1. ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/printer.jpg)
|
Вид документа : Статья из журнала Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Горчаковский, Александр Антонович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/64/1/3 Примечания : Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью, РИНЦ, Читать в сети ИФ Найти похожие
|