Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=пленка<.>)

Общее количество найденных документов : 25
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-25

    Ориентация нематика полимерной пленкой, текстурированной методом штамповой нанолитографии / М. Н. Крахалев, В. С. Тумашев, В. А. Селезнев [и др.] // Жидк. крист. и их практич. использ. - 2024. - Т. 24, № 2. - С. 83-92 ; Liq. Cryst. Appl., DOI 10.18083/LCAppl.2024.2.83. - Библиогр.: 20. - Исследование выполнено в рамках научной программы Национального центра физики и математики, направление № 1 "Национальный центр исследования архитектур суперкомпьютеров. Этап 2023-2025" и госзаданий Сибирского отделения Российской академии наук . - ISSN 1991-3966. - ISSN 2499-9644
   Перевод заглавия: Nematic orientation with polymer film textured by stamp nanolithography method
Кл.слова (ненормированные):
полимер -- ориентирующая пленка -- метод нанопечати -- нематик -- линейный дефект -- polymer -- orienting film -- nanoprinting method -- nematic -- linear defect
Аннотация: Исследованы жидкокристаллические ячейки, в которых планарная ориентация директора задавалась пленками полимера SU-8, обработанны-ми по технологии штамповой нанопечати. В результате текстурирования ориентирующая поверхность пленок представляет собой гребне-образную решетку, профиль которой зависит от температуры обработки. В ячейках, заполненных нематическим ЖК Е7, формируется одно-родная ориентационная структура с небольшим количеством поверхностных линейных дефектов на обеих подложках. Данные дефекты не образуются в ЖК-ячейках с асимметричными подложками, одна из которых покрыта пленкой SU-8, а вторая – натертой пленкой нейлон-6. Показано, что угол преднаклона директора на исследуемых пленках SU-8 близок к нулю, при этом пленки задают сильную полярную энергию сцепления для нематика Е7. Полученные результаты представляют интерес для разработки методов изготовления ЖК-устройств с применением технологий нанопечати ориентирующих полимерных пленок.
Liquid crystal cells, in which the planar director orientation is specified by SU-8 polymer films treated by the stamp nanoprinting method, have been studied. The orienting film surface after texturing represents a comb-shaped lattice, the profile of which depends on the processing temperature. In cells filled with nematic LC E7, a homogeneous orientational structure with a small number of surface linear defects on both substrates is formed. These defects do not appear in LC cells with asymmetric substrates, when one of them is coated with an SU-8 film, and the other one is covered with a rubbed nylon-6 film. It has been shown that the director pre-tilt angle on the studied SU-8 films is close to zero and the films set a strong polar anchoring energy for the nematic E7. The results obtained are of interest for the development of methods for manufacturing LC devices using technologies for nanoprinting of orienting polymer films.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук – обособленное подразделение ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирского федерального университета, Красноярск, Россия
Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, Новосибирск, Россия

Доп.точки доступа:
Крахалев, Михаил Николаевич; Krakhalev, M. N.; Тумашев, В. С.; Селезнев, В. А.; Комонов, А. И.; Мутилин, С. В.; Принц, А. В.; Фейзер, Кристина Андреевна; Feyzer, K. A.; Лесной, М. А.; Lesnoy, M. A.; Сутормин, Виталий Сергеевич; Sutormin, V. S.; Баранник, Алексей Владимирович; Barannik, A. V.; Прищепа, Оксана Олеговна; Prishchepa, O. O.; Зырянов, Виктор Яковлевич; Zyryanov, V. Ya.

