Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=эффект Керра<.>)

Общее количество найденных документов : 1

    Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies / O. A. Maximova [et al.] // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P. 223-232 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232. - Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии
Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical ellipsometry -- Kerr effect -- Two-layer model -- Ferromagnetic metal -- Reflection -- Growth control -- магнито-оптическая эллипсометрия -- эффект Керра -- двухслойная модель -- ферромагнетик -- отражение -- контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.
Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation
Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович

}
Найти похожие