Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=коэффициент излучения<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

    Бобров, Павел Петрович.
    Зависимость радиояркостной температуры, измеряемой космическим аппаратом SMOS, от азимутального угла зондирования / П. П. Бобров, В. Л. Миронов, А. С. Ященко // Вестник СибГАУ. - 2013. - № 5. - С. 12-15
   Перевод заглавия: Dependence of brightness temperature sounded with spacecraft smos on the azimuth angle of sounding
Кл.слова (ненормированные):
микроволновая радиометрия -- яркостная температура -- коэффициент излучения
Аннотация: Проведены основные результаты анализа угловых зависимостей радиояркостных температур почв, полученных в ходе натурного, модельного эксперимента, а также апаратом SMOS. Обнаружено, что величина радиояркостной температуры поверхностей, имеющих периодический профиль, существенно зависит от азимутального угла измерения. Такие поверхности при определенных условиях могут иметь значение радиояркостной температуры на горизонтальной поляризации больше, чем на вертикальной. Аналогичные соотношения зачастую наблюдаются в данных SMOS. Показано, что особенности угловых зависимостей радиояркостной температуры, полученные SMOS, могут быть обусловлены как физическими процессами, так и аппаратными ошибками. Полученные результаты могут быть использованы при обработке радиометрических данных SMOS.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Миронов, Валерий Леонидович; Mironov, V. L.; Ященко, Александр Сергеевич
}
Найти похожие

    Иваненко, Александр Анатольевич.
    Микроколориметр для измерения коэффициента излучения тонкопленочных высокоотражающих образцов при криогенных температурах / А. А. Иваненко, И. А. Тамбасов, Н. П. Шестаков // Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 3. - С. 165-169, DOI 10.26732/2618-7957-2018-3-165-169. - Библиогр.: 9 . - ISSN 2618-7957
   Перевод заглавия: Microcolorimeter for measuring the emissivity of thin film high-reflecting samples at cryogenic temperatures
Кл.слова (ненормированные):
коэффициент излучения -- степень черноты -- "черное тело" -- термометр сопротивления -- криогенные температуры -- высокоотражающие покрытия -- emissivity -- blackness Degree -- "blackbody" -- resistance thermometer -- cryogenic temperatures -- highly reflective coatings
Аннотация: Предложено решение проблемы измерения коэффициента излучения (степени черноты) тонкопленочных высокоотражающих образцов при криогенных и комнатных температурах. Для обеспечения необходимой точности и чувствительности создан тонкопленочный элемент, содержащий платиновый датчик температуры и нагреватель, а также пленка с высоким коэффициентом излучения - модель «черного тела». На базе этих элементов, криостата замкнутого цикла TM AC-V12a фирмы Cryomech (США) и крейтовой системы LTR-EU-8-1 сбора информации с модулями АЦП и ЦАП фирмы L-CARD (Россия) создана установка для измерения теплопередачи между пленочными покрытиями, осуществляемой за счет излучения. Раскрыты способы обработки результатов измерений, осуществляемой при оценке сопротивления платиновых датчиков температуры, которые позволяют производить измерение температуры со среднеквадратическим отклонением 0,001 К. Описаны базовые элементы установки. Описаны проводимые на установке измерения, необходимые для вычисления коэффициента излучения. Приведена методика расчета коэффициента излучения с использованием результатов измерений, проводимых с помощью микрокалориметра.
A solution to the problem of measuring the emissivity (degree of blackness) of thin-film high-reflective samples at cryogenic and room temperatures is proposed. To ensure the required accuracy and sensitivity, a thin-film element containing a platinum temperature sensor and a heater, as well as a high emissivity film (a black body model) has been created. On the basis of these elements, the cryomech TM AC-V12a cryostat of the company Cryomech (USA) and the LTR-EU-8-1 crate of data collection with the ADC and DAC modules of the L-CARD company (Russia) created an installation for measuring heat transfer (carried out by radiation) between film coatings. Measurement processing methods that allow temperature measurement with a standard deviation of 0,001 K are presented. The basic installation elements are described. The measurements carried out at the facility, necessary for calculating the emissivity, are described. A method for calculating the emissivity using the results of measurements carried out using a micro calorimeter is presented.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тамбасов, Игорь Анатольевич; Tambasov, I. A.; Шестаков, Николай Петрович; Shestakov, N. P.; Ivanenko, A. A.
}
Найти похожие