Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=AL<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Altunin, R. R.
Structural phase transformations in Al/Pt bilayer thin films during the solid-state reaction / R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov // Phys. Solid State. - 2018. - Vol. 60, Is. 7. - P. 1413-1418, DOI 10.1134/S106378341807003X. - Cited References: 26. - This study was supported by the Russian Foundation for Basic Research, project no. 16-33-00475 mol_a. . - ISSN 1063-7834. - ISSN 1090-6460

РУБ Physics, Condensed Matter
Рубрики:
AL
   SYSTEM
   MULTILAYERS
   ALUMINUM
   HEAT
Аннотация: A sequence of phases forming during the solid-phase reaction in Al/Pt bilayer thin films has been investigated by in situ electron diffraction. It is shown that the amorphous PtAl2 phase forms first during the solid-phase reaction initiated by heating. Upon further heating, PtAl2, Pt2Al3, PtAl, and Pt3Al crystalline phases sequentially form, which is qualitatively consistent with an effective formation heat model. The content of phases forming during the reaction has been quantitatively analyzed and the structural phase transformations have been examined.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Алтунин, Роман Русланович. Структурные фазовые превращения при твердофазной реакции в тонких двухслойных пленках Al/Pt [Текст] / Р. Р. Алтунин, Е. Т. Моисеенко, С. М. Жарков // Физ. тверд. тела. - 2018. - Т. 60 Вып. 7. - С. 1397–1402

Держатели документа:
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Russian Acad Sci, Krasnoyarsk Sci Ctr, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.

Доп.точки доступа:
Moiseenko, E. T.; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Russian Foundation for Basic Research [16-33-00475 mol_a]
}
Найти похожие

Altunin, R. R.
Effect of the structural properties on the electrical resistivity of the Al/Ag thin films during the solid-state reaction / R. R. Altunin, E. T. Moiseenko, S. M. Zharkov // Phys. Solid State. - 2020. - Vol. 62, Is. 4. - P. 708-713, DOI 10.1134/S1063783420040034. - Cited References: 43. - This study was supported by the Russian Science Foundation, project no. 18-13-00080. . - ISSN 1063-7834. - ISSN 1090-6460

РУБ Physics, Condensed Matter
Рубрики:
LIGHT-EMITTING-DIODES
   PHASE-FORMATION
   AG
   AL
   DIFFUSION
   SUPPRESSION
   INTERFACE
   SURFACE
   GROWTH
   HEAT
Кл.слова (ненормированные):
thin films -- phase formation -- Al/Ag -- solid-state reaction; -- electron diffraction -- resistivity
Аннотация: Based on the results of in situ electron diffraction study of the solid-state reaction and electrical resistivity measurements on the Al/Ag thin films with an atomic ratio of Al : Ag = 1 : 3, the temperature of the reaction onset has been established and a model of the structural phase transitions has been proposed. The solid-state reaction begins at 70°C with the formation of the Al–Ag solid solution at the interface between the aluminum and silver nanolayers. It has been found that, in the course of the reaction, the intermetallic compounds γ-Ag2Al → μ-Ag3Al are successively formed. It is shown that the possibility of the formation of the μ‑Ag3Al phase during the solid-state reaction in the Al/Ag thin films depends on the aluminum-to-silver ratio, while the formation of the μ-Ag3Al phase begins only after all fcc aluminum has reacted.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Алтунин Р. Р. Влияние структурных свойств на электросопротивление тонких пленок Al/Ag в процессе твердофазной реакции [Текст] / Р. Р. Алтунин, Е. Т. Моисеенко, С. М. Жарков // Физ. тверд. тела. - 2020. - Т. 62 Вып. 4. - С. 621-626

Держатели документа:
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk Sci Ctr, Krasnoyarsk 660036, Russia.

Доп.точки доступа:
Moiseenko, E. T.; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Russian Science FoundationRussian Science Foundation (RSF) [18-13-00080]
}
Найти похожие