Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=тонкие пленки<.>)

Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-19

Экспериментальное исследование коэффициента теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок / И. А. Тамбасов, А. С. Воронин, Н. П. Евсевская [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2020. - Т. 62, Вып. 6. - С. 960-964, DOI 10.21883/FTT.2020.06.49358.625. - Библиогр.: 21. - Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, Правительства Красноярского края, Красноярского краевого фонда науки в рамках научного проекта: ”Исследование коэффициента теплопроводности и структурных особенностей в тонких наноструктурированных оксидных пленках, перспективных для термоэлектрического применения“ (проект No 18-42-243010) и стипендии Президента Российской Федерации (СП-2235.2019.1) . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
одностенные углеродные нанотрубки -- вакуумная фильтрация -- тонкие пленки -- коэффициент теплопроводности
Аннотация: Тонкие пленки на основе одностенных углеродных нанотрубок с толщиной от 11±3 до 157± 18 nm были сформированы с помощью вакуумной фильтрации. Коэффициент теплопроводности в тонких пленках был исследован в зависимости от толщины и температуры до 450 K с помощью 3omega-метода. Обнаружено, что в области 49 nm подведенное тепло от золотой полоски начинало эффективно распространяться в плоскость тонкой пленки. Коэффициент теплопроводности для тонких пленок с толщиной от 49± 8 nm был измерен согласно 3omega-метода для объемных образцов. Было обнаружено, что коэффициент теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок сильно зависит от толщины и температуры. Коэффициент теплопроводности резко повышался (~ 60 раз) при увеличении толщины с 11± 3 до 65± 4 nm. Kроме этого, было выявлено, что коэффициент теплопроводности для 157± 18 nm тонкой пленки стремительно уменьшался с 211± 11 до 27.5± 1.4 W·m-1·K-1 для 300 и 450 K соответственно.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ,
РИНЦ

Переводная версия Experimental study of the thermal conductivity of single-walled carbon nanotube-based thin films [Текст] / I. A. Tambasov, A. S. Voronin, N. P. Evsevskaya [et al.] // Phys. Solid State. - 2020. - Vol. 62 Is. 6.- P.1090-1094

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН, Красноярск, Россия
Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Воронин, А. С.; Евсевская, Н. П.; Кузнецов, Ю. М.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Luk'yanenko, A. V.; Тамбасова, Е. В.; Горнаков, М. О.; Gornakov M. O.; Дорохин, М. В.; Логинов, Ю. Ю.
}
Найти похожие

Формирование интерметаллида Cu6Sn5 в тонких пленках Cu/Sn / Л. Е. Быкова, С. М. Жарков, В. Г. Мягков [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2021. - Т. 63, Вып. 12. - С. 2205-2209, DOI 10.21883/FTT.2021.12.51685.139. - Библиогр.: 16. - Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 19-43-240003). Электронно-микроскопические исследования проведены в Красноярском региональном центре коллективного пользования ФИЦ КНЦ СО РАН и лаборатории электронной микроскопии ЦКП СФУ, поддержанной в рамках государственного задания Министерства науки и высшего образования Российской Федерации (код научной темы FSRZ-2020-0011) . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- интерметаллид Cu6Sn5 -- просвечивающая электронная микроскопия -- дифракция электронов
Аннотация: Исследовано формирование интерметаллида Cu6Sn5 в двухслойных тонких пленках Sn(55 nm)/Cu(30 nm) при нагреве непосредственно в колонне просвечивающего электронного микроскопа (режим дифракции электронов) от комнатной температуры до 300°C с фиксацией электронограмм. Полученные в результате твердофазной реакции пленки были монофазными и состояли из гексагональной η-Cu6Sn5 фазы. Установлен температурный интервал образования η-Cu6Sn5 фазы (95-260°C). На основании проведенной оценки эффективного коэффициента взаимной диффузии при реакции (5·10-16 m2/s) предположено, что основным механизмом образования тонких пленок Cu6Sn5 является диффузия по границам зерен и дислокациям. Ключевые слова: тонкие пленки, интерметаллид Cu6Sn5, просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Formation of the Cu6Sn5 intermetallics in Cu/Sn thin films [Текст] / L. E. Bykova, S. M. Zharkov, V. G. Myagkov [et al.] // Phys. Solid State. - 2022. - Vol. 64 Is. 2.- P.33-37

Переводная версия Formation of Cu6Sn5 intermetallic in Cu/Sn thin films [Текст] / L. E. Bykova, S. M. Zharkov, V. G. Myagkov [et al.] // Phys. Solid State. - 2022. - Vol. 64 Is. 14.- P.2414-2418

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Быкова, Людмила Евгеньевна; Bykova, L. E.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Мягков, Виктор Григорьевич; Myagkov, V. G.; Балашов, Юрий Юрьевич; Balashov, Yu. Yu.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.
}
Найти похожие

Тонкие пленки оксинитрида титана для сенсоров широкого диапазона температур / Ф. А. Барон, Л. В. Шанидзе, М. В. Рауцкий [и др.] // Письма в Журн. техн. физ. - 2022. - Т. 48, Вып. 20. - С. 39-42, DOI 10.21883/PJTF.2022.20.53695.19292. - Библиогр.: 14. - Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, Правительства Красноярского края, Красноярского краевого фонда науки в рамках научного проекта N 20-42-240013. Исследование образцов методом резерфордовского обратного рассеяния, проведенное в Научно-образовательном центре "Функциональные наноматериалы" Балтийского федерального университета, осуществлено при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования РФ (проект FZWN-2020-0008) . - ISSN 0320-0116
Кл.слова (ненормированные):
оксинитрид титана -- температурные сенсоры -- тонкие пленки -- атомно-слоевое осаждение -- элементы интегральных схем
Аннотация: Исследована температурная зависимость удельного сопротивления тонких пленок оксинитрида титана TiNxOy с различным содержанием азота и кислорода, полученных методом атомно-слоевого осаждения. Обнаружено, что сопротивление всех пленок монотонно убывает с ростом температуры и меняется в широких пределах в зависимости от химического состава и толщины пленки. Представлена технология получения компактного температурного сенсора широкого диапазона температур (от гелиевых до комнатных) на основе TiN0.87O0.97 толщиной 40 nm. Данный сенсор может быть легко интегрирован в современные изделия микроэлектроники.

Смотреть статью,
РИНЦ

Переводная версия Titanium oxynitride thin films wide temperature range sensors [Текст] / F. A. Baron, L. V. Shanidze, M. V. Rautskiy [et al.] // Tech. Phys. Lett. - 2022. - Vol. 48 Is. 10.- P.74-77

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
Научно-образовательный центр "Функциональные наноматериалы" Балтийского федерального университета им. И. Канта, Калининград, Россия

Доп.точки доступа:
Барон, Филипп Алексеевич; Baron, F. A.; Шанидзе, Лев Викторович; Shanidze, L. V.; Рауцкий, Михаил Владимирович; Rautskii, M. V.; Михлин, Ю. Л.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Lukyanenko, A. V.; Коновалов, С. О.; Зеленов, Ф. В.; Швец, П. В.; Гойхман, А. Ю.; Волков, Никита Валентинович; Volkov, N. V.; Тарасов, Антон Сергеевич; Tarasov, A. S.
}
Найти похожие

Структурные, оптические и термоэлектрические свойства тонких ZnO:Al пленок, полученных атомно-слоевым осаждением / И. А. Тамбасов [и др.] // Физ. тверд. тела. - 2019. - Т. 61, Вып. 10. - С. 1941-1947, DOI 10.21883/FTT.2019.10.48274.455. - Библиогр.: 33. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда (проект No 17-72-10079). . - ISSN 0367-3294
Кл.слова (ненормированные):
атомно-слоевое осаждение -- тонкие пленки -- легированный алюминием оксид цинка -- структурные и оптические свойства -- термоэлектрические свойства
Аннотация: Тонкие пленки оксида цинка легированного алюминием были выращены с помощью атомно-слоевого осаждения при температуре 200°С. С помощью рентгеновской дифракции было обнаружено, что тонкие ZnO:Al пленки имеют пики от плоскостей (100), (002), (110) и (201) гексагональной фазы ZnO. Плоскости (101) и (102) были обнаружены также с помощью электронной дифракции. Тонкие ZnO:Al пленки растут гладкими со среднеквадратичной шероховатостью Rq равной 0.33 nm и характерными размерами нанокристаллита ~70 и ~15 nm без дополнительных фаз связанных с алюминием или оксидами алюминия. Пропускание на длине волны 550 nm с учетом подложки составляло ~96%. Были найдены коэффициенты преломления и поглощения тонких ZnO:Al пленок в диапазоне длин волн 250-900 nm. Максимальные значения для коэффициентов преломления и поглощения были 2.09 на длине волны 335 nm и 0.39 на длине волны 295 nm соответственно. Оптическая ширина запрещeнной зоны составляла 3.56 eV. Удельное сопротивление, коэффициент Зеебека и фактор мощности тонких ZnO:Al пленок составляли ~1.02·10-3 Ohm·cm, ~-60μV/K и 340 μW·m-1·K-2 при комнатной температуре соответственно. Максимальный фактор мощности достигал 620 μW·m-1·K-2 при температуре 200°C.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Красноярский научный центр, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Воронин, А. С.; Евсевская, Н. П.; Evsevskaya N. P.; Масюгин, Альберт Николаевич; Александровский, Александр Сергеевич; Aleksandrovskii, A. S.; Смолярова, T. E.; Немцев, Иван Васильевич; Nemtsev, I. V.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Бондаренко, Г. Н.; Тамбасова, Е. В.
}
Найти похожие

Структура и электрические свойства тонких пленок (ZnO/SiO2)25 / М. Н. Волочаев [и др.] // Физ. и техника полупроводников. - 2019. - Т. 53, Вып. 11. - С. 1505-1511, DOI 10.21883/FTP.2019.11.48445.9185. - Библиогр.: 16. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ в рамках проектной части государственного задания (проект No 3.1867.2017/4.6). . - ISSN 0015-3222
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- многослойные структуры -- оксидные полупроводники -- прыжковая проводимость -- термическая стабильность
Аннотация: В едином процессе напыления были синтезированы многослойные тонкопленочные образцы (ZnO/SiO2)25, состоящие из слоев нанокристаллического ZnO и прослоек аморфного SiO2, с толщиной бислоя от 6 до 10 нм. Из анализа температурных зависимостей удельного электрического сопротивления тонких пленок (ZnO/SiO2)25 было установлено, что в диапазоне температур 77-300 K наблюдается последовательная смена доминирующего механизма проводимости от прыжкового с переменной длиной прыжка в узкой полосе энергий вблизи уровня Ферми при температурах 77-250 K к термоактивированной примесной проводимости при температурах, близких к комнатной. По результатам исследования температурных зависимостей электрического сопротивления сделаны оценки эффективной плотности локализованных состояний на уровне Ферми и значений энергии активации примесных уровней. Исследовано влияние термической обработки на структуру и электрические свойства синтезированных пленок. Было обнаружено, что в тонкопленочных системах (ZnO/SiO2)25 при температурах 580-600oC происходит химическое взаимодействие между слоями ZnO и SiO2, сопровождающееся разрушением многослойной структуры и появлением химического соединения Zn2SiO4 с тетрагональной структурой (пространственная группа I-42d). Ключевые слова: тонкие пленки, многослойные структуры, оксидные полупроводники, прыжковая проводимость, термическая стабильность.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Воронежский государственный технический университет, Воронеж, Россия

Доп.точки доступа:
Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Калинин, Ю. Е.; Каширин, М. А.; Макагонов, В. А.; Панков, С. Ю.; Бассараб, В. В.
}
Найти похожие

Получение пленок сульфида цинка на поверхности золота как сенсора электрохимического кварцевого микробаланса / Д. О. Криницын, А. С. Романченко, С. А. Воробьев [и др.] // Электрохим. - 2021. - Т. 57, № 12. - С. 762-768, DOI 10.31857/S0424857021120045. - Библиогр.: 23. - Работа выполнена при поддержке гранта РНФ 18-17-00135 . - ISSN 0424-8570
Кл.слова (ненормированные):
сфалерит -- тонкие пленки -- гидрохимическое осаждение -- электрохимия -- кварцевое микровзвешивание -- динамическое рассеяние света -- золото -- спектроскопия
Аннотация: Изучено осаждение пленки сульфида цинка из водного раствора сульфата цинка с использованием тиомочевины в качестве сульфидизатора на поверхность золота для получения датчика электрохимического кварцевого микробаланса (EQCM). Кинетика процесса, образующиеся в растворе частицы и пленка исследованы методами кварцевого микровзвешивания, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии, оптической и рамановской спектроскопии, динамического рассеяния света. Изучено влияние подготовки поверхности золота, концентрации реагентов и температуры на адгезию, длительность индукционного периода, кинетику роста, структуру и толщину пленки. Установлено, что формирование пленки происходит за счет осаждения достаточно крупных, 200–700 нм коллоидных частиц сфалерита. Показана возможность исследований с применением полученного сенсора электрохимических реакций ZnS и межфазных явлений методами EQCM и циклической вольтамперометрии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Synthesizing zinc sulfide films on the gold surface as the sensor for electrochemical quartz crystal microbalance [Текст] / D. O. Krinitsyn, A. S. Romanchenko, S. A. Vorob'ev [et al.] // Russ. J. Electrochem. - 2021. - Vol. 57 Is. 12.- P.1157-1163

