|
|
1.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов, И. А. Тарасов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск:СФУ, 2009.-С.187
|
2.
| Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии/Д. В. Шевцов [и др.] // Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. -Красноярск, 2009.-С.187-188
|
3.
| Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry, 2012
|
4.
| Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth/I. A. Tarasov [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. т.Vol. 57,N Is. 9.-С.1225-1229
|
5.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
6.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
7.
| In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers/S. A. Lyashchenko [et al.] // Technical Physics, 2013. т.Vol. 58,N Is. 10.-С.1529-1532
|
8.
| The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films/S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.105
|
9.
| Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
|
10.
| Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
|
11.
| Optical characteristics of an epitaxial Fe3Si/Si(111) iron silicide film/I. A. Tarasov [et al.] // JETP Letters, 2014. т.Vol. 99,N Is. 10.-С.565-569
|
12.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry, 2014.-С.81
|
13.
| Тарасов И. А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов ; науч. рук. С. Н. Варнаков ; офиц. опп.: Е. М. Артемьев, В. В. Коробцов. - 2014
|
14.
| Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014. т.Т. 99,N Вып. 10.-С.651-655
|
15.
| Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)/И. А. Яковлев [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики:Наука, 2014. т.Т. 99,N Вып. 9-10.-С.610 – 613
|
16.
| Study of the structural and magnetic characteristics of epitaxial Fe3Si/Si(111) films/I. A. Yakovlev [et al.] // JETP Letters, 2014. т.Vol. 99,N Is. 9.-С.527-530
|
17.
| Тарасов И. А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов ; науч. рук. С. Н. Варнаков. - 2014
|
18.
| Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si/И. А. Тарасов [и др.] // Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". -СПб., 2014.-С.351-352
|
19.
| Гетероструктуры силицидов железа – перспективные материалы спинтроники/С. Н. Варнаков [и др.] // Школа-конференция молодых ученых "Неорганические соединения и функциональные материалы" (ICFM-2015). -Новосибирск:ИНХ СО РАН, 2015.-С.26
|
20.
| Ferromagnetic resonance characterization of the single-crystal epitaxial Fe3Si film on the Si(111) substrate/M. V. Rautskii [et al.] // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015). -Vladivostok:Dalnauka, 2015.- Ст.III.24.04p
|
|
|
|
|
 Стандартный Расширенный Профессиональный Распределенный По словарю ГРНТИ-навигатор УДК-навигатор Тематический навигатор
Другие библиотеки
 Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
|
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН