Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (13)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Ш 35 рукописный текст
Автор(ы) : Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Новосибирск, 2010
Колич.характеристики :234 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: 179 назв.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.13.11
ББК : В379.2я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Maksimova O. A., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures [Электронный ресурс]
Коллективы : Сибирский федеральный университет, "Проспект Свободный", международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых
Место публикации : Проспект Свободный: материалы научной конференции, посвященной 70-летию Великой Победы/ отв. ред. Е. И. Костоглодова. - 2015
Систем. требования: Систем. требования: PC не ниже класса PentiumI ; 128 Mb RAM ; Windows 98/XP/7 ; Adobe Reader V8.0 и выше
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Lyashchenko S. A.
Заглавие : Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies
Место публикации : J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P.223-232. - ISSN 1997-1397, DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика"
Примечания : Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magneto-optical ellipsometry--kerr effect--two-layer model--ferromagnetic metal--reflection--growth control--магнито-оптическая эллипсометрия--эффект керра--двухслойная модель--ферромагнетик--отражение--контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Kosyrev N. N., Yakovlev I. A., Shevtsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magneto-ellipsometry as a powerful technique for investigating magneto-optical structures properties
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН , Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund [1642-243058]; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209mol_a, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014K, 7559.2016.2]; Complex program of SB RAS [II.2P, 03582015-0004]
Место публикации : J. Magn. Magn. Mater.: Elsevier Science, 2017. - Vol. 440. - P.153-156. - ISSN 0304-8853, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.073. - ISSN 1873-4766(eISSN)
Примечания : Cited References:20. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project No 1642-243058. The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16-32-00209mol_a, Grant No. 14-02-01211, The Complex program of SB RAS No II.2P, project 03582015-0004, the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014K), grant Scientific School 7559.2016.2.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magneto-optical kerr effect--ellipsometry--in situ measurements
Аннотация: In this work we report on new magneto-ellipsometry set-up that allows to grow thin films and nanostructures by ultrahigh vacuum thermal evaporation as well as to conduct in situ measurements during the growth in order to analyze and control nanostructures properties. Ellipsometry and transverse magneto-optical Kerr effect measurements can be performed in situ inside this set-up. A uniform magnetic field of high intensity (more than 1 kOe) can be applied to samples inside the vacuum chamber. Also, we report on the developed method of data interpretation that is the base of the set-up software. Thus, we present a powerful tool for nanostructures synthesis and characterization.
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37 рукописный текст
Автор(ы) : Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : автореферат дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Новосибирск, 2010
Колич.характеристики :30 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.13.11
Предметные рубрики: Полупроводники-- Рост кристаллов-- Контроль эллипсометрический-- Исследование
Смотреть автореферат
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Жарков, Сергей Михайлович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста
Место публикации : Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 4. - С. 220-224. - ISSN 2618-7957, DOI 10.26732/2618-7957-2018-4-220-224
Примечания : Библиогр.: 10. - Работа выполнена при финансовой поддержке программ Президиума РАН № 32, проект 0356-2018-0061, Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской академии наук, проект II.8.70.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эллипсометрия--силициды железа--многослойные fe/si наноструктуры--ellipsometry--iron silicides--multilayer fe/si nanostructures
Аннотация: С использованием метода одноволновой лазерной эллипсометрии in situ проведено исследование процесса формирования многослойной структуры [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100). Были получены сведения об оптических и структурных свойствах данной структуры. Изменение морфологии поверхности растущих слоев и их оптических характеристик оказываются неидентичными для случаев осаждения железа на поверхность слоя кремния и осаждения кремния на поверхность слоя железа. Полученные профили оптических постоянных свидетельствуют об увеличении толщины переходных слоев, содержащих твердые растворы «железо-кремний» и силициды. Характер изменения оптических постоянных усложняется с каждым последующим слоем железа, осаждаемым на поверхность кремния. Поведение профилей n и k, соответствующих формированию кремниевых слоев, имеет более простой характер по сравнению с поведением подобных профилей железа. Эти профили имеют лишь некоторые особенности на начальных этапах роста и соответствуют формированию аморфных слоев кремния. Полученные данные согласуются с данными просвечивающей электронной микроскопии.Using in situ single-wave laser ellipsometry method, the formation of the [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100) multilayer structure was studied. Information about the optical and structural properties of this structure was obtained. The change in the morphology of the surface of the growing layers and their optical characteristics are not identical for the cases of iron deposition on the surface of the silicon layer and deposition of silicon on the surface of the iron layer. The refractive index and coefficient of absorption indicate an increase of the thickness of transition layers containing iron-silicon solid solutions and silicides. The nature of the change in the optical constants become more complicated with each subsequent iron layer deposited on the silicon surface. The behavior of n and k profiles corresponding to the formation of silicon layers is simpler than the behavior of similar iron profiles. These profiles have only some features at the initial stages of growth and correspond to the formation of amorphous silicon layers. The obtained data are consistent with the data of transmission electron microscopy.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Яковчук, Виктор Юрьевич, Патрин, Геннадий Семёнович, Комаров, Василий Андреевич, Волченко Е. Н., Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py
Место публикации : Письма в Журн. техн. физ. - 2021. - Т. 47, Вып. 3. - С. 7-10. - ISSN 0320-0116, DOI 10.21883/PJTF.2021.03.50566.18429
Примечания : Библиогр.: 14. - Исследования проведены при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 18-02-00161-а)
Аннотация: Представлены результаты исследования оптических и магнитооптических свойств трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py (Py - пермаллой). Для изучения температурной зависимости намагниченности использовался магнитооптический эффект Керра, а для измерения оптических показателей преломления и поглощения - метод спектральной эллипсометрии. Показано, что толщина прослойки висмута влияет на обменное взаимодействие между слоями пермаллоя и DyCo, что проявляется в изменении температуры компенсации намагниченности, а также в изменении характера обменного взаимодействия.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Рыхлицкий С.В., Спесивцев Е.В., Кручинин В.Н., Овчинников С.Г., Пышный Д.В., Синяков А.Н., Пельтек С.Е.
Заглавие : Эллипсометрия структурных наноматериалов
Коллективы : Нанотехнологии функциональных материалов, Институт физики твердого тела РАН, Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН, Санкт-Петербургский политехнический университет СПбПУ
Место публикации : Нанотехнологии функциональных материалов (НФМ-10) : Труды Междунар. науч.-техн. конф., 22-24 сент. 2010 г. - Санкт-Петербург, 2010. - С. 618
Найти похожие