Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=CEMS<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Badía-Romano L., Rubin J., Bartolomé F., Magen C., Bartolome J., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Rubio-Zuazo J., Castro G.R.
Заглавие : Morphology of the asymmetric iron-silicon interfaces
Место публикации : J. Alloys Compd.: Elsevier Science, 2015. - Vol. 627. - P.136-145. - ISSN 0925, DOI 10.1016/j.jallcom.2014.12.019. - ISSN 18734669(eISSN)
Примечания : Cited References:69. - The financial support of the Spanish MINECO MAT2011-23791, the Presidentof Russia Grant (NSh-1044.2012.2), RFFI Grant 13-02-01265, the Ministryof Education and Science of Russian Federation (14.604.21.0002 and02G25.31.0043), Aragonese DGA-IMANA E34 (cofunded by Fondo SocialEuropeo) and that received from the European Union FEDER funds isacknowledged. L.B.R. acknowledges the Spanish MINECO FPU 2010 grant.
Предметные рубрики: RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY
ELECTRON MOSSBAUER-SPECTROSCOPY
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): fe/si nanolayers--interfaces--fe silicides--compositional depth--haxpes--cems
Аннотация: A systematic study of the iron–silicon interfaces formed upon preparation of (Fe/Si) multilayers has been performed by combination of modern and powerful techniques. Samples were prepared by thermal evaporation under ultrahigh vacuum onto a Si(1 0 0) substrate. The morphology of these films and their interfaces was studied by a combination of scanning transmission electron microscopy, X-ray reflectivity, angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy and hard X-ray photoelectron spectroscopy. The Si-on-Fe interface thickness and roughness were determined to be 1.4(1) nm and 0.6(1) nm, respectively. Moreover, determination of the stable phases formed at both Fe-on-Si and Si-on-Fe interfaces was performed using conversion electron Mössbauer spectroscopy on multilayers with well separated Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces. It is shown that while a fraction of Fe remains as α-Fe, the rest has reacted with Si, forming the paramagnetic c-Fe1−xSi phase and a ferromagnetic Fe rich silicide (DO3 type phase). We conclude that the paramagnetic c-Fe1−xSi silicide sublayer is identical in both Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces, whereas an asymmetry is revealed in the composition of the ferromagnetic silicide sublayer.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Bartolomé J., Rubin J., Badia L., Bondarenko G. V.
Заглавие : CEMS analysis of phase formation in nanostructured films (Fe/Si) 3
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium
Место публикации : Solid State Phenomena. - 2011. - Vol. 168-169. - P.277-280. - ISSN 1662-9779, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.168-169.277
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): interfaces metal/semiconductor--magnetic silicides--molecular beam epitaxy technology--semiconductor and magnetic geterostructures
Аннотация: Determination of stable phases formed at the Fe/Si interface in (Fe/Si)n structure, grown by thermal evaporation in an ultrahigh vacuum system was performed using conversion electron Mossbauer spectroscopy (CEMS).
РИНЦ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Bartolome J., Rubin J., Badfa L.
Заглавие : CEMS analysis of nanostructured films (Fe/Si)3 with Fe57 active layer
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Proceedings Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (ASCO-NANOMAT 2011)/ Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (2011 ; Aug. ; 22-29 ; Vladivostok, Russia), Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов (1 ; 2011 ; авг. ; 21-28 ; Владивосток). - 2011
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Varnakov S.N., Ovchinnikov S.G., Bartolomé J., Rubín J., Badía L., Bondarenko G.V.
Заглавие : CEMS analysis of phase formation in nanostructured films (Fe/Si)3
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Уральское отделение РАН
Место публикации : IV Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" Nanospintronics (EASTMAG-2010). School for young scientist "Spintronics": June 28 - Lule 2, 2010"Book of abstracts. - Ekaterinburg, 2010. - P.201
РИНЦ
Найти похожие