Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Tarasov, I. A.$<.>)
Общее количество найденных документов : 130
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films/S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.105
2.

In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers/S. A. Lyashchenko [et al.] // Technical Physics, 2013. т.Vol. 58,N Is. 10.-С.1529-1532
3.

Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
4.

Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
5.

Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
6.

In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
7.

Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
8.

Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)/И. А. Яковлев [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики:Наука, 2014. т.Т. 99,N Вып. 9-10.-С.610 – 613
9.

Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
10.

Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014. т.Т. 99,N Вып. 10.-С.651-655
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)