Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Андрющенко, Татьяна Александровна$<.>)

Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-13

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2022612585!-731567798
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Андрющенко, Татьяна Александровна
Заглавие : Система PLD синтеза тонких плёнок MAX-фаз (MAX PLD) .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2022. - № 3
Аннотация: Программа предназначена для расчёта числа лазерных импульсов, с помощью которых производится распыление материала мишеней в ходе синтеза тонких плёнок MAX-фаз методом импульсного лазерного напыления (PLD). Посредством выбора компонентов, входящих в состав ожидаемой MAX-фазы, ввода параметров тонкой пленки и экспериментально определенных скоростей осаждения каждого компонента, рассчитывается число импульсов для каждой мишени на основе стехиометрических соотношений. Выполняется округление числа импульсов до целого значения, и рассчитывается отклонение от стехиометрии фазы. Использование программы позволяет облегчить процесс определения технологических параметров в ходе синтеза MAX-фаз методом импульсного лазерного осаждения. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК; ОС: Windows 8, 10.
Смотреть свидетельство,
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Igumenov A. Yu., Andryushchenko T. A.
Заглавие : Different approaches for SiO2 inelastic electron scattering cross section spectra dissolving
Коллективы : Reshetnev Readings 2019
Место публикации : IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. - 2022. - Vol. 1230: Reshetnev Readings 2019 11th-15th November 2019, Krasnoyarsk, Russian Federation. - Ст.012007. - ISSN 17578981 (ISSN), DOI 10.1088/1757-899X/1230/1/012007. - ISSN 1757899X (eISSN)
Примечания : Cited References: 14. - The authors express gratitude to Parshin A.S. for assignation the SiO2 Kλ-spectra
Аннотация: Inelastic electron scattering cross section spectra (Kλ-spectra) of SiO2 were dissolved into bulk-loss and surface-loss components using factor analysis and Tougaard functions approximation. Primary electron energy dependences of various components intensities were received. It was shown that joint using of factor analysis and Tougaard functions approximation allows receiving more reliable results in inelastic electron scattering cross section spectra studies.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Андрющенко, Татьяна Александровна
Заглавие : Синтез тонких плёнок хром- и марганецсодержащих МАХ-фаз
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Институт биофизики Сибирского отделения РАН, Институт химии и химической технологии Сибирского отделения РАН, Институт вычислительного моделирования Сибирского отделения РАН, Институт леса им. В. Н. Сукачева Сибирского отделения РАН, Научно-исследовательский институт медицинских проблем Севера, Междисциплинарная конференция молодых ученых ФИЦ КНЦ СО РАН
Место публикации : Тезисы докладов Междисциплинарной конференции молодых ученых ФИЦ КНЦ СО РАН (КМУ-XXVI). - Красноярск: ИФ СО РАН, 2023. - Секция "Физика". - С. 13. - ISBN 978-5-6045250-7-4
Примечания : Библиогр.: 3. - РНФ проект № 21-12-00226, http://rscf.ru/project/21-12-00226
Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Андрющенко, Татьяна Александровна, Лященко, Сергей Александрович, Лукьяненко, Анна Витальевна, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оже-электронная спектроскопия поверхности MAX-пленок (Cr0.5Mn0.5)2GaC, окисленной в результате хранения на воздухе
Место публикации : Письма в ЖТФ. - 2023. - Т. 49, Вып. 14. - С. 22-27. - ISSN 17267471 (eISSN), DOI 10.21883/PJTF.2023.14.55821.19430. - ISSN 03200116 (ISSN)
Примечания : Библиогр.: 16. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда N 21-12-00226 (http://rscf.ru/project/21-12-00226/)
Аннотация: Методом оже-электронной спектроскопии в совокупности с ионным травлением проведен анализ химического связывания атмосферного кислорода с хромом и марганцем на поверхности эпитаксиальной MAX-фазы (Cr0.5Mn0.5)2GaC. Обнаружено, что для данной системы характерно анизотропное окисление, при котором атомы кислорода связываются с атомами хрома и марганца активнее на краях кристаллитов слоистой MAX-фазы в отличие от базальной плоскости (0001). При этом на последней наблюдается доминирование химической связи Mn–O над связью Cr–O.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov A. S., Lyashchenko S. A., Rautskii M. V., Lukyanenko A. V., Andryushchenko T. A., Solovyov, Leonid A., Yakovlev I. A., Maximova O. A., Shevtsov D. V., Bondarev M. A., Bondarev I. A., Ovchinnikov S. G., Varnakov S. N.
Заглавие : Growth process, structure and electronic properties of Cr2GeC and Cr2-xMnxGeC thin films prepared by magnetron sputtering
Колич.характеристики :12 с
Место публикации : Processes. - 2023. - Vol. 11, Is. 8. - Ст.2236. - ISSN 22279717 (eISSN), DOI 10.3390/pr11082236
Примечания : Cited References: 43. - This study was supported by the Russian Science Foundation, project no. 21-12-00226The authors thank the laboratory of the Magnetic MAX Materials created under the Megagrant project (agreement no. 075-15-2019-1886) for providing experimental equipment and the Collective Use Center at the Krasnoyarsk Scientific Center (Siberian Division, Russian Academy of Sciences) for assistance
Аннотация: The growth and phase formation features, along with the influence of structure and morphology on the electronic, optical, and transport properties of Cr2GeC and Cr2-xMnxGeC MAX phase thin films synthesized by magnetron sputtering technique, were studied. It was found that the Cr:Ge:C atomic ratios most likely play the main role in the formation of a thin film of the MAX phase. A slight excess of carbon and manganese doping significantly improved the phase composition of the films. Cr2GeC films with a thicknesses exceeding 40 nm consisted of crystallites with well-developed facets, exhibiting metallic optical and transport properties. The hopping conduction observed in the Cr2-xMnxGeC film could be attributed to the columnar form of crystallites. Calculations based on a two-band model indicated high carrier concentrations N, P and mobility μ in the best-synthesized Cr2GeC film, suggesting transport properties close to single crystal material. The findings of this study can be utilized to enhance the growth technology of MAX phase thin films.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Жандун, Вячеслав Сергеевич, Андрющенко, Татьяна Александровна, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Максимова, Ольга Александровна, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Анализ электронной структуры поверхности эпитаксиальной max-фазы (Cr0,5Mn0,5)2GaC методом спектральной эллипсометрии
Коллективы : Байкальская международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет
Место публикации : Магнитные материалы. Новые технологии: тез. докл. IX Байкал. междунар. конф. BICMM-2023/ чл. прогр. ком.: S. S. Aplesnin [et al.] ; чл. орг. ком. R. S. Iskhakov [et al.]. - Иркутск, 2023. - С. 165-166. - ISBN 978-5-962402178-0, DOI 10.26516/978-5-9624-2178-0.2023.1-207
Примечания : Библиогр.: 4
Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Андрющенко, Татьяна Александровна, Лященко, Сергей Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Яковлев, Иван Александрович, Максимова, Ольга Александровна
Заглавие : Автоматизация системы импульсного лазерного напыления тонких пленок max-фаз
Коллективы : Байкальская международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет
Место публикации : Магнитные материалы. Новые технологии: тез. докл. IX Байкал. междунар. конф. BICMM-2023/ чл. прогр. ком.: S. S. Aplesnin [et al.] ; чл. орг. ком. R. S. Iskhakov [et al.]. - Иркутск, 2023. - С. 104-105. - ISBN 978-5-962402178-0, DOI 10.26516/978-5-9624-2178-0.2023.1-207
Примечания : Библиогр.: 4
Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2023611340!-885956784
Автор(ы) : Андрющенко, Татьяна Александровна, Лященко, Сергей Александрович
Заглавие : Программа расчета мощностей магнетронов для управляемого синтеза MAX-пленок .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2023. - № 1
Аннотация: Программа предназначена для расчёта мощностей магнетронных испарителей в составе сверхвысоковакуумного оборудования для синтеза тонких плёнок заданного стехиометрического состава и толщины. Позволяет задавать стехиометрию плёнок на основе функций скорости распыления материала мишеней от мощности магнетрона, определённых на этапах калибровки каждого отдельного источника, и задания ожидаемого состава получаемых структур. Программа позволяет определять оптимальные технологические параметры синтеза четырехкомпонентных МАХ-фаз заданной толщины с заданной скоростью магнетронного соосаждения и также может быть использована для получения структур отличного от МАХ-фаз стехиометрического состава. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК. ОС: Windows 7, 8, 10. Язык программирования: Delphi/Object Pascal Объем программы для ЭВМ: 1,9 МБ
Смотреть свидетельство,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Andryushchenko T. A., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Lukyanenko A. V., Nemtsev I. V., Yakovlev I. A., Shevtsov D. V., Maximova O. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Auger electron spectroscopy of thin Cr2GeC films
Колич.характеристики :7 с
Место публикации : Phys. Met. Metallogr. - 2023. - Vol. 124, Is. 14. - P.1776-1782. - ISSN 0031918X (ISSN), DOI 10.1134/S0031918X2360135X. - ISSN 15556190 (eISSN)
Примечания : Cited References: 33. - The research was supported by the Russian Science Foundation (grant no. 21-12-00226, http://rscf.ru/project/21-12-00226/)
Аннотация: Auger electron spectroscopy was used to determine the phase composition of Cr2GeC MAX phase thin films. A distinctive feature of the formation of carbon-containing MAX phases is the shape of carbon Auger peaks, which is characteristic of metal carbides spectra. Features of the Auger spectra in the presence of secondary phases of chromium germanides are found. Their presence can manifest itself in an increase in the energy of the germanium peaks, which is caused by a chemical shift during the formation of the Cr–Ge bond. Moreover, we have detected the accumulation of electronic charge, which can be explained by the features of the surface morphology.
Смотреть статью,
Scopus,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Yakovlev I. A., Shevtsov D. V., Andryushchenko T. A.
Заглавие : Magneto-optical ellipsometry of thin films with optical uniaxial anisotropy
Колич.характеристики :8 с
Место публикации : Phys. Met. Metallogr. - 2023. - Vol. 124, Is. 14. - P.1654-1661. - ISSN 0031918X (ISSN), DOI 10.1134/S0031918X23601385. - ISSN 15556190 (eISSN)
Примечания : Cited References: 31. - The research was performed at the Magnetic MAX Materials Laboratory of the Kirensky Institute of Physics SB RAS (created under Megagrant project (agreement no. 075-15-2019-1886) with the financial support of the Russian Science Foundation no. 21-12-00226, http://rscf.ru/project/21-12-00226/
Аннотация: In this paper, we solve the inverse problem of magneto-optical ellipsometry for thin ferromagnetic films with optical uniaxial anisotropy. We work within the framework of the approach we developed earlier analyzing magnetoellipsometric data without using fourth-order M-matrices. We work with ellipsometric relations, in which we take into account the magneto-optical contribution as perturbations, and ellipsometric measurements are carried out on a setup with a simple dipole scheme based on the transverse magneto-optical Kerr effect. We add the magneto-optical response to the expressions known in the literature for the reflection coefficients of anisotropic thin films, which are related to the parameters measured by magneto-optical ellipsometry. As a result, by analyzing the obtained expressions for the reflection coefficients, we obtain information on the total permittivity tensor of a thin film.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS
Найти похожие