Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (36)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=кремний<.>)
Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-17 
1.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Патрин, Геннадий Семёнович, Волков, Никита Валентинович, Великанов, Дмитрий Анатольевич, Закиева О. В.
Заглавие : Влияние ионов диспрозия на физические свойства кристалла моносилицида железа
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 68 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Исхаков, Рауф Садыкович, Чеканова, Лидия Александровна, Комогорцев, Сергей Викторович
Заглавие : Синтез и свойства композитов магнитный металл-пористый кремний
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 83 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Исхаков, Рауф Садыкович, Чеканова, Лидия Александровна, Комогорцев, Сергей Викторович
Заглавие : Структуры на основе пористого кремния и возможное их применение в микроэлектронике
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 84 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Патрин, Геннадий Семёнович, Великанов, Дмитрий Анатольевич, Волков, Никита Валентинович, Щеглова М. А.
Заглавие : Магнитные и резонансные свойства многослойных магнитных пленок с немагнитной кремниевой прослойкой
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 87 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Комогорцев, Сергей Викторович, Бондаренко, Геннадий Васильевич
Заглавие : Многослойные магнитные наноструктуры на основе кремния, полученные термическим испарением в сверхвысоком вакууме
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 92 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Паршин, Анатолий Сергеевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Александрова, Галина Алексеевна
Заглавие : Исследование интерфейса мультислоев Fe/Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 107 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Худяков, Алексей Евгеньевич
Заглавие : Автоматизированная система управления испарителями в установке молекулярно-лучевой эпитаксии
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 112 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Шайдуров А. В., Овчинников, Сергей Геннадьевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич
Заглавие : Реализация серверного программного обеспечения для получения кремниевых пленок
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства
Место публикации : Кремний-2006. Российское совещание по росту кристаллов и пленок кремния и исследованию их физических свойств и структурного совершенства. Кремний-2006: тезисы докладов. - Красноярск: ИФ СО РАН, 2006. - С. 119 (Шифр В37/К79-232591)
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Михалева Н. С., Кузубов, Александр Александрович, Попов, Захар Иванович, Еремина А. Д., Высотин, Максим Александрович
Заглавие : Теоретическое исследование внедрения атомов лития в кремний
Место публикации : Вестник СибГАУ. - Красноярск: СибГАУ, 2015. - Т. 16, № 2. - С. 456-463. - ISSN 1816-9724
Примечания : Библиогр.: 55
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диффузия--литий--кремний--dft--diffusion--lithium--silicon
Аннотация: Рассматривается процесс диффузии атомов лития в приповерхностные слои кремния (001). Расчеты выполнялись в рамках теории функционала плотности. Показано, что при малой концентрации лития на реконструированной поверхности кремния (001) энергия связи в подповерхностном слое ниже, чем на поверхности, что препятствует диффузии лития внутрь кристалла. Подобная ситуация существенно не меняется при увеличении температуры. Анализ частот перескока одиночных атомов лития с поверхности в приповерхностные слои показал, что в случае малых концентраций миграция атомарного Li будет осуществляться практически по одному пути реакции (из положения L-состояния, в котором литий находится в канале между димерами). При концентрации лития в два монослоя, наоборот, диффузия в подповерхностные слои становится более предпочтительна. Поскольку при достижении концентрации в один монослой происходит изменение симметрии димеров, диффузия лития внутрь кристалла также облегчается вследствие увеличения плотности положений в каналах между димерами. Таким образом, результат моделирования позволил объяснить причину экспериментального факта затруднения диффузии лития при прохождении через данную поверхность и определить пути возможной модификации поверхности, которая должна увеличить энергию связи атомов лития в приповерхностных состояниях при низких степенях заполнения им поверхности.The article deals with a theoretical investigation of lithium diffusion through silicon (001) surface within density functional theory formalism. It was shown that it is more energetically favorable for dilute lithium atoms to stay atop fully-relaxed silicon (001) surface than beneath it. This fact hampers the diffusion into the silicon crystal and the situation doesn't change significantly with increase in temperature. The frequencies of lithium atom hopping from the surface to the subsurface layers of silicon crystal were estimated. The analysis of frequencies for different transition paths indicates that in the case of dilute concentration Li atoms are likely to migrate through the surface from one type of sites (site L-located in channels between silicon dimers). With increasing of lithium concentration up to 1 monolayer and further, the silicon (001) surface swaps the asymmetric dimers reconstruction model for symmetric, leading to doubling of number of the sites in between silicon dimers. After the concentration reaches 2 monolayers, the binding energy of Li atoms on the surface becomes less than binding energy beneath the surface, so the diffusion turns to be thermodynamically allowed. As a result of the investigation, the ab-initio modeling puts light on the cause of experimentally observed decelerated lithium diffusion through silicon (001) surface and delivers an opportunity to determine possible techniques for surface modification, which will increase lithium atom binding energies in sites beneath silicon surface at low lithium concentrations.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Кузубов, Александр Александрович, Михалева Н. С., Попов, Захар Иванович, Краснов, Павел Олегович, Николаева К. М.
Заглавие : Теоретическое исследование влияния допирования поверхности Si (100) на сорбцию и диффузию лития
Место публикации : Вестник СибГАУ. - Красноярск, 2015. - Т. 16, № 3. - С. 743-749. - ISSN 1816-9724
Примечания : Библиогр.: 56. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ в рамках научных проектов No 14-02-31071, 14-02-31309. Авторы выражают благодарность информационно-вычислительному центру (ИВЦ) Новосибирского государственного университета (Новосибирск), Институту компьютерного моделирования СО РАН (Красноярск), Межведомственному суперкомпьютерному центру РАН (Москва), компьютерному центру СФУ, а также НИВЦ МГУ «Лаборатории параллельных информационных технологий» (система СКИФ МГУ «Ломоносов») за предоставление возможности использования вычислительных кластеров, на которых были проведены все расчеты.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диффузия--литий--кремний--кремний--допирование--метод функционала плотности (dft)--diffusion--lithium--silicon--doping--dft
Аннотация: В настоящее время перспективным анодным материалом нового поколения считается кремний, поскольку он имеет самую высокую теоретическую удельную емкость (4200 мАч/г). Однако одной из проблем, препятствующих широкому использованию данного материала, является медленная диффузия лития с поверхности кремния в объем, которая может быть решена с помощью модификации поверхности кремния. Проведено моделирование поверхностных процессов сорбции и диффузии лития в допированной поверхности Si (100) с помощью метода функционала плотности. В ходе исследования допирования Si (100) одиночными атомами B, Ga, Ge выявлено, что для всех выбранных нами допантов наиболее выгодны положения замещения кремния, а не адсорбции. Энергия связи допанта с пластиной кремния ослабевает в ряду от германия к галлию. Найдено, что атом бора замещает атом третьего слоя кремния, а германий и галлий занимают положение в первом слое. Тенденция первоначальной сорбции атомов лития в канале между димерами по сравнению с чистым материалом сохраняется и при допировании одиночными атомами B, Ga, Ge. Наблюдается значительное снижение (в случае бора) и увеличение (для галия и германия) энергетических барьеров перехода атома лития по поверхности кремниевой пластины. Величины энергетических барьеров перехода L-U с поверхности в приповерхностные слои при допировании возрастают на 0,05 эВ, что свидетельствует о замедлении данной стадии. В результате работы было обнаружено, что допирование бором, галлием и германием (концентрация составляет 0,3 атомных %) поверхности Si (100) не оказывает значительного влияния на сорбционные и диффузионные параметры.Currently, silicon is the most promising anode material for a new generation of lithium-ion batteries due to its very high theoretical specific capacity (4200 mAh/g). However, one of the problems hindering the wider use of this material is the slow diffusion of lithium from silicon surface into volume that can be solved by modifying silicon surface. The simulation of surface processes of sorption and diffusion of lithium in doped Si (100) was carried out by using the density functional method. In the study Si (100) doped with single atoms B, Ga, Ge, found that the silicon replacement compared to adsorption are more profitable for all dopants. The binding energy of dopant to silicon decreases from germanium to gallium. It was found that boron atom substitutes for the third layer of silicon, germanium and gallium occupy positions in the first layer. In comparison with the pure material the trend of initial lithium sorption in the channel between silicon dimmers retain for Si (100) doped with single atoms of B, Ga, Ge. Energy barriers of lithium transition on silicon surface substantially reduce (in the case of boron) and increase (in the case of gallium and germanium). The energy barrier of transition from surface to surface layers L-U during the doping increases by 0.05 eV, this shows a moderation of the stage. According to the study, Si (100) doping with boron, gallium and germanium (concentration of 0.3 atomic %) has not significant influence on sorption and diffusion parameters.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
 1-10    11-17 
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)