Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Yakovlev, I. A.$<.>)
Общее количество найденных документов : 173
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

XMCD study of (Fe/Si)[[]d]N[[/d]] nanostructured films/M. S. Platunov [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.183
2.

Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
3.

Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // Journal of Magnetism and Magnetic Materials:Elsevier Science, 2014. т.Vol. 351.-С.104-108
4.

Magnetic anisotropy of Fe films on Si(001) with and without SiO2 buffer layer/S. V. Komogortsev, S. N. Varnakov, S. A. Satsuk // Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, 2013.-С.75-76
5.

Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
6.

In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
7.

Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
8.

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
9.

Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)/И. А. Яковлев [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики:Наука, 2014. т.Т. 99,N Вып. 9-10.-С.610 – 613
10.

Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014. т.Т. 99,N Вып. 10.-С.651-655
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)