Держатели документа:
Институт химии и химической технологии СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Криницын, Д. О.; Романченко, А. С.; Воробьев, С. А.; Лихацкий, М. Н.; Карачаров, А. А.; Крылов, Александр Сергеевич; Krylov, A. S.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Михлин, Ю. Л.
}
Найти похожие

    Пленки аморфного и кристаллического оксида никеля, полученные экстракционно-пиролитическим методом для электрохромных ячеек / А. Л. Белоусов [и др.] // Хим. технол. - 2019. - Т. 20, № 5. - С. 215-221, DOI 10.31044/1684-5811-2019-20-5-215-221. - Библиогр.: 8 . - ISSN 1684-5811
   Перевод заглавия: Films of amorphous and crystalline nickel oxide, produced by extraction-pyrolitic method for electrochromic cells
Кл.слова (ненормированные):
экстракты никеля -- экстракционно-пиролитическая технология -- тонкие пленки -- отжиг -- электрохромная ячейка -- nickel extract -- extraction-pyrolitic technology -- thin film -- annealing -- electrochromic cell
Аннотация: Представлены исследования тонких пленок оксида никеля, полученных экстракционно-пиролитическим методом на стеклянных и кварцевых подложках при температурах 380-600 °С. Пленки охарактеризованы методами атомно-силовой микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что на стекле формируются аморфные, а на кварце - кристаллические пленки оксида никеля. Размер зерна в пленках зависит от температуры отжига, при этом повышенные температуры отжига приводят к рекристаллизации и снижению размера зерна в пленках NiO от 130 до 35 нм.
Study results of thin films of nickel oxide, produced by the extraction-pyrolitic method on glass and quartz substrates at temperatures 380-600 °С are presented. The film characteristics were obtained by the methods of atomic-force microscopy and X-ray diffraction. It has been found out that amorphous films are formed on glass and crystalline ones of nickel oxide are formed on quartz. Grain dimensions in the films depend on annealing temperature.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Amorphous and Crystalline Nickel Oxide Films Obtained by the Extraction-Pyrolysis Method for Electrochromic Cells [Текст] / A. L. Belousov, T. N. Patrusheva, A. A. Karacharov [et al.] // Theor. Found. Chem. Eng. - 2020. - Vol. 54 Is. 4.- P.699-705

Держатели документа:
Балтийский государственный технический университет Военмех им. Д. Ф. Устинова
Институт общей и неорганической химии РАН
Институт физики им. Киренского СО РАН
Институт химии и химической технологии СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Белоусов, А.Л.; Belousov A.L.; Патрушева, Т.Н.; Patrusheva T.N.; Карачаров, А.А.; Karacharov A.A.; Иваненко, Александр Анатольевич; Ivanenko, A. A.; Кирик, С.Д.; Kirik S.D.; Холькин, А.И.; Kholkin A.I.
}
Найти похожие

Особенности протекания твердофазных реакций в трехслойной пленочной системе Sn/Fe/Cu / Ю. Ю. Балашов, В. Г. Мягков, Л. Е. Быкова [и др.] // Журн. техн. физ. - 2023. - Т. 93, Вып. 7. - С. 1009-1013, DOI 10.21883/JTF.2023.07.55761.73-23. - Библиогр.: 18 . - ISSN 0044-4642. - ISSN 1726-748X
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- просвечивающая электронная микроскопия -- энергодисперсионная спектроскопия -- механизмы массопереноса
Аннотация: Выяснение механизмов твердофазных реакций в тонких пленках Sn/Fe/Cu интересно как с фундаментальной точки зрения, так и в виду важности формирующихся интерметаллидов в технологии контактных соединений и тонкопленочных литий-ионных аккумуляторов. С помощью комплексного подхода, включающего рентгенофазовый анализ и локальный элементный анализ поперечного среза пленки, изучены фазовый состав и взаимное расположение фаз на различных стадиях твердофазной реакции, протекающей при различных температурах. Наблюдаемая последовательность формирующихся фаз существенно отличается от ожидаемой, если бы массоперенос осуществлялся посредством объемной диффузии через формирующиеся слои.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Features of the course of the solid-state reactions in a Sn/Fe/Cu trilayer film system [Текст] / Yu. Yu. Balashov, V. G. Myagkov, L. E. Bykova [et al.]. - 5 с. // Tech. Phys. - 2023. - Vol. 68 Is. 7.- P.940-944

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Балашов, Юрий Юрьевич; Balashov Yu. Yu.; Мягков, Виктор Григорьевич; Myagkov, V. G.; Быкова, Людмила Евгеньевна; Bykova, L. E.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Жигалов, Виктор Степанович; Zhigalov, V. S.; Мацынин, Алексей Александрович; Matsynin, A. A.; Галушка, К. А.; Бондаренко, Галина Николаевна; Bondarenko, G. N.; Комогорцев, Сергей Викторович; Komogortsev, S. V.; "Нанофизика и наноэлектроника", международный симпозиум(27 ; 2023 ; март ; 13-16 ; Нижний Новгород)
}
Найти похожие

Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур / О. А. Максимова [и др.] // Журн. структ. химии. - 2014. - Т. 55, № 6. - С. 1190-1197. - Библиогр.: 8. - Работа выполнена при финансовой поддержке Программы Президента России по поддержке ведущих научных школ НШ 2886.2014.2, Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265, № 14-02-01211), Министерства образования и науки Российской Федерации (Соглашение 14.604.21.0002, Государственный контракт № 02.G25.31.0043), а также Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (программа "У.М.Н.И.К.", договор № 0003831). . - ISSN 0136-7463
Кл.слова (ненормированные):
магнитоэллипсометрия -- эллипсометрические измерения -- магнитооптический эффект Керра -- тонкие пленки -- модель полубесконечной среды -- коэффициент преломления -- коэффициент поглощения -- магнитооптический параметр
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического параметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (ψ 0 и Δ 0) и магнитоэллипсометрических (ψ 0 + δψ и Δ 0 + δΔ) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures [Текст] / O. A. Maksimova [et al.] // J. Struct. Chem. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 55 Is. 6.- P.1134-1141

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

10.

Нанокомпозитные пленки CoPt–Al2O3: синтез, структурные и магнитные свойства / В. С. Жигалов, Л. Е. Быкова, В. Г. Мягков [и др.] // Поверхность. - 2020. - № 1. - С. 60-67, DOI 10.31857/S1028096020010227. - Библиогр.: 29. - Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ совместно с Правительством Красноярского края, Красноярского краевого фонда науки (проект №. 18-42-243009р_мол_а и № 19-43-240003р_а), Фонда содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (договор № 11843ГУ/2017, код 0033636, конкурс "Умник") . - ISSN 1028-0960
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- ферромагнитные нанокомпозиты -- сплав CoPt -- магнитная анизотропия
Аннотация: Представлены результаты исследования структурных и магнитных свойств нанокомпозитных пленок CoPt–Al2O3, полученных путем отжига двухслойных пленок Al/(Co3O4 + Pt) на подложке MgO(001) при температуре 650°С в вакууме. Синтезированные композитные пленки содержали ферромагнитные наногранулы CoPt со средним размером 25–45 нм, вложенные в непроводящую матрицу Al2O3. Намагниченность насыщения Ms ~ 330 Гс и коэрцитивная сила Hc ≈ 6 кЭ измерены в плоскости пленки и перпендикулярно ей. Полученные пленки обладали пространственной магнитной вращающейся анизотропией, позволяющей произвольно устанавливать легкую ось намагничивания, как в плоскости пленки, так и перпендикулярно ей, в магнитном поле напряженностью, превышающей коэрцитивную силу (H ˃ Hc).

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия CoPt-Al2O3 nanocomposite films: synthesis, structure, and magnetic properties [Текст] / V. S. Zhigalov, L. E. Bykova, V. G. Myagkov [et al.] // J. Surf. Ingestig. - 2020. - Vol. 14 Is. 1.- P.47-53

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, 660036 Красноярск, Россия
Сибирский государственный университет науки и технологий им. М.Ф. Решетнева, 660000 , Красноярск, Россия
Сибирский федеральный университет, 660004 Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Жигалов, Виктор Степанович; Zhigalov, V. S.; Быкова, Людмила Евгеньевна; Bykova, L. E.; Мягков, Виктор Григорьевич; Myagkov, V. G.; Павлова, А. Н.; Волочаев, Михаил Николаевич; Volochaev, M. N.; Мацынин, Алексей Александрович; Matsynin, A. A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.
}
Найти похожие