}
Найти похожие

Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, A. A. Горчаковский [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9, DOI 10.17223/00213411/64/1/3. - Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллиты -- тонкая магнитная пленка -- случайная магнитная анизотропия -- "рябь" намагниченности -- структурная константа -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films [Текст] / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. A. Gorchakovskii [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64 Is. 1.- P.1-8

Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovskii A. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

Доменная структура и процессы перемагничивания многослойных систем из тонких пленок пермаллоя с немагнитными прослойками / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. В. Изотов, П. Н. Соловьев // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 6. - С. 170-176, DOI 10.17223/00213411/64/6/170. - Библиогр.: 30. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования в рамках соглашения № 075-11-2019-054 от 22.11.2019 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- многослойная магнитная пленка -- доменная структура -- петля гистерезиса -- микрополосковый резонатор -- датчик магнитного поля
Аннотация: Микромагнитным моделированием многослойных тонкопленочных структур, состоящих из магнитных слоев, разделенных немагнитными прослойками, исследовано формирование доменной структуры и процессы перемагничивания. Магнитные слои из пермаллоя (Ni80Fe20) обладают одноосной в плоскости и перпендикулярной магнитной анизотропией. Обнаружено, что при уменьшении толщины прослоек планарная конфигурация магнитных моментов в пермаллоевых слоях трансформируется из однодоменного состояния в страйп-структуру, что обусловлено ростом магнитостатического взаимодействия слоев. В структурах с «толстыми» прослойками даже слабое магнитостатическое взаимодействие заставляет соседние однодоменные пермаллоевые слои иметь противоположную ориентацию магнитных моментов, при этом поле насыщения таких образцов линейно увеличивается с ростом количества слоев. Анализ динамических характеристик тонкопленочной структуры позволил определить оптимальное количество слоев, обеспечивающее максимальный коэффициент преобразования широкополосного микрополоскового СВЧ-датчика слабых магнитных полей.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Domain structure and magnetization reversal in multilayer structures consisting of thin permalloy films separated with nonmagnetic interlayers [Текст] / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64 Is. 6.- P.1160-1167

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

Структурные особенности и магнитные свойства пленок Co–W / В. О. Васьковский, М. Н. Волочаев, А. Н. Горьковенко [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2021. - Т. 63, Вып. 7. - С. 915-922, DOI 10.21883/FTT.2021.07.51042.046. - Библиогр.: 23. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации, тема N FEUZ-2020-0051 . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
пленка -- легирование -- подложка -- структура -- магнитные свойства
Аннотация: Исследованы структура и магнитные свойства тонких поликристаллических пленок Co100-xWx (0≤ x≤30), осажденных методом магнетронного распыления на стеклянные подложки, в том числе содержащие буферные слои Ta, W, Ru. Установлено что пленки чистого Со неоднофазны и содержат ГПУ- и ГЦК-кристаллические модификации. Легирование ведет к повышению концентрации ГЦК-фазы и усилению текстуры типа (111), а в последующем к аморфизации пленок. На глубину и концентрационную локализацию указанных преобразований определенное влияние оказывают буферные слои. Характерной особенностью магнетизма пленок Co–W является значительная перпендикулярная составляющая в макроскопической магнитной анизотропии, приводящая к "закритическому" магнитному состоянию. Показано, что ее источником выступает текстурированная ГЦК-фаза, кристаллическая анизотропия которой усиливается в результате легирования кобальта вольфрамом.

Смотреть статью,
РИНЦ

Переводная версия Structural features and magnetic properties of Co-W films [Текст] / V. O. Vas'kovskiy, M. N. Volochaev, A. N. Gorkovenko [et al.] // Phys. Solid State. - 2021. - Vol. 63. Is. 7.- P.1113-1119

Держатели документа:
Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Васьковский, В. О.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Горьковенко, А. Н.; Кравцов, Е. А.; Лепаловский, В. Н.; Фещенко, А. А.
}
Найти похожие

Особенности поведения магнитных характеристик вблизи краев тонких пермаллоевых пленок / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. В. Изотов [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2020. - Т. 63, № 1. - С. 17-23, DOI 10.17223/00213411/63/1/17. - Библиогр.: 23. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, соглашение № 02.G25.31.0313 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
тонкая магнитная пленка -- ферромагнитный резонанс -- краевые эффекты -- магнитная анизотропия
Аннотация: С помощью сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса (ФМР) изучены магнитные свойства нанокристаллических тонких пленок, изготовленных методом магнетронного распыления мишеней пермаллоя различного состава NixFe1-x (x = 0.6-0.85). Проведен анализ особенностей поведения основных магнитных характеристик вблизи краев тонких пленок. Показано, что вблизи краев пленок не только значительно отклоняется величина поля одноосной магнитной анизотропии от среднего значения, но и резко уширяется линия ФМР, а также уменьшается эффективная намагниченность насыщения.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Magnetic properties of permalloy thin film edges [Текст] / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. V. Izotov [et al.] // Russ. Phys. J. - 2020. - Vol. 63 Is. 1.- P.16-22

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Скоморохов, Георгий Витальевич; Skomorokhov, G. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

Микромагнитный анализ краевых эффектов в тонкой магнитной пленке при локальном возбуждении колебаний намагниченности / Б. А. Беляев, А. В. Изотов, Г. В. Скоморохов, П. Н. Соловьев // Изв. вузов. Физика. - 2020. - Т. 63, № 5. - С. 116-121, DOI 10.17223/00213411/63/5/116. - Библиогр.: 19. - Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 18-32-00086 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- тонкая магнитная пленка -- краевые эффекты -- ферромагнитный резонанс -- магнитная анизотропия
Аннотация: Методом численного микромагнитного моделирования исследована динамика намагниченности тонкой пленки с одноосной магнитной анизотропией при возбуждении в ней ферромагнитного резонанса (ФМР) на локальных участках линейно-поляризованным высокочастотным магнитным полем, излучаемым из отверстия диаметром 1 мм в металлическом экране линии. Установлено, что неоднородности полей размагничивания, возникающие вблизи краев пленки, приводят не только к изменению поля ФМР, но и к изменению величины и направления поля одноосной анизотропии. Распределение неоднородностей характеристик магнитной анизотропии по площади пермаллоевой пленки толщиной 60 нм, измеренных на сканирующем спектрометре ФМР, хорошо согласуются с результатами микромагнитного моделирования. Доказано, что краевые эффекты в магнитных пленках в основном обусловлены размагничивающими полями.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Micromagnetic analysis of edge effects in a thin magnetic film during local excitation of magnetization oscillations [Текст] / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, G. V. Skomorokhov, P. N. Solovev // Russ. Phys. J. - 2020. - Vol. 63 Is. 5.- P.837-843

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Скоморохов, Георгий Витальевич; Skomorokhov, G. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

Теоретическое исследование умножителя частоты на основе нерегулярного четвертьволнового микрополоскового резонатора с тонкой магнитной пленкой / Б. А. Беляев, А. В. Изотов, А. А. Лексиков [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2020. - Т. 63, № 9. - С. 3-14, DOI 10.17223/00213411/63/9/3. - Библиогр.: 21. - Работа выполнена при финансовой поддержке РНФ в рамках научного проекта № 19-72-10047 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
микрополосковый резонатор -- тонкая магнитная пленка -- умножение частоты -- нелинейные колебания намагниченности
Аннотация: Теоретически исследованы характеристики удвоителя частоты на резонансной микрополосковой структуре с тонкой магнитной пленкой. Электродинамический расчет структуры выполнен в рамках квазистатического приближения. Нелинейный отклик намагниченности пленки вычислен с учетом членов второго порядка в уравнении Ландау - Лифшица. Рассчитана амплитудно-частотная характеристика микрополоскового резонатора. Показано, что благодаря использованию резонансной схемы достигается высокая эффективность преобразования энергии входного сигнала в выходной сигнал на удвоенной частоте. Определены оптимальные значения величины и направления внешнего постоянного магнитного поля, обеспечивающего максимальную выходную мощность на удвоенной частоте.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Theoretical study of the frequency multiplier based on irregular quarter-wavelength microstrip resonator with thin magnetic film [Текст] / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, A. A. Leksikov [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 63 Is. 9.- P.1447-1460

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Лексиков, Андрей Александрович; Leksikov, An. A.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.; Тюрнев, Владимир Вениаминович; Tyurnev, V. V.
}
Найти похожие

