Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИЯФ (пополняемая)- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Препринты (7)Электронный каталог книг и продолжающихся изданий (2)База ученого секретаря (12)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=EXAFS<.>)
Общее количество найденных документов : 43
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-43 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Деев А.Н., Гильмутдинов Ф.З., Быстров С.Г., Пивоварова О.И., Романов Э.А., Кривенцов В.В., Шарафутдинов М.Р., Елисеев А.А.
Заглавие : Локальная атомная структура пленок селенида цинка по данным EXAFS спектроскопии
Место публикации : Журнал структурной химии. - 2008. - Т. 49, № 7: Рентгеновская и рентгеноэлектронная спектроскопия. - С.S125-S129
Примечания : Библиогр.: 14 назв.
Перейти к внешнему ресурсу: Сайт журнала,
Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Эренбург С.Б., Трубина С.В., Зверева В.В., Зиновьев В.А., Двуреченский А.В., Кучинская П.А., Квашнина К.А.
Заглавие : Микроструктура многослойных гетеросистем, содержащих молекулы из квантовых точек Ge в Si, на этапах их зарождения и роста по EXAFS спектрам
Место публикации : Журнал структурной химии. - 2016. - Т. 57, № 7: Применение синхротронного излучения в структурной химии. - С.1485-1495. - DOI 10.15372/JSC20160715. - DOI 10.15372/JSC20160715
Примечания : Библиогр.: 28 назв.
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Коваленко Н.В., Купер К.Э., Легкодымов А.А., Мытниченко С.В., Пиндюрин В.Ф., Чернов В.А.
Заглавие : Применение многослойного двухзеркального монохроматора синхротронного излучения для EXAFS-спектроскопии соединений фтора
Коллективы : Рентгеновская оптика (19-22 февраля 2001; Нижний Новгород)
Место публикации : Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2002. - № 1: Материалы рабочего совещания "Рентгеновская оптика - 2001", 19-22 февраля 2001 г., Нижний Новгород. - С.63-66
Примечания : Библиогр.: 2 назв.
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Гильмутдинов Ф.З., Романов Э.А., Деев А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А., Чукавин А.И.
Заглавие : Исследование атомной структуры тонких нанокомпозитных пленок ZnS методом EXAFS спектроскопии
Место публикации : Журнал структурной химии. - 2011. - Т. 52, № 7: Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь. - С.S184-S188
Примечания : Библиогр.: 14 назв.
Перейти к внешнему ресурсу: Сайт журнала,
Перейти к внешнему ресурсу: Полный текст,
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А.
Заглавие : Сравнительное EXAFS исследование полупроводниковых нанокомпозитов различной природы на основе ZnS и ZnSe
Коллективы : Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (2; 21-25 октября 2013; Новосибирск)
Место публикации : 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. - Новосибирск: Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013. - С267
Перейти к внешнему ресурсу: Сборник тезисов докладов
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А.
Заглавие : Использование метода EXAFS-спектроскопии для структурных исследований полупроводниковых наночастиц в матрицах пористого Al₂O₃
Коллективы : Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" (2; 21-25 октября 2013; Новосибирск)
Место публикации : 2-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов" МИССФМ-2013, Новосибирск, 21-25 октября 2013 г. : сборник тезисов докладов. - Новосибирск: Ин-т катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, 2013. - С268
Перейти к внешнему ресурсу: Сборник тезисов докладов
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А.
Заглавие : EXAFS-исследование перспективного полупроводникового материала Ga₂Se₃
Коллективы : Национальная конференция по использованию синхротронного излучения (19; 25–28 июня 2012; Новосибирск), Всероссийская молодежная конференция "Использование синхротронного излучения" (25-28 июня 2012; Новосибирск)
Место публикации : Известия Российской Академии Наук. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9: Материалы XIX Национальной конференции по использованию синхротронного излучения "СИ-2012" и Всероссийской молодежной конференции "Использование синхротронного излучения". - С1320-1322. - DOI 10.7868/S0367676513090494. - DOI 10.7868/S0367676513090494
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А.
Заглавие : Применение метода EXAFS-спектроскопии для определения локальной структуры полупроводниковых наночастиц, стабилизированных в диэлектрических матрицах
Коллективы : Национальная конференция по использованию синхротронного излучения (20; 7-10 июля 2014; Новосибирск)
Место публикации : ХХ Национальная конференция по использованию Синхротронного Излучения "СИ-2014", 7-10 июля 2014 г., Новосибирск : книга тезисов. - Новосибирск: ИЯФ им. Г. И. Будкера СО РАН, 2014. - С106
Перейти к внешнему ресурсу: Книга тезисов
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из сборника (том многотомника)
Шифр издания :
Автор(ы) : Кривенцов В.В.
Заглавие : Исследование наноразмерных систем сложного состава методом XAFS на станции EXAFS спектроскопии в ЦКП "СЦСТИ"
Коллективы : Конференция молодых ученых "КоМУ-2020" (12; 15 октября 2020; Ижевск), Международный научно-практический форум "100-летие государственности Удмуртии: исторические вехи и перспективы развития" (15 октября 2020; Ижевск)
Место публикации : XII Конференция молодых ученых "КоМУ-2020" : сборник статей по материалам Международного научно-практического форума "100-летие государственности Удмуртии: исторические вехи и перспективы развития", Ижевск, 15 октября 2020 г. - Ижевск: УдмФИЦ УрО РАН, 2020. - Т. 2, Ч. 2. - С.9-10
Перейти к внешнему ресурсу: Материалы конференции,
Перейти к внешнему ресурсу: РИНЦ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Trebushinin A., Serkez S., Veremchuk M., Rakshun I., Geloni G.
Заглавие : A step-wise tapered undulator for the quick-EXAFS beamline at the Siberian circular photon source
Коллективы : Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application (13-16 July 2020; Novosibirsk)
Место публикации : Synchrotron and Free electron laser Radiation: generation and application (SFR-2020), 13-16 July 2020, Budker INP, Novosibirsk : book of abstracts. - Novosibirsk: BINP SB RAS, 2020. - P.38
Перейти к внешнему ресурсу: Abstracts
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-43 
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)