2020. т.Т. 2.-С.228-229
|
7.
| Moiseenko E. T. In situ electron diffraction and resistivity characterization of solid state reaction process in Cu/Al bilayer thin films/E. T. Moiseenko, R. R. Altunin, S. M. Zharkov // Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science, 2020. т.Vol. 51,N Is. 3.-С.1428-1436
|
8.
| Altunin R. R. Structural phase transformations during a solid-state reaction in a bilayer Al/Fe thin-film nanosystem/R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov // Physics of the Solid State, 2020. т.Vol. 62,N Is. 1.-С.200-205
|
9.
| Altunin R. R. Effect of the structural properties on the electrical resistivity of the Al/Ag thin films during the solid-state reaction/R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov // Physics of the Solid State, 2020. т.Vol. 62,N Is. 4.-С.708-713
|
10.
| Thermokinetic study of intermetallic phase formation in an Al/Cu multilayer thin film system/E. T. Moiseenko, V. V. Yumashev, R. R. Altunin [et al.] // Materialia, 2023. т.Vol. 28.- Ст.101747
|
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН