Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=контроль роста<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Lyashchenko S. A.
Заглавие : Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies
Место публикации : J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P.223-232. - ISSN 1997-1397, DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика"
Примечания : Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magneto-optical ellipsometry--kerr effect--two-layer model--ferromagnetic metal--reflection--growth control--магнито-оптическая эллипсометрия--эффект керра--двухслойная модель--ферромагнетик--отражение--контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие