Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=магнитоэллипсометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция
Место публикации : Журн. структ. химии. - Новосибирск: Изд-во СО РАН, 2014. - Т. 55, № 6. - С. 1190-1197. - ISSN 0136-7463
Примечания : Библиогр.: 8. - Работа выполнена при финансовой поддержке Программы Президента России по поддержке ведущих научных школ НШ 2886.2014.2, Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265, № 14-02-01211), Министерства образования и науки Российской Федерации (Соглашение 14.604.21.0002, Государственный контракт № 02.G25.31.0043), а также Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (программа "У.М.Н.И.К.", договор № 0003831).
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): магнитоэллипсометрия--эллипсометрические измерения--магнитооптический эффект керра--тонкие пленки--модель полубесконечной среды--коэффициент преломления--коэффициент поглощения--магнитооптический параметр
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015): proceedings. - Vladivostok: Dalnauka, 2015. - Ст.VII.25.01o. - ISBN 978-5-8044-1556-4
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Zabluda V. N., Maximova O. A.
Заглавие : In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Solid State Phenom.: Selected, peer reviewed papers/ ed. N. Galkin: Trans Tech Publications Ltd, 2016. - Vol. 245: Physics and Technology of Nanostructured Materials III. - P.55-59. - ISSN 1662-9779, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.245.55. - ISSN 9783038356820
Примечания : Cited References: 7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ferromagnetic nanostructures--generalized magneto-optical ellipsometry--mueller matrix--polarized light
Аннотация: We develop the method for determining the Mueller matrix elements using standard photometric ellipsometer. Small ellipsometer design changes give an opportunity to completely determine all elements of the Mueller matrix. It is shown how the values of Mueller matrix elements can be obtained from the measurements at different azimuthal positions of optical units. © (2016) Trans Tech Publications, Switzerland.
Смотреть статью,
Scopus
Найти похожие