1. ![](http://irbiscorp.spsl.nsc.ru/webirbis-htdocs/images/printer.jpg)
|
Спектроскопия характеристических потерь энергии отраженных электронов в тонких пленках системы Fe[x]Si[1-x] / А. С. Паршин [и др.]> // Письма в журн. техн. физ. - 2008. - Т. 34, Вып. 9. - С. 41-48. - Библиогр.: 14 назв. - Работа выполнена в рамках комплексного интеграционного проекта СО РАН 3.5, программы ОФН РАН „Спинтроника“, при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 07-03-00320), ФЦП по лоту 2007-3-1.3-24-01-286
. - ISSN 0320-0116 Аннотация: Из экспериментальных спектров характеристич. потерь энергии отраженных электронов в тонких пленках системы Fe[x]Si[1-x] (0'
Смотреть статью, РИНЦ, Читать в сети ИФ Переводная версия Reflection electron-energy-loss spectroscopy of FexSi1-x thin films [Текст] / A. S. Parshin [et al.] // Tech. Phys. Lett. : MAIK NAUKA/INTERPERIODICA/SPRINGER, 2008. - Vol. 34 Is. 5.- P381-383
Держатели документа: Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН Доп.точки доступа: Паршин, Анатолий Сергеевич; Parshin A.S.; Александрова, Галина Алексеевна; Aleksandrova, G. A.; Долбак, А.Е.; Пчеляков, О. П.; Pchelyakov O. P.; Ольшанецкий, Б.З.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Кущенков, С. А.; Kuschenkov S. A. } Найти похожие
|