Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=модель случайной анизотропии<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy
Место публикации : J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 1. - P.132-135. - ISSN 1997-1397, DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-1-132-135; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика"
Примечания : Cited References: 10. - This work was supported by Russian Science Foundation (project no. 16-12-10140).
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): micromagnetic simulation--nanocrystallites--random anisotropy model--thin magnetic film--микромагнитное моделирование--тонкая магнитная пленка--нанокристаллиты--модель случайной анизотропии
Аннотация: The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films. © Siberian Federal University. All rights reserved.Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6 1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры "ряби намагниченности".
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие