|
|
1.
| Исследование начальных стадий эпитаксии на Si (100) методом дифракции отраженных быстрых электронов/И. А. Яковлев, С. Н. Варнаков // Решетневские чтения. -Красноярск, 2008.-С.245
|
2.
| Investigation of Fe structure formation on Si (100) molecular-beam epitaxy and solid-phase epitaxy/I. A. Yakovlev, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinyikov // Proceedings Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (ASCO-NANOMAT 2011), 2011
|
3.
| Characterization and magnetic properties of the iron silicides/S. G. Ovchinnikov, S. N. Varnakov, A. S. Fedorov [et al.] // Proceedings Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (ASCO-NANOMAT 2011), 2011
|
4.
| Characterization and physical properties of the iron silicide nanostructures/S. G. Ovchinnikov, S. N. Varnakov, A. S. Fedorov [et al.] // 19th International symposium "Nanostructures: physics and technology", 2011.- Ст.SRPN.17p.-С.55-56
|
5.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [и др.] // Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications, 2013.- Ст.P1-27.-С.260
|
6.
| In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers/V. N. Zabluda [et al.] // Proceedings of the international conference nanomaterials: application and properties, 2013. т.Vol. 2,N No. 3.-С.03AET11
|
7.
| Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.310
|
8.
| XMCD study of (Fe/Si)[[]d]N[[/d]] nanostructured films/M. S. Platunov [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism. -Vladivostok:FEFU, 2013.-С.183
|
9.
| Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry/N. N. Kosyrev [et al.] // 6th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, 2013.-С.205
|
10.
| Magnetic anisotropy of Fe films on Si(001) with and without SiO2 buffer layer/S. V. Komogortsev, S. N. Varnakov, S. A. Satsuk // Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, 2013.-С.75-76
|
11.
| Optical characteristics of an epitaxial Fe3Si/Si(111) iron silicide film/I. A. Tarasov [et al.] // JETP Letters, 2014. т.Vol. 99,N Is. 10.-С.565-569
|
12.
| Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis/I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry, 2014.-С.81
|
13.
| Магнитооптические свойства плёнок Fe3Si/Si(111) и Fe5Si3/SiO2/Si(001)/С. А. Лященко [и др.] // Магнитные материалы. Новые технологии. -Иркутск, 2014.-С.141
|
14.
| Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si/И. А. Тарасов [и др.] // Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". -СПб., 2014.-С.351-352
|
15.
| Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)/И. А. Яковлев [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики:Наука, 2014. т.Т. 99,N Вып. 9-10.-С.610 – 613
|
16.
| Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ/Н. Н. Косырев [и др.] // Журнал технической физики:Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. т.Т. 84,N Вып. 5.-С.109-112
|
17.
| Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates/S. V. Komogortsev [et al.] // Journal of Magnetism and Magnetic Materials:Elsevier Science, 2014. т.Vol. 351.-С.104-108
|
18.
| Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)/И. А. Тарасов [и др.] // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014. т.Т. 99,N Вып. 10.-С.651-655
|
19.
| Study of the structural and magnetic characteristics of epitaxial Fe3Si/Si(111) films/I. A. Yakovlev [et al.] // JETP Letters, 2014. т.Vol. 99,N Is. 9.-С.527-530
|
20.
| Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers/N. N. Kosyrev [et al.] // Technical Physics:MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. т.Vol. 59,N Is. 5.-С.736-739
|
|
|
|
|
 Стандартный Расширенный Профессиональный Распределенный По словарю ГРНТИ-навигатор УДК-навигатор Тематический навигатор
Другие библиотеки
 Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
|
|
|
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН