Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=DEPOSITION<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Bartolome J., Badía-Romano L., Rubin J., Bartolome F., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Burgler D.E.
Заглавие : Magnetic properties, morphology and interfaces of (Fe/Si)n nanostructures
Коллективы : International Conference on Magnetism
Место публикации : J. Magn. Magn. Mater.: Elsevier, 2016. - Vol. 400. - P.271-275. - ISSN 03048853 (ISSN), DOI 10.1016/j.jmmm.2015.07.046
Примечания : Cited References: 43. - The financial support of the Spanish MINECOMAT2011-23791 and MAT2015-53921-R, Aragonese DGA-IMANAE34 (cofounded by Fondo Social Europeo) and European FEDER funds is acknowledged. Program of the President of the Russian Federation for the support of leading scientific schools (Scientific School 2886.2014.2), RFBR (Grant no. 13-02-01265), the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (State contract no. 02.G25.31.0043 and State task no. 16.663.2014К)
Предметные рубрики: INTERLAYER EXCHANGE
Fe/Si(100) INTERFACE
SILICIDE FORMATION
ULTRAHIGH-VACUUM
FILMS
IRON
MAGNETORESISTANCE
SUPERLATTICES
SPECTROSCOPY
DEPOSITION
Аннотация: A systematic study of the iron–silicon interfaces formed upon preparation of (Fe/Si) multilayers has been performed by the combination of modern and powerful techniques. Samples were prepared by molecular beam epitaxy under ultrahigh vacuum onto Si wafers or single crystalline Ag(100) buffer layers grown on GaAs(100). The morphology of these films and their interfaces was studied by a combination of scanning transmission electron microscopy, X-ray reflectivity, angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy and hard X-ray photoelectron spectroscopy. The Si-on-Fe interface thickness and roughness were determined to be 1.4(1) nm and 0.6(1) nm, respectively. Moreover, determination of the stable phases formed at both Fe-on-Si and Si-on-Fe interfaces was performed using conversion electron Mössbauer spectroscopy on multilayers with well separated Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces. It is shown that while a fraction of Fe remains as α-Fe, the rest has reacted with Si, forming the paramagnetic FeSi phase and a ferromagnetic Fe rich silicide. We conclude that there is an identical paramagnetic c-Fe1−xSi silicide sublayer in both Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces, whereas an asymmetry is revealed in the composition of the ferromagnetic silicide sublayer.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Uschakov A. V., Karpov I. V., Lepeshev A. A., Petrov M. I.
Заглавие : Plasma-chemical synthesis of copper oxide nanoparticles in a low-pressure arc discharge
Коллективы : Russian Science Foundation [16-19-10054]
Место публикации : Vacuum: pergamon-Elsevier Science, 2016. - Vol. 133. - P.25-30. - ISSN 0042-207X, DOI 10.1016/j.vacuum.2016.08.007
Примечания : Cited References:36. - The work was performed with a support of the grant of the Russian Science Foundation (Project No. 16-19-10054)
Предметные рубрики: VACUUM-ARC
PLASMACHEMICAL SYNTHESIS
THIN-FILM
DEPOSITION
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): copper oxide nanoparticles--low pressure arc discharge--plasma-chemical synthesis--paschen curve--similarity parameter
Аннотация: The influence of a pressure of gas mixture (10 vol% O2 + 90% N2) on an average size of copper oxide nanoparticles, produced in the plasma of low pressure arc discharge, has been studied as a basic process variable. A correlation between the dependence of average particle size on gas mixture pressure and the dependence of discharge gap voltage on product of interelectrode distance by a gas mixture pressure, has been found. The estimation was carried out by means of X-ray diffraction (XRD) and high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). A mathematical model of the cathode region, which shows the applicability of the similarity theory to the low pressure arc discharge, has been represented.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Фадеева Н. П., Сайкова С. В., Пикурова Е. В., Воронин А. С., Фадеев Ю. В., Самойло А. С., Тамбасов, Игорь Анатольевич
Заглавие : Новый метод получения прозрачных проводящих пленок оксида индия (III) и оксида индия-олова
Место публикации : Журн. СФУ. Химия. - 2021. - Т. 14, № 1. - С. 45-58. - ISSN 1998-2836, DOI 10.17516/1998-2836-0215; J. Sib. Fed. Univ. Chem. - ISSN 2313-6049(eISSN)
Примечания : Библиогр.: 36. - Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант № 18-33-00504) и стипендии Президента Российской Федерации (СП-2235.2019.1). В работе использованы приборы ЦКП СФУ и Красноярского регионального центра коллективного пользования ФИЦ КНЦ СО РАН
Предметные рубрики: ITO THIN-FILMS
ELECTRICAL-PROPERTIES
DEPOSITION
Аннотация: В работе получены седиментационно устойчивые золи гидроксидов индия (III) и олова (IV) методом анионообменного синтеза, заключающимся в обменной реакции между ОН‑ионами анионообменной смолы и анионами металлосодержащих растворов. Синтезированные гидрозоли использованы для получения проводящих пленок оксида индия (III) In2O3 и оксида индия, легированного оловом In2O3:Sn, с поверхностным сопротивлением 4 кОм/кв, толщинами 200–500 нм и прозрачностью более 85 %. Подобраны режимы нанесения прекурсоров на стеклянные подложки модифицированным спрей-методом и методом центрифугирования. Пленки исследованы с помощью РФА, СЭМ, оптической микроскопии и спектрофотометрии.In the work, sedimentation-stable sols of indium (III) and tin (IV) hydroxides were obtained by the Anion Resin Exchange Precipitation, which consists of the exchange reaction between the OH ions of the anion exchange resin and the anions of metal-containing solutions. The synthesized hydrosols were used to obtain conducting films of indium (III) In2O3 oxide and indium oxide doped with Tin In2O3: Sn, with a surface resistance of 4 kOhm/sq, thicknesses of 200-500 urn and a transparency of more than 85 %. The modes of applying precursors to glass substrates by the modified spray method and centrifugation method are selected. Films were studied using XRD, SEM, optical microscopy and spectrophotometry.
Смотреть статью,
РИНЦ,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие