Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=CEMS<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Morphology of the asymmetric iron-silicon interfaces / L. Badia-Romano [et al.] // J. Alloys Compd. - 2015. - Vol. 627. - P. 136-145, DOI 10.1016/j.jallcom.2014.12.019. - Cited References:69. - The financial support of the Spanish MINECO MAT2011-23791, the Presidentof Russia Grant (NSh-1044.2012.2), RFFI Grant 13-02-01265, the Ministryof Education and Science of Russian Federation (14.604.21.0002 and02G25.31.0043), Aragonese DGA-IMANA E34 (cofunded by Fondo SocialEuropeo) and that received from the European Union FEDER funds isacknowledged. L.B.R. acknowledges the Spanish MINECO FPU 2010 grant. . - ISSN 0925. - ISSN 1873-4669. -

РУБ Chemistry, Physical + Materials Science, Multidisciplinary + Metallurgy &
Рубрики:
RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY
ELECTRON MOSSBAUER-SPECTROSCOPY
Кл.слова (ненормированные):
Fe/Si nanolayers -- Interfaces -- Fe silicides -- Compositional depth -- HAXPES -- CEMS
Аннотация: A systematic study of the iron–silicon interfaces formed upon preparation of (Fe/Si) multilayers has been performed by combination of modern and powerful techniques. Samples were prepared by thermal evaporation under ultrahigh vacuum onto a Si(1 0 0) substrate. The morphology of these films and their interfaces was studied by a combination of scanning transmission electron microscopy, X-ray reflectivity, angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy and hard X-ray photoelectron spectroscopy. The Si-on-Fe interface thickness and roughness were determined to be 1.4(1) nm and 0.6(1) nm, respectively. Moreover, determination of the stable phases formed at both Fe-on-Si and Si-on-Fe interfaces was performed using conversion electron Mössbauer spectroscopy on multilayers with well separated Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces. It is shown that while a fraction of Fe remains as α-Fe, the rest has reacted with Si, forming the paramagnetic c-Fe1−xSi phase and a ferromagnetic Fe rich silicide (DO3 type phase). We conclude that the paramagnetic c-Fe1−xSi silicide sublayer is identical in both Si-on-Fe and Fe-on-Si interfaces, whereas an asymmetry is revealed in the composition of the ferromagnetic silicide sublayer.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Univ Zaragoza, CSIC, Inst Ciencia Mat Aragon, E-50009 Zaragoza, Spain
Univ Zaragoza, Dept Fis Mat Condensada, E-50009 Zaragoza, Spain
Univ Zaragoza, Dept Ciencia Mat & Ingn Met, E-50018 Zaragoza, Spain
Univ Zaragoza, INA, LMA, E-50018 Zaragoza, Spain
Fdn ARAID, E-50004 Zaragoza, Spain
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Div, Krasnoyarsk 660036, Russia
Siberian Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
ESRF, SpLine Spanish CRG, F-38043 Grenoble, France
CSIC, Inst Ciencia Mat Madrid, Madrid, Spain

Доп.точки доступа:
Badía-Romano, L.; Rubin, J.; Bartolomé, F.; Magen, C.; Bartolome, J.; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Rubio-Zuazo, J.; Castro, G.R.
}
Найти похожие

CEMS analysis of phase formation in nanostructured films (Fe/Si) 3 / S. N. Varnakov [et al.] // Solid State Phenomena. - 2011. - Vol. 168-169. - P. 277-280, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.168-169.277 . - ISSN 1662-9779
Кл.слова (ненормированные):
interfaces metal/semiconductor -- magnetic silicides -- molecular beam epitaxy technology -- semiconductor and magnetic geterostructures
Аннотация: Determination of stable phases formed at the Fe/Si interface in (Fe/Si)n structure, grown by thermal evaporation in an ultrahigh vacuum system was performed using conversion electron Mossbauer spectroscopy (CEMS).

РИНЦ
Держатели документа:
Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Ciencia de Materiales e Ingenieria Metalurgica,CSIC-Universidad de Zaragoza
Instituto de Ciencia de Materiales de Aragon,Departamento de Fisica de la Materia Condensada,CSIC-Universidad de Zaragoza
Kirensky Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences
Siberian Aerospace University

Доп.точки доступа:
Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Bartolomé, J.; Rubin, J.; Badia, L.; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(4 ; 2010 ; Jun.-Jul. ; Ekaterinburg); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(4 ; 2010 ; Jun.-Jul. ; Ekaterinburg)
}
Найти похожие

CEMS analysis of nanostructured films (Fe/Si)3 with Fe57 active layer / S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov, Juan Bartolome [et al.] // Proceedings Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (ASCO-NANOMAT 2011) / Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials (2011 ; Aug. ; 22-29 ; Vladivostok, Russia), Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов (1 ; 2011 ; авг. ; 21-28 ; Владивосток). - 2011

Доп.точки доступа:
Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Bartolome, J.; Rubin, J.; Badfa, L.; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(2011 ; Aug. ; 22-29 ; Vladivostok, Russia); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(1 ; 2011 ; авг. ; 21-28 ; Владивосток)
}
Найти похожие

CEMS analysis of phase formation in nanostructured films (Fe/Si)3 [Text] / S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov [et al.] // IV Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" Nanospintronics (EASTMAG-2010). School for young scientist "Spintronics" : June 28 - Lule 2, 2010"Book of abstracts. - Ekaterinburg, 2010. - P. 201

РИНЦ

Доп.точки доступа:
Varnakov, S.N.; Ovchinnikov, S.G.; Bartolomé, J.; Rubín, J.; Badía, L.; Bondarenko, G.V.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(4 ; 2010 ; Jun.-Jul. ; Ekaterinburg); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(4 ; 2010 ; Jun.-Jul. ; Ekaterinburg); Уральское отделение РАН
}
Найти похожие