Измерительный комплекс для проведения исследований магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок / С. А. Клешнина, А. Н. Бабицкий, Н. М. Боев [и др.] // Усп. совр. радиоэлектрон. - 2019. - № 12. - С. 66-70, DOI 10.18127/j20700784-201912-10. - Библиогр.: 6. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, соглашение 02.G25.31.0313 . - ISSN 2070-0784
Кл.слова (ненормированные):
тонкая магнитная пленка -- измерительный комплекс
Аннотация: Постановка проблемы. Изучение свойств ферромагнитных пленок способствует решению фундаментальных проблем физики магнитных явлений, развитию теории ферромагнетизма. Для исследования и проектирования тонкопленочных устройств необходимо использовать надежные методы их диагностики, современное программное и аппаратное обеспечение. Поэтому в настоящее время актуальна задача разработки устройств и методов для измерений магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок. Цель. Создать комплекс для локальных измерений магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок, обладающий одновременно высокой чувствительностью и возможностью изменения степени локальности измерений в широких пределах. Результаты. Рассмотрен новый измерительный комплекс, предназначенный для исследования магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок. Представлена схема измерительного комплекса магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок, приведено развернутое описание конструкции, методики измерений и результаты эксперимента, подтверждающие, что измерительный комплекс реализует заявленные характеристики. Практическая значимость. Предложен новый измерительный комплекс, предназначенный для локальных измерений магнитных характеристик тонких ферромагнитных пленок, пригодный для неразрушающего контроля качества и однородности тонких магнитных пленок, обладающий высокой чувствительностью и возможностью изменения степени локальности проводимых измерений в широких пределах.

РИНЦ
Держатели документа:
Сибирский федеральный университет
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Клешнина, Софья Андреевна; Kleshnina, S. A.; Бабицкий, Александр Николаевич; Babitskii, A. N.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Бурмитских, Антон Владимирович; Burmitskikh, A. V.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovsky, A. A.
}
Найти похожие

Исследование датчика слабых магнитных полей на резонансной микрополосковой структуре с тонкой ферромагнитной пленкой / Б. А. Беляев [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 8. - С. 3-10. - Библиогр.: 19. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, проект № RFMEFI60417X0179. . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
микрополосковый резонатор -- тонкая магнитная пленка -- амплитудно-частотная характеристика -- датчик слабых магнитных полей -- добротность -- матрица рассеяния -- магнитометр
Аннотация: Исследованы характеристики миниатюрного датчика слабых магнитных полей на резонансной микрополосковой структуре с тонкой ферромагнитной пленкой. В квазистатическом приближении рассчитана амплитудно-частотная характеристика нерегулярного микрополоскового резонатора, содержащего анизотропную магнитную пленку. Резонатор подключен к линиям передачи через емкости связи. Определены оптимальные углы направления постоянного магнитного поля смещения, обеспечивающего максимальную чувствительность датчика. Исследовано влияние угловой и амплитудной дисперсии одноосной магнитной анизотропии тонкой пленки на характеристики датчика. Закономерности, полученные в результате исследований, качественно согласуются с экспериментальными результатами.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Study of the weak field sensor on the resonant microstrip structure with a thin ferromagnetic film [Текст] / B. A. Belyaev [et al.] // Russ. Phys. J. - 2018. - Vol. 61 Is. 8.- P.1367-1375

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovyev, P. N.; Тюрнев, Владимир Вениаминович; Tyurnev, V. V.
}
Найти похожие

10.

    Belyaev, B. A.
    Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 1. - P. 132-135 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-1-132-135. - Cited References: 10. - This work was supported by Russian Science Foundation (project no. 16-12-10140). . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией
Кл.слова (ненормированные):
Micromagnetic simulation -- Nanocrystallites -- Random anisotropy model -- Thin magnetic film -- микромагнитное моделирование -- тонкая магнитная пленка -- нанокристаллиты -- модель случайной анизотропии
Аннотация: The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films. © Siberian Federal University. All rights reserved.
Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6 1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры "ряби намагниченности".

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Institute of Engineering Physics and Radio Electronics, Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич

}
Найти похожие