Перевод заглавия: Анализ погрешностей измерения критической длины волны для оптических волокон
ГРНТИ | |
УДК |
Рубрики:
ОПТИЧЕСКИЕ ВОЛОКНА
КРИТИЧЕСКАЯ ДЛИНА ВОЛНЫ
СТАНДАРТИЗАЦИЯ РАДИУСА ИЗГИБА
СТАНДАРТИЗАЦИЯ НАТЯЖЕНИЯ
РЕЖИМ "ШЕПЧУЩЕЙ ГАЛЛЕРЕИ"
СОГЛАСОВАНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ
ОПТИЧЕСКИЕ ВОЛОКНА
КРИТИЧЕСКАЯ ДЛИНА ВОЛНЫ
СТАНДАРТИЗАЦИЯ РАДИУСА ИЗГИБА
СТАНДАРТИЗАЦИЯ НАТЯЖЕНИЯ
РЕЖИМ "ШЕПЧУЩЕЙ ГАЛЛЕРЕИ"
СОГЛАСОВАНИЕ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ
Аннотация: Описаны способы повышения точности измерения критической длины волны для оптических волокон. Один из них заключается в том, что измерения проводятся для волокон, намотанных с установленной величиной натяжения на шпулях станд. диаметра. При этом удается уменьшить ошибку измерения, достигающую в обычных условиях 10 нм, до уровня 'ЭКВИВ'1 нм. Анализируются причины распространения излучения в режиме "шепчущей галлереи" в оптических волокнах, имеющих защитные покрытия из акриловой смолы. Установлено, что часть энергии излучения моды LP[11] за счет полного внутреннего отражения на поверхности раздела оболочки и защитного покрытия вновь вводится в оболочку. Ил. 1. Табл. 2. Библ. 4