Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Kosyrev, N. N.$<.>)

Общее количество найденных документов : 111
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films [Текст] / S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - С. 105 . - ISBN 978-5-7444-3124-2

Доп.точки доступа:
Lvaschenko, S. A.; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Latyshev, A. V.; Латышев А.В.; Saranin, A. A.; Саранин А.А.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)
}
Найти похожие

In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers / S. A. Lyashchenko [et al.] // Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P. 1529-1532, DOI 10.1134/S1063784213100162 . - ISSN 1063-7842
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.

Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами [Текст] / С. А. Лященко [и др.] // Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83 Вып. 10. - С. 139-142

Держатели документа:
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
Russian Acad Sci, Siberian Branch, Rzhanov Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhlitskii, S. V.
}
Найти похожие

In-situ and in-time spectral magneto-ellipsometer : Abstract / V. N. Zabluda [et al.] ; Taurida National V. I. Vernadsky University // Functional materials : Abstracts / ed. V. N. Berzhansky. - Simferopol, 2013. - Ст. EP2-12P/3. - P. 480 . - ISBN 978-966-491-465-6

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Berzhansky, V. N. \ed.\; Бержанский, Владимир Наумович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Rishlicky, S. V.; Shvets, V. A.; Taurida National V. I. Vernadsky University; "Functional Materials", International Conference(2013 ; 29 Sept.-5 Oct. ; Partenit, Yalta; Ukraine Crimea)
}
Найти похожие

Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry : abstract book. - 2012. - P. . - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashenko, S. A.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Workshop Ellipsometry (7 ; 2012 ; март ; 5-7 ; Leipzig, Germany)
}
Найти похожие

Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013) : Conf. programm and abstr. - 2013. - P. 205

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhkitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6 ; 2013 ; May ; 26-31 ; Kyoto, Japan)
}
Найти похожие

Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур / О. А. Максимова [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 221-222 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Максимова, Ольга Александровна; Maximova, O. A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S.N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko S. A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers / V. N. Zabluda [et al.] // Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P. 03AET11

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhlitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; International conference nanomaterials: applications and properties(2013 ; Sept. 16-21 ; Crimea, Ukraine)
}
Найти похожие

Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis / I. A. Tarasov [и др.] // Donostia Int. Conf. on Nanoscaled Magnetism and Applications : Abstracts book. - 2013. - Ст. P1-27. - P. 260

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications (9 -13 Sept. 2013 ; San Sebastian, Spain)
}
Найти похожие

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н. Н. Косырев [и др.] // Журн. техн. физ. - 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers [Текст] / N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59 Is. 5.- P.736-739

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.
}
Найти похожие

10.

Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. - 2012. - Vol. 57, Is. 9. - P. 1225-1229, DOI 10.1134/S1063784212090241. - Cited References: 18. - This work was supported by Integration Project no. 22 of the Siberian and Far East Branches, Russian Academy of Sciences; a program of the Presidium of the Russian Academy of Sciences (project no. 27), the Federal Target Program "Human Capital for Science and Education in Innovative Russia" for 2009-2013, and the program "Spintronics" (project no. 4) of the Department of Physical Sciences, Russian Academy of Sciences. . - ISSN 1063-7842

РУБ Physics, Applied

Аннотация: An algorithm is developed to perform rapid control of the thickness and optical constants of a film structure during growth. This algorithm is tested on Fe/SiO2/Si(100) structures grown in an Angara molecular-beam epitaxy setup. The film thicknesses determined during their growth are compared with X-ray spectral fluorescence analysis and transmission electron microscopy data.

Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) [Текст] / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. : Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82 Вып. 9. - С. 44-48

Держатели документа:
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.
Ovchinnikov, S. G.
Zharkov, S. M.
Bondarenko, G.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Kirenskii Inst Phys, Krasnoyarsk 660036, Russia
[Tarasov, I. A.
Kosyrev, N. N.
Varnakov, S. N.] Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
[Shvets, V. A.
Tereshchenko, O. E.] Russian Acad Sci, Siberian Branch, Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
[Zharkov, S. M.] Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia
[Shvets, V. A.] Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Shvets, V. A.; Bondarenko, S. G.; Tereshchenko, O. E.
}
Найти похожие