1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Паршин, Анатолий Сергеевич, Александрова, Галина Алексеевна, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов и сечение неупругого рассеяния в анализе слоистых структур системы Fe-Si
Место публикации : Журнал структурной химии. - Новосибирск: Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук, 2009. - Т. 50, № 3. - С. 451-455. - ISSN 0136-7463
ГРНТИ : 29.19
УДК : 538.971 + 543.428
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): спектроскопия потерь энергии отраженных электронов--сечение неупругого рассеяния--средняя длина неупругого свободного пробега электрона--reflected electron energy loss spectroscopy--inelastic scattering cross-section--mean length of the inelastic free path of an electron
Аннотация: В работе представлено исследование формирования интерфейса слоистых структур системы Fe-Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Количественный элементный анализ осуществлен с использованием произведения средней длины неупругого свободного пробега на сечение неупругого рассеяния электронов. Показано, что интерфейс Fe-Si достаточно однороден.This paper reports on our study of the formation of an interface of layered structures in the Fe-Si system by reflected electron energy loss spectroscopy (REELS). Quantitative element analysis was performed using the product of the mean length of the inelastic free path by the inelastic scattering cross-section of electrons. It is shown that the Fe-Si interface is quite uniform.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН