Поисковый запрос: (<.>K=electron<.>) |
Общее количество найденных документов : 487
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Вальков В. В. Эффекты многократного отражения при неупругом электронном транспорте через анизотропный магнитный атом/В. В. Вальков, С. В. Аксенов, Е. А. Уланов // Письма в "Журнал экспериментальной и теоретической физики", 2013. т.Т. 98,N Вып. 7.-С.459-465
|
2.
| Вальков В. В. Эффект Фано при туннелировании спин-поляризованного электрона через одиночную магнитную примесь/В. В. Вальков, С. В. Аксенов, Е. А. Уланов // Физика низких температур, 2013. т.Т. 39,N Вып. 1.-С.48-52
|
3.
| Алтунин Р. Р. Электронно-микроскопические in situ исследования процессов твердофазного синтеза в тонких двухслойных пленках Al/Au/Р. Р. Алтунин, С. М. Жарков // Известия Российской академии наук. Серия физическая, 2013. т.Т. 77,N № 8.-С.1107-1110
|
4.
| Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов и сечение неупругого рассеяния в анализе слоистых структур системы Fe-Si/А. С. Паршин [и др.] // Журнал структурной химии. -Новосибирск:Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук, 2009. т.Т. 50,N № 3.-С.451-455
|
5.
| Синтез и магнитные свойства пленок [(CoP)soft/NiP/(CoP)hard/ NiP]n/Г. С. Патрин [и др.] // Решетневские чтения. -Красноярск:Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М. Ф. Решетнева, 2015. т.Ч. 1.-С.539-541
|
6.
| Синтез и исследование методом электронной микроскопии инверсных опалов из оксида циркония/К. А. Шабанова, Ю. Ю. Логинов, О. В. Шабанова [и др.] // Сибирский аэрокосмический журнал, 2022. т.Т. 23,N № 4.-С.763-770;Siberian Aerospace Journal
|
7.
| Распределение магнитных нанозондов S-ионов марганца как результат структурной неэквивалентности в монокристалле шпинели Li0.5Ga2.5O4/В. В. Шаповалов, В. А. Шаповалов, А. Н. Юрасов [и др.] // Физика и техника высоких давлений, 2021. т.Т. 31,N № 3.-С.31-43
|
8.
| Развитие зеркальной электронной микроскопии магнитных полей/Л. В. Киренский [и др.] // Известия Академии наук СССР. Сер. физическая, 1961. т.Т. 25,N № 12.-С.1465-1469
|
9.
| Волочаев М. Н. Применение методов просвечивающей электронной микроскопии в материаловедении/М. Н. Волочаев // Решетневские чтения. -Красноярск:Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М. Ф. Решетнева, 2015. т.Ч. 1.-С.502-504
|
10.
| Вальков В. В. Особенности электронных свойств наноустройств с неаналитичными токовыми каналами/В. В. Вальков, А. Д. Федосеев // Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников, 2018,N Секция 6:Электронные свойства низкоразмерных систем.- Ст.L-7.-С.86
|
|
|