Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>) |
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8 |
1.
| Швец В. А. Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te/В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков. - 2010
|
2.
| Maksimova O. A. Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures/O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov // Проспект Свободный, 2015
|
3.
| Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies/O. A. Maximova [et al.] // Journal of Siberian Federal University - Mathematics and Physics, 2017. т.Vol. 10,N Is. 2.-С.223-232;Журнал Сибирского федерального университета. Серия "Математика и физика"
|
4.
| Magneto-ellipsometry as a powerful technique for investigating magneto-optical structures properties/O. Maximova [et al.] // Journal of Magnetism and Magnetic Materials:Elsevier Science, 2017. т.Vol. 440.-С.153-156
|
5.
| Швец В. А. Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te/В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; офиц. опп.: С. Я. Ветров, С. Г. Овчинников, В. И. Пшеницын. - 2010
|
6.
| Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста/И. А. Тарасов [и др.] // Космические аппараты и технологии, 2018. т.Т. 2,N № 4.-С.220-224
|
7.
| Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py/Н. Н. Косырев, В. Ю. Яковчук, Г. С. Патрин [и др.] // Письма в Журнал технической физики, 2021. т.Т. 47,N Вып. 3.-С.7-10
|
8.
| Эллипсометрия структурных наноматериалов/С. В. Рыхлицкий, Е. В. Спесивцев [и др.] // Нанотехнологии функциональных материалов (НФМ-10) . -Санкт-Петербург, 2010.-С.618
|
|
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Стандартный
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН