Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (13)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

   В37
   Ш 35

    Швец, Василий Александрович.
    Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te [Рукопись] : дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А.В. Ржанова. - Новосибирск, 2010. - 234 с. - Библиогр.: 179 назв. . -

ГРНТИ

29.19.31

47.13.11

ББК В379.2я031

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Пчеляков, О. П. \науч. конс.\; Российская академия наукСибирское отделение РАН; Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 1
ДС (1)
Свободны: ДС (1)}
Найти похожие

    Maksimova, O. A.
    Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures [Электронный ресурс] / O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov. - В электронном диске.: Проспект Свободный : материалы научной конференции, посвященной 70-летию Великой Победы / отв. ред. Е. И. Костоглодова. - 2015
   Перевод заглавия: Спектральная эллипсометрия для изучения магнитооптических свойств однослойных ферромагнитных наноструктур

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Сибирский федеральный университет; "Проспект Свободный", международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых(2015 ; апр. ; 15-25 ; Красноярск)
}
Найти похожие

    Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies / O. A. Maximova [et al.] // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P. 223-232 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232. - Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии
Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical ellipsometry -- Kerr effect -- Two-layer model -- Ferromagnetic metal -- Reflection -- Growth control -- магнито-оптическая эллипсометрия -- эффект Керра -- двухслойная модель -- ферромагнетик -- отражение -- контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.
Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation
Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович

}
Найти похожие

    Magneto-ellipsometry as a powerful technique for investigating magneto-optical structures properties / O. Maximova [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. - 2017. - Vol. 440. - P. 153-156, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.073. - Cited References:20. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project No 1642-243058. The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16-32-00209mol_a, Grant No. 14-02-01211, The Complex program of SB RAS No II.2P, project 03582015-0004, the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014K), grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 0304-8853. - ISSN 1873-4766
   Перевод заглавия: Магнито-эллипсометрия как мощный инструмент для исследования магнитооптических свойств структур

РУБ Materials Science, Multidisciplinary + Physics, Condensed Matter

Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical Kerr effect -- Ellipsometry -- In situ measurements
Аннотация: In this work we report on new magneto-ellipsometry set-up that allows to grow thin films and nanostructures by ultrahigh vacuum thermal evaporation as well as to conduct in situ measurements during the growth in order to analyze and control nanostructures properties. Ellipsometry and transverse magneto-optical Kerr effect measurements can be performed in situ inside this set-up. A uniform magnetic field of high intensity (more than 1 kOe) can be applied to samples inside the vacuum chamber. Also, we report on the developed method of data interpretation that is the base of the set-up software. Thus, we present a powerful tool for nanostructures synthesis and characterization.

Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund [1642-243058]; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209mol_a, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014K, 7559.2016.2]; Complex program of SB RAS [II.2P, 03582015-0004]; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие

   В37

    Швец, Василий Александрович.
    Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : автореферат дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; офиц. опп.: С. Я. Ветров, С. Г. Овчинников, В. И. Пшеницын ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А.В. Ржанова, вед. орг. Физ.-тех. ин-т им. А.Ф. Иоффе. - Новосибирск, 2010. - 30 с. - Библиогр. -

ГРНТИ

29.19.31

47.13.11

Рубрики:
Полупроводники--Рост кристаллов--Контроль эллипсометрический--Исследование

Смотреть автореферат
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Пчеляков, Олег Петрович \науч. конс.\; Ветров, Степан Яковлевич \офиц. опп.\; Vetrov, S. Ya.; Овчинников, Сергей Геннадьевич \офиц. опп.\; Ovchinnikov, S. G.; Пшеницын, Виктор Ильич \офиц. опп.\; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН; Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Свободных экз. нет}
Найти похожие

    Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста / И. А. Тарасов [и др.] // Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 4. - С. 220-224, DOI 10.26732/2618-7957-2018-4-220-224. - Библиогр.: 10. - Работа выполнена при финансовой поддержке программ Президиума РАН № 32, проект 0356-2018-0061, Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской академии наук, проект II.8.70. . - ISSN 2618-7957
   Перевод заглавия: Ellipsometric control of parameters of multilayer Fe/Si nanostructures during growth
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- силициды железа -- многослойные Fe/Si наноструктуры -- ellipsometry -- iron silicides -- multilayer Fe/Si nanostructures
Аннотация: С использованием метода одноволновой лазерной эллипсометрии in situ проведено исследование процесса формирования многослойной структуры [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100). Были получены сведения об оптических и структурных свойствах данной структуры. Изменение морфологии поверхности растущих слоев и их оптических характеристик оказываются неидентичными для случаев осаждения железа на поверхность слоя кремния и осаждения кремния на поверхность слоя железа. Полученные профили оптических постоянных свидетельствуют об увеличении толщины переходных слоев, содержащих твердые растворы «железо-кремний» и силициды. Характер изменения оптических постоянных усложняется с каждым последующим слоем железа, осаждаемым на поверхность кремния. Поведение профилей n и k, соответствующих формированию кремниевых слоев, имеет более простой характер по сравнению с поведением подобных профилей железа. Эти профили имеют лишь некоторые особенности на начальных этапах роста и соответствуют формированию аморфных слоев кремния. Полученные данные согласуются с данными просвечивающей электронной микроскопии.
Using in situ single-wave laser ellipsometry method, the formation of the [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100) multilayer structure was studied. Information about the optical and structural properties of this structure was obtained. The change in the morphology of the surface of the growing layers and their optical characteristics are not identical for the cases of iron deposition on the surface of the silicon layer and deposition of silicon on the surface of the iron layer. The refractive index and coefficient of absorption indicate an increase of the thickness of transition layers containing iron-silicon solid solutions and silicides. The nature of the change in the optical constants become more complicated with each subsequent iron layer deposited on the silicon surface. The behavior of n and k profiles corresponding to the formation of silicon layers is simpler than the behavior of similar iron profiles. These profiles have only some features at the initial stages of growth and correspond to the formation of amorphous silicon layers. The obtained data are consistent with the data of transmission electron microscopy.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S. N.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S. M.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.
}
Найти похожие

Оптические и магнитные свойства трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py / Н. Н. Косырев, В. Ю. Яковчук, Г. С. Патрин [и др.] // Письма в Журн. техн. физ. - 2021. - Т. 47, Вып. 3. - С. 7-10, DOI 10.21883/PJTF.2021.03.50566.18429. - Библиогр.: 14. - Исследования проведены при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 18-02-00161-а) . - ISSN 0320-0116
Кл.слова (ненормированные):
обменное взаимодействие -- магнитные пружины -- эллипсометрия -- магнитооптический эффект Керра
Аннотация: Представлены результаты исследования оптических и магнитооптических свойств трехслойных систем DyxCo1-x/Bi/Py (Py - пермаллой). Для изучения температурной зависимости намагниченности использовался магнитооптический эффект Керра, а для измерения оптических показателей преломления и поглощения - метод спектральной эллипсометрии. Показано, что толщина прослойки висмута влияет на обменное взаимодействие между слоями пермаллоя и DyCo, что проявляется в изменении температуры компенсации намагниченности, а также в изменении характера обменного взаимодействия.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Optical and magnetic properties of the DyxCo1-x/Bi/Py trilayers [Текст] / N. N. Kosyrev, V. Y. Yakovchuk, G. S. Patrin [et al.] // Tech. Phys. Lett. - 2021. - Vol. 47 Is. 2.- P.107-110

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Ачинский филиал Красноярского государственного аграрного университета, Ачинск, Россия
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Яковчук, Виктор Юрьевич; Yakovchuk, V. Yu.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Комаров, Василий Андреевич; Komarov V. A.; Волченко, Е. Н.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.
}
Найти похожие

Эллипсометрия структурных наноматериалов / С. В. Рыхлицкий, Е. В. Спесивцев [и др.] // Нанотехнологии функциональных материалов (НФМ-10) : Труды Междунар. науч.-техн. конф., 22-24 сент. 2010 г. - Санкт-Петербург, 2010. - С. 618

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С.В.; Спесивцев, Е.В.; Кручинин, В.Н.; Овчинников, С.Г.; Пышный, Д.В.; Синяков, А.Н.; Пельтек, С.Е.; Нанотехнологии функциональных материалов(2010 ; 22-24 сентября ; Санкт-Петербург); Институт физики твердого тела РАН; Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН; Санкт-Петербургский политехнический университет СПбПУ
}
Найти